স্ক্যানিং প্রোব মাইক্রোস্কোপের নীতি ও কাঠামো
স্ক্যানিং প্রোব অণুবীক্ষণ যন্ত্রের মূল কাজের নীতি হল নমুনার পৃষ্ঠে প্রোব এবং পারমাণবিক অণুর মধ্যে মিথস্ক্রিয়াকে ব্যবহার করা, অর্থাৎ, প্রোব এবং নমুনা পৃষ্ঠ যখন ন্যানোস্কেলের কাছে আসে তখন বিভিন্ন মিথস্ক্রিয়া দ্বারা গঠিত ভৌত ক্ষেত্রগুলিকে ব্যবহার করা এবং সংশ্লিষ্ট ভৌত পরিমাণগুলি সনাক্ত করে নমুনার পৃষ্ঠের আকারবিদ্যা প্রাপ্ত করা। স্ক্যানিং প্রোব মাইক্রোস্কোপ পাঁচটি অংশ নিয়ে গঠিত: প্রোব, স্ক্যানার, ডিসপ্লেসমেন্ট সেন্সর, কন্ট্রোলার, ডিটেকশন সিস্টেম এবং ইমেজিং সিস্টেম।
নমুনাটিকে একটি উল্লম্ব দিকে সরানোর জন্য নিয়ামক একটি স্ক্যানার ব্যবহার করে একটি নির্দিষ্ট মানের প্রোব এবং নমুনার মধ্যে দূরত্ব (বা মিথস্ক্রিয়ার শারীরিক পরিমাণ) স্থিতিশীল করতে; একই সাথে নমুনাটিকে x-y অনুভূমিক সমতলে নিয়ে যান যাতে প্রোবটি স্ক্যানিং পথ বরাবর নমুনার পৃষ্ঠ স্ক্যান করে। স্ক্যানিং প্রোব মাইক্রোস্কোপ প্রোব এবং নমুনার মধ্যে একটি স্থিতিশীল দূরত্ব বজায় রেখে সনাক্তকরণ সিস্টেমে প্রোব এবং নমুনার মধ্যে মিথস্ক্রিয়া সম্পর্কিত শারীরিক পরিমাণের সংকেত সনাক্ত করে; শারীরিক পরিমাণের স্থিতিশীল মিথস্ক্রিয়া ক্ষেত্রে, প্রোব এবং নমুনার মধ্যে দূরত্ব উল্লম্ব দিকে একটি স্থানচ্যুতি সেন্সর দ্বারা সনাক্ত করা হয়। ইমেজিং সিস্টেম সনাক্তকরণ সংকেত (বা প্রোব এবং নমুনার মধ্যে দূরত্ব) এর উপর ভিত্তি করে নমুনার পৃষ্ঠে চিত্র প্রক্রিয়াকরণ করে।
স্ক্যানিং প্রোব মাইক্রোস্কোপগুলি ব্যবহৃত প্রোব এবং নমুনার মধ্যে মিথস্ক্রিয়ার বিভিন্ন শারীরিক ক্ষেত্রগুলির উপর ভিত্তি করে মাইক্রোস্কোপের বিভিন্ন সিরিজে বিভক্ত। স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপ (STM) এবং পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ (AFM) হল দুটি সাধারণভাবে ব্যবহৃত স্ক্যানিং প্রোব মাইক্রোস্কোপ। স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপ প্রোব এবং পরীক্ষা করা নমুনার মধ্যে টানেলিং কারেন্টের মাত্রা পরিমাপ করে একটি নমুনার পৃষ্ঠের গঠন সনাক্ত করে। পারমাণবিক বল মাইক্রোস্কোপি একটি ফটোইলেক্ট্রিক ডিসপ্লেসমেন্ট সেন্সর ব্যবহার করে সূঁচের ডগা এবং নমুনার মধ্যে মিথস্ক্রিয়া বলের কারণে সৃষ্ট মাইক্রো ক্যান্টিলিভার বিকৃতি সনাক্ত করতে (যা আকর্ষণীয় বা বিকর্ষণীয় হতে পারে) নমুনার পৃষ্ঠ সনাক্ত করতে পারে।
