মাইক্রোস্কোপ আলোকসজ্জা রেঞ্জ যা উপলব্ধ
ম্যানুয়াল মডেলগুলি ছাড়াও, মাইক্রোস্কোপটি মোটর চালিত সর্বজনীন ইলুমিনেটরগুলির নতুন পরিসরের সাথেও উপলব্ধ। সাদা LED ইলুমিনেটর উজ্জ্বল ক্ষেত্র পর্যবেক্ষণের জন্য উপযুক্ত। ব্যবহারকারীরা পর্যবেক্ষণের উদ্দেশ্য এবং কাজ অনুযায়ী 12V50W হ্যালোজেন বাতি বা সাদা LED আলোর উৎস বেছে নিতে পারেন।
মাইক্রোস্কোপ LV-UEP1 ইউনিভার্সাল এপি-ইলুমিনেটর, এই সার্বজনীন এপি-ইলুমিনেটর উজ্জ্বল ক্ষেত্র, অন্ধকার ক্ষেত্র, সরল পোলারাইজড আলো এবং ডিআইসি পর্যবেক্ষণ করতে পারে। উজ্জ্বলক্ষেত্র থেকে ডার্কফিল্ড পর্যবেক্ষণে স্যুইচ করার সময় ইলুমিনেটর স্বয়ংক্রিয়ভাবে ক্ষেত্র এবং অ্যাপারচার ডায়াফ্রামগুলি খুলে দেয়। ব্রাইটফিল্ডে ফিরে আসার সময়, ইলুমিনেটর স্বয়ংক্রিয়ভাবে পূর্ববর্তী ক্ষেত্র এবং অ্যাপারচারের অবস্থা পুনরুদ্ধার করে।
মাইক্রোস্কোপ LV-UEP2 সাধারণ-উদ্দেশ্য ইপি-ইলুমিনেটর, উজ্জ্বল ক্ষেত্র, অন্ধকার ক্ষেত্র, সাধারণ পোলারাইজড আলো এবং DIC ছাড়াও, এই আলোকযন্ত্রটি এপি-ফ্লুরোসেন্স পর্যবেক্ষণও করতে পারে। শাটার, ফিল্ড অফ ভিউ এবং অ্যাপারচার ডায়াফ্রামের সাথে ইলুমিনেটরের সংযুক্ত কাঠামো স্বয়ংক্রিয়ভাবে সর্বোত্তম আলোর অবস্থা সেট করে। এই বৈশিষ্ট্যটি পরিমাপের মাইক্রোস্কোপ পরিচালনার জটিলতা কমিয়ে দেয়, ব্যবহারকারীকে পর্যবেক্ষণে মনোনিবেশ করতে দেয়।
মাইক্রোস্কোপ LV-UEP1 FA ইউনিভার্সাল এপি-ইলুমিনেটর ফোকাস অ্যাসিস্ট, এই ইউনিভার্সাল এপি-ইলুমিনেটর একটি ঐচ্ছিক ডাইক্রোয়িক প্রিজম অ্যাসিস্টেড ফোকাস এফএ মেকানিজম দিয়ে সজ্জিত যাতে জেড অক্ষে পরিমাপ করার সময় আরও স্পষ্টতা প্রদান করা যায়।
মাইক্রোস্কোপ মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ পরিমাপ সফ্টওয়্যার বিশ্লেষণ
1) সফ্টওয়্যারটি অনুভূমিক রেখা, উল্লম্ব রেখা, তির্যক রেখা, বৃত্ত এবং অন্যান্য নোড পরিমাপের পদ্ধতিগুলি শস্যের আকার পরিমাপের জন্য সরবরাহ করে। এটি স্বয়ংক্রিয়ভাবে শস্যের সীমানাগুলির দ্রুত পরিমাপ এবং গণনা নির্ধারণ করতে পারে এবং ম্যানুয়াল বা স্বয়ংক্রিয় পরিমাপ পদ্ধতি বেছে নিতে পারে। পরিমাপের ডেটা পরিসংখ্যানগতভাবে বিশ্লেষণ করা যেতে পারে এবং তারপরে আউটপুটটি এক্সেল রিপোর্টে রপ্তানি করা যেতে পারে।
2) গোলাকার, ক্ষেত্রফল এবং আকৃতির মতো পরামিতিগুলি ব্যবহার করে মেটালোগ্রাফিক গোলককরণের হার বিশ্লেষণ এবং পরিমাপ করতে ব্যবহারকারীদের সহায়তা করুন
3) নির্বাচিত মেটালোগ্রাফিক উপাদানের বিভাগ অনুসারে এলাকা এবং এলাকার শতাংশ গণনা করা যেতে পারে
4) এটি ছিদ্রযুক্ত পদার্থের পৃষ্ঠের ছিদ্র বিশ্লেষণ করতে বা ছিদ্রগুলির আকার এবং ক্ষেত্রফল নির্ধারণ করতেও ব্যবহার করা যেতে পারে
5) উচ্চ-ম্যাগনিফিকেশন অবজেক্টিভ লেন্স এবং সংখ্যাসূচক অ্যাপারচারের সীমাবদ্ধতা কাটিয়ে উঠতে, ক্ষেত্রের ছোট উল্লম্ব গভীরতা এবং উল্লম্ব উচ্চতার পার্থক্য মেটালোগ্রাফিক পৃষ্ঠকে তৈরি করে
ঝাপসা সমস্যা
