স্ক্যানিং প্রোব মাইক্রোস্কোপের বৈশিষ্ট্য
স্ক্যানিং প্রোব মাইক্রোস্কোপ বিভিন্ন নতুন প্রোব মাইক্রোস্কোপ (পারমাণবিক বল মাইক্রোস্কোপ, ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ, ম্যাগনেটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ, স্ক্যানিং আয়ন পরিবাহিতা মাইক্রোস্কোপ, স্ক্যানিং ইলেক্ট্রোকেমিক্যাল মাইক্রোস্কোপ ইত্যাদি) স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপের ভিত্তিতে তৈরি করা একটি সাধারণ শব্দ। এটি সাম্প্রতিক বছরগুলিতে আন্তর্জাতিকভাবে বিকশিত একটি পৃষ্ঠ বিশ্লেষণ যন্ত্র।
স্ক্যানিং প্রোব মাইক্রোস্কোপ হল তৃতীয় ধরনের মাইক্রোস্কোপ যা পারমাণবিক স্কেলে বস্তুগত কাঠামো পর্যবেক্ষণ করে, ফিল্ড আয়ন মাইক্রোস্কোপি এবং উচ্চ- রেজোলিউশন ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি অনুসরণ করে। উদাহরণ হিসাবে স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপ (STM) নিলে, এর পার্শ্বীয় রেজোলিউশন হল 0.1~0.2nm, এবং এর অনুদৈর্ঘ্য গভীরতার রেজোলিউশন হল 0.01nm। এই জাতীয় রেজোলিউশন স্পষ্টভাবে নমুনার পৃষ্ঠে বিতরণ করা পৃথক পরমাণু বা অণুগুলি পর্যবেক্ষণ করতে পারে। এদিকে, স্ক্যানিং প্রোব মাইক্রোস্কোপগুলি বায়ু, অন্যান্য গ্যাস বা তরল পরিবেশে পর্যবেক্ষণ এবং গবেষণার জন্যও ব্যবহার করা যেতে পারে।
স্ক্যানিং প্রোব মাইক্রোস্কোপের বৈশিষ্ট্য রয়েছে যেমন পারমাণবিক রেজোলিউশন, পারমাণবিক পরিবহন এবং ন্যানো মাইক্রোফ্যাব্রিকেশন। যাইহোক, বিভিন্ন স্ক্যানিং মাইক্রোস্কোপের বিভিন্ন কাজের নীতির কারণে, তাদের ফলাফল দ্বারা প্রতিফলিত নমুনার পৃষ্ঠের তথ্য খুব আলাদা। স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপ পারমাণবিক স্তরের রেজোলিউশন সহ নমুনার পৃষ্ঠের ইলেক্ট্রন বিতরণ তথ্য পরিমাপ করে কিন্তু এখনও নমুনার প্রকৃত গঠন পেতে অক্ষম। পারমাণবিক মাইক্রোস্কোপি পরমাণুর মধ্যে মিথস্ক্রিয়া তথ্য সনাক্ত করে, এইভাবে নমুনার পৃষ্ঠে পারমাণবিক বিতরণের বিন্যাস তথ্য পাওয়া যায়, যা নমুনার প্রকৃত গঠন। অন্যদিকে, পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপি ইলেকট্রনিক অবস্থার তথ্য পরিমাপ করতে পারে না যা তত্ত্বের সাথে তুলনা করা যেতে পারে, তাই উভয়েরই নিজস্ব শক্তি এবং দুর্বলতা রয়েছে।
