মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপের জন্য কোন পরিদর্শন কৌশল পাওয়া যায়?
Ⅰ উজ্জ্বল ক্ষেত্র পর্যবেক্ষণ
ব্রাইট ফিল্ড মাইক্রোস্কোপি হল একটি বহুল পরিচিত পরিদর্শন পদ্ধতি, যা সাধারণত প্যাথলজি এবং পরীক্ষায় দাগযুক্ত অংশগুলি পর্যবেক্ষণ করার জন্য প্রয়োগ করা হয়। এই ফাংশনটি সমস্ত অণুবীক্ষণ যন্ত্র দ্বারা উপলব্ধি করা যেতে পারে, তাই এটি এখানে আরও বিশদ করা হবে না।
Ⅱ অন্ধকার ক্ষেত্র পর্যবেক্ষণ
অন্ধকার ক্ষেত্র পর্যবেক্ষণ অন্ধকার-স্থল আলোকসজ্জা গ্রহণ করে। এটি উজ্জ্বল ক্ষেত্রের পর্যবেক্ষণ থেকে ব্যাপকভাবে পৃথক। মেটালোগ্রাফিক অণুবীক্ষণ যন্ত্রে, আলোকিত আলো নিজেই সরাসরি দেখা যায় না; পরিবর্তে, নমুনা থেকে প্রতিফলিত বা বিচ্ছুরিত আলো সনাক্ত করা হয়। ফলস্বরূপ, দৃশ্যের ক্ষেত্রটি অন্ধকার দেখায়, যখন নমুনাটি একটি উজ্জ্বল চিত্র দেখায়।
অন্ধকার ক্ষেত্রের নীতি টিন্ডাল প্রভাবের উপর ভিত্তি করে। যখন শক্তিশালী আলো সরাসরি সূক্ষ্ম কণার উপর জ্বলজ্বল করে, তখন আলোর বিচ্ছুরণের কারণে সেগুলি মানুষের চোখে অদৃশ্য হয়ে যায়। আলো যদি কণাগুলোকে তির্যকভাবে আঘাত করে, আলোর প্রতিফলন কণাগুলোকে প্রসারিত ও দৃশ্যমান করে। অন্ধকার ক্ষেত্র পর্যবেক্ষণের জন্য প্রয়োজনীয় আনুষাঙ্গিক হল একটি অন্ধকার-ক্ষেত্র কনডেন্সার। মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপের এই পর্যবেক্ষণ মোডের জন্য, আলোর মরীচি নমুনার মধ্য দিয়ে উল্লম্বভাবে ঊর্ধ্বমুখী হয় না। পরিবর্তে, আলোর পথটি পুনঃনির্দেশিত হয় যাতে আলো একটি কোণে নমুনাকে আঘাত করে। আলোকিত আলোকে উদ্দেশ্যমূলক লেন্সে সরাসরি প্রবেশ করা থেকে বাধা দেওয়া হয় এবং নমুনা পৃষ্ঠ থেকে প্রতিফলিত বা বিচ্ছুরিত আলোর দ্বারা উজ্জ্বল চিত্র তৈরি হয়। অন্ধকার ক্ষেত্র পর্যবেক্ষণের রেজোলিউশন উজ্জ্বল ক্ষেত্র পর্যবেক্ষণের তুলনায় অনেক বেশি, 0.004–0.02 এ পৌঁছেছে
মিমি
Ⅲ ফেজ কনট্রাস্ট মাইক্রোস্কোপি
অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপির বিকাশে, ফেজ কন্ট্রাস্ট মাইক্রোস্কোপির উদ্ভাবন আধুনিক মাইক্রোস্কোপি প্রযুক্তিতে একটি বড় অর্জনকে প্রতিনিধিত্ব করে। মানুষের চোখ শুধুমাত্র আলোক তরঙ্গের তরঙ্গদৈর্ঘ্য (রঙ) এবং প্রশস্ততা (উজ্জ্বলতা) পার্থক্য করতে পারে। যখন আলো বর্ণহীন এবং স্বচ্ছ জৈবিক নমুনার মধ্য দিয়ে যায়, তখন তরঙ্গদৈর্ঘ্য এবং প্রশস্ততা সবেমাত্র পরিবর্তিত হয়, উজ্জ্বল ক্ষেত্রের নীচে নমুনাগুলি পর্যবেক্ষণ করা কঠিন করে তোলে।
ফেজ কনট্রাস্ট মাইক্রোস্কোপি নমুনার অপটিক্যাল পাথ পার্থক্যের উপর ভিত্তি করে পরিদর্শন করে। এটি কার্যকরভাবে আলোর হস্তক্ষেপ ব্যবহার করে সনাক্ত করা যায় না এমন পর্যায়ের পার্থক্যগুলিকে পার্থক্যযোগ্য প্রশস্ততার পার্থক্যগুলিতে রূপান্তর করে। এমনকি বর্ণহীন, স্বচ্ছ পদার্থও স্পষ্ট দেখা যায়। এটি জীবন্ত কোষগুলির পর্যবেক্ষণকে ব্যাপকভাবে সহজতর করে, তাই ফেজ কনট্রাস্ট মাইক্রোস্কোপি ব্যাপকভাবে উল্টানো মাইক্রোস্কোপের সাথে ব্যবহৃত হয়।
