একটি পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ কি?
অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি: একটি নতুন পরীক্ষামূলক কৌশল যা একটি বস্তুর পৃষ্ঠে মাইক্রোস্কোপিক বৈশিষ্ট্যগুলি পর্যবেক্ষণ করতে পরমাণু এবং অণুর মধ্যে মিথস্ক্রিয়া শক্তি ব্যবহার করে। এটি একটি সংবেদনশীলভাবে ম্যানিপুলেটেড মাইক্রন-আকারের নমনীয় ক্যান্টিলিভারে স্থির একটি ন্যানোমিটার-আকারের প্রোব নিয়ে গঠিত। যখন প্রোবটি নমুনার খুব কাছাকাছি থাকে, তখন তার ডগায় থাকা পরমাণু এবং নমুনার পৃষ্ঠের পরমাণুর মধ্যেকার শক্তির কারণে ক্যান্টিলিভার তার আসল অবস্থান থেকে দূরে সরে যায়। নমুনাটি স্ক্যান করার সময় প্রোবের কম্পনের বিচ্যুতি বা ফ্রিকোয়েন্সি থেকে একটি ত্রিমাত্রিক চিত্র পুনর্গঠন করা হয়। নমুনা পৃষ্ঠের টপোগ্রাফি বা পারমাণবিক গঠন পরোক্ষভাবে পাওয়া সম্ভব।
এটি পরিমাপ করা নমুনার পৃষ্ঠ এবং একটি ক্ষুদ্র বল-সংবেদনশীল উপাদানের মধ্যে অত্যন্ত দুর্বল আন্তঃপরমাণু মিথস্ক্রিয়া শক্তি সনাক্ত করে পদার্থের পৃষ্ঠের গঠন এবং বৈশিষ্ট্যগুলি অধ্যয়ন করতে ব্যবহৃত হয়। এক জোড়া মাইক্রো-ক্যান্টিলিভার, যা দুর্বল শক্তির প্রতি অত্যন্ত সংবেদনশীল, এক প্রান্তে স্থির করা হয় এবং অন্য প্রান্তে একটি ছোট টিপ নমুনার কাছাকাছি আনা হয়, যা পরে এটির সাথে মিথস্ক্রিয়া করে এবং এই শক্তিগুলি মাইক্রো-ক্যান্টিলিভারের সৃষ্টি করে। তাদের গতির অবস্থা বিকৃত বা পরিবর্তন করতে।
নমুনা স্ক্যান করার সময়, সেন্সর এই পরিবর্তনগুলি সনাক্ত করে এবং বাহিনীর বিতরণের তথ্য পায়, এইভাবে ন্যানোস্কেল রেজোলিউশনের সাথে পৃষ্ঠের কাঠামোর উপর তথ্য প্রাপ্ত হয়। এটিতে একটি সুই টিপ সহ একটি মাইক্রোক্যান্টিলিভার, একটি মাইক্রোক্যান্টিলিভার গতি সনাক্তকরণ ডিভাইস, এর গতি নিরীক্ষণের জন্য একটি প্রতিক্রিয়া লুপ, নমুনা স্ক্যান করার জন্য একটি পাইজোইলেকট্রিক সিরামিক স্ক্যানিং ডিভাইস এবং একটি কম্পিউটার-নিয়ন্ত্রিত চিত্র অধিগ্রহণ, প্রদর্শন এবং প্রক্রিয়াকরণ সিস্টেম রয়েছে। মাইক্রোক্যান্টিলিভার গতি বৈদ্যুতিক পদ্ধতি দ্বারা সনাক্ত করা যেতে পারে যেমন টানেল কারেন্ট সনাক্তকরণ বা অপটিক্যাল পদ্ধতি যেমন বিম ডিফ্লেকশন এবং ইন্টারফেরোমেট্রি ইত্যাদি। তাদের, বিকর্ষণ সনাক্ত করা যেতে পারে চিত্রের রেজোলিউশনের পারমাণবিক স্তরের পৃষ্ঠ, এবং সাধারণভাবে ন্যানোমিটার স্তরের রেজোলিউশন। নমুনার AFM পরিমাপের কোন বিশেষ প্রয়োজনীয়তা নেই, এবং কঠিন পদার্থের পৃষ্ঠ পরিমাপ করতে ব্যবহার করা যেতে পারে। এবং শোষণ সিস্টেম।
