খাড়া মাইক্রোস্কোপ নাকি ইনভার্টেড মাইক্রোস্কোপ?
এই প্রশ্নের উত্তর দেওয়ার আগে, খাড়া অণুবীক্ষণ যন্ত্র এবং উল্টানো অণুবীক্ষণ যন্ত্রের মধ্যে পার্থক্য স্পষ্ট করা প্রয়োজন।
মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ, যা উপাদান মাইক্রোস্কোপ নামেও পরিচিত, প্রধানত ধাতুর মাইক্রোস্ট্রাকচার পর্যবেক্ষণ করতে ব্যবহৃত হয়। এগুলিকে সোজা মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ এবং ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপে ভাগ করা যায়।
একটি খাড়া মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ পর্যবেক্ষণের সময় একটি চিত্র তৈরি করে, যা ব্যবহারকারীদের দেখতে এবং পার্থক্য করার জন্য দুর্দান্ত সুবিধা নিয়ে আসে। 20-30 মিমি-এর বেশি উচ্চতার নমুনা ব্যতীত, এটি মানুষের স্বাভাবিক পর্যবেক্ষণের অভ্যাসের সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ। তাই, ধাতু, সিরামিক, ইলেকট্রনিক চিপস, প্রিন্টেড সার্কিট, এলসিডি সাবস্ট্রেট, পাতলা ফিল্ম, ফাইবার, কণার নমুনা, আবরণ এবং উপাদান পৃষ্ঠের কাঠামোর মতো 3 মাইক্রন থেকে 20 মাইক্রন পর্যন্ত পর্যবেক্ষণ লক্ষ্যমাত্রা সহ স্বচ্ছ, স্বচ্ছ বা অস্বচ্ছ পদার্থ পর্যবেক্ষণের জন্য এটি ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয়। ট্রেসগুলি ভালভাবে সংরক্ষিত এবং সংরক্ষণ করা যেতে পারে। উপরন্তু, সমর্থনকারী ইমেজিং সিস্টেম স্ট্যাটিক এবং গতিশীল উভয় ইমেজ ক্যাপচার করতে একটি কম্পিউটারের সাথে সংযোগ করতে পারে। মেটালোগ্রাফি, পরিমাপ, শিক্ষাদান এবং বৈজ্ঞানিক গবেষণায় আরও পেশাদার চাহিদা মেটাতে এটি বিভিন্ন সফ্টওয়্যার দিয়ে সজ্জিত করা যেতে পারে। ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ অপটিক্যাল ইমেজিং পদ্ধতি ব্যবহার করে বিভিন্ন ধাতু এবং সংকর ধাতুর গঠন শনাক্ত ও বিশ্লেষণ করতে। এটি শারীরিক ধাতুবিদ্যা গবেষণার জন্য একটি গুরুত্বপূর্ণ হাতিয়ার। এটি ব্যাপকভাবে কারখানা এবং পরীক্ষাগারে ঢালাই পরিদর্শন, কাঁচামাল পরিদর্শন এবং তাপ চিকিত্সার পরে ধাতব পদার্থের কাঠামোগত বিশ্লেষণের জন্য ব্যবহৃত হয়, যাতে স্বজ্ঞাত বিশ্লেষণের ফলাফল প্রদান করা যায়। এটি খনির, ধাতুবিদ্যা, উত্পাদন এবং যন্ত্রপাতি প্রক্রিয়াকরণ শিল্পে ঢালাই, গন্ধ এবং তাপ চিকিত্সা প্রক্রিয়াগুলিতে গুণমান সনাক্তকরণের মূল সরঞ্জাম। সাম্প্রতিক বছরগুলিতে, ইলেকট্রনিক্স শিল্পে চিপ উত্পাদন সমর্থন করার জন্য উচ্চ-বিবর্ধন সমতল নমুনার প্রয়োজন। এই কারণে, ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপগুলি এই ক্ষেত্রে চালু করা হয়েছে এবং শিল্পের বিশেষ পরিদর্শন প্রয়োজনীয়তাগুলি মেটাতে ক্রমাগত আপগ্রেড করা হয়েছে। ইনভার্টেড টাইপের থেকে ভিন্ন, একটি খাড়া মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপে নমুনার পর্যবেক্ষণ পৃষ্ঠটি নিচের দিকে মুখ করে এবং নমুনা পর্যায়ে স্থাপন করা হয়, যখন উদ্দেশ্যমূলক লেন্সটি ঊর্ধ্বগামী পর্যবেক্ষণের জন্য মঞ্চের নিচে অবস্থিত। এই ফর্মটি নমুনা উচ্চতা দ্বারা সীমাবদ্ধ নয়, সুবিধাজনক অপারেশন, কমপ্যাক্ট গঠন এবং আকর্ষণীয় চেহারা প্রদান করে। ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক অণুবীক্ষণ যন্ত্রের ভিত্তি একটি বৃহৎ সহায়ক এলাকা এবং স্থিতিশীল অপারেশনের জন্য নিম্ন মাধ্যাকর্ষণ কেন্দ্র রয়েছে। আইপিস টিউবটি আরামদায়ক দেখার জন্য সমর্থনকারী পৃষ্ঠের তুলনায় 45 ডিগ্রিতে ঝুঁকে আছে।
