মাইক্রোস্কোপের কনডেন্সার লিফটিং মেকানিজমের সমস্যা সমাধান
একটি পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপের মূল নীতিটি নিম্নরূপ: একটি মাইক্রোক্যান্টিলিভারের এক প্রান্ত, যা দুর্বল শক্তির জন্য অত্যন্ত সংবেদনশীল, স্থির থাকে এবং অন্য প্রান্তে একটি ক্ষুদ্র প্রোব টিপ মাউন্ট করা হয়। টিপটি নমুনা পৃষ্ঠের সাথে আলতো করে যোগাযোগ করে। প্রোবের ডগায় এবং নমুনা পৃষ্ঠের পরমাণুর মধ্যে অত্যন্ত দুর্বল বিকর্ষণীয় বলের কারণে, স্ক্যান করার সময় এই বলটিকে স্থির রেখে, ডগা সহ মাইক্রোক্যান্টিলিভারটি টিপ এবং নমুনা পৃষ্ঠের পরমাণুর মধ্যে মিথস্ক্রিয়া বলের দ্বারা সংজ্ঞায়িত সমতাত্ত্বিক পৃষ্ঠকে অনুসরণ করে নমুনা পৃষ্ঠের উপরে এবং নীচে লম্ব করে। অপটিক্যাল সনাক্তকরণ বা টানেলিং বর্তমান সনাক্তকরণ পদ্ধতি ব্যবহার করে, প্রতিটি স্ক্যানিং পয়েন্টে মাইক্রোক্যান্টিলিভারের অবস্থানগত পরিবর্তন পরিমাপ করা যেতে পারে, যাতে নমুনার পৃষ্ঠের টপোগ্রাফি সম্পর্কে তথ্য পাওয়া যায়। নিম্নলিখিতটিতে, আমরা স্ক্যানিং প্রোব মাইক্রোস্কোপ পরিবারের একটি সাধারণভাবে ব্যবহৃত সদস্য বল সনাক্তকরণ (লেজার-এএফএম) এর জন্য লেজার রশ্মি বিচ্যুতি নিযুক্ত করে পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ নিই, এটির কার্য নীতিকে বিশদভাবে ব্যাখ্যা করতে।
সিস্টেমের সম্পূর্ণ ইমেজিং এবং সনাক্তকরণ প্রক্রিয়া জুড়ে, প্রোব এবং পরীক্ষিত নমুনার মধ্যে দূরত্ব ন্যানোমিটার স্কেলে (10⁻⁹ m) বজায় রাখা হয়। যদি দূরত্ব খুব বড় হয়, নমুনার পৃষ্ঠ তথ্য অর্জন করা যাবে না; দূরত্ব খুব ছোট হলে, প্রোব এবং পরীক্ষিত নমুনা উভয়ই ক্ষতিগ্রস্ত হবে। ফিডব্যাক লুপটি নিম্নরূপ কাজ করে: অপারেশন চলাকালীন, এটি প্রোব থেকে প্রোব-নমুনা মিথস্ক্রিয়া শক্তির মাত্রা গ্রহণ করে এবং নমুনা স্ক্যানারের উল্লম্ব অক্ষে প্রয়োগ করা ভোল্টেজকে সামঞ্জস্য করে। এটি নমুনাকে প্রসারিত বা প্রত্যাহার করতে চালিত করে, যার ফলে প্রোব-নমুনা বিচ্ছেদ নিয়ন্ত্রণ করে এবং প্রতিক্রিয়া নিয়ন্ত্রণ উপলব্ধি করতে প্রোব-নমুনা মিথস্ক্রিয়া শক্তির মাত্রা স্থিতিশীল করে। অতএব, প্রতিক্রিয়া নিয়ন্ত্রণ এই সিস্টেমের মূল অপারেটিং প্রক্রিয়া গঠন করে।
এই সিস্টেমটি একটি ডিজিটাল প্রতিক্রিয়া নিয়ন্ত্রণ লুপ গ্রহণ করে। ব্যবহারকারীরা কন্ট্রোল সফ্টওয়্যারের প্যারামিটার টুলবারে রেফারেন্স কারেন্ট, ইন্টিগ্রাল লাভ এবং আনুপাতিক লাভ সহ প্যারামিটার সেট করে ফিডব্যাক লুপের বৈশিষ্ট্যগুলি নিয়ন্ত্রণ করতে পারে।
