মাইক্রোস্কোপ (অণুবীক্ষণ যন্ত্র) এর আইপিস কীভাবে পরিষ্কার করবেন
সুবিধাদি:
1, উচ্চ রেজোলিউশন, অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের রেজোলিউশন হল 0.2μm, ট্রান্সমিশন ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপের রেজোলিউশন হল 0.2nm, অর্থাৎ অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপে ট্রান্সমিশন ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ 1000 বার বড় করার ভিত্তি।
2, ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ প্রায়ই সাধারণ অণুবীক্ষণ যন্ত্রের উপাদানের সূক্ষ্ম গঠন পার্থক্য করতে পারে না যারা পর্যবেক্ষণ করতে ব্যবহার করা হয়; স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ প্রধানত কঠিন পৃষ্ঠের আকারবিদ্যা পর্যবেক্ষণ করতে ব্যবহৃত হয়, তবে এক্স-রে ডিফ্র্যাক্টোমিটার বা ইলেক্ট্রন স্পেকট্রোমিটারের সাথে মিলিত, ইলেক্ট্রন মাইক্রোপ্রোব গঠন করে, উপাদানের গঠন বিশ্লেষণের জন্য ব্যবহৃত হয়; ইলেক্ট্রনের স্ব-নিঃসরণ পৃষ্ঠের অধ্যয়নের জন্য নির্গমন ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ।
অসুবিধা:
1, ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপে নমুনাগুলি অবশ্যই একটি ভ্যাকুয়ামে পর্যবেক্ষণ করতে হবে, তাই লাইভ নমুনাগুলি পর্যবেক্ষণ করা সম্ভব নয়। প্রযুক্তির অগ্রগতির সাথে, পরিবেশগত স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি ধীরে ধীরে সরাসরি নমুনাগুলির সরাসরি পর্যবেক্ষণ অর্জন করবে;
2, নমুনার প্রক্রিয়াকরণ এমন কাঠামো তৈরি করতে পারে যা মূলত নমুনায় উপস্থিত ছিল না, যা পরবর্তীতে চিত্র বিশ্লেষণের অসুবিধাকে বাড়িয়ে তোলে;
3, অত্যন্ত শক্তিশালী ইলেক্ট্রন বিচ্ছুরণ ক্ষমতার কারণে, গৌণ বিচ্ছুরণের প্রবণতা এবং তাই;
4, ত্রিমাত্রিক বস্তুর দ্বি-মাত্রিক সমতল অভিক্ষেপ চিত্রের কারণে, কখনও কখনও চিত্রটি অনন্য হয় না;
5, কারণ ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ শুধুমাত্র খুব পাতলা নমুনা পর্যবেক্ষণ করতে পারে, এবং এটা সম্ভব যে উপাদানের পৃষ্ঠের গঠন উপাদানের অভ্যন্তরীণ গঠন থেকে ভিন্ন;
6, অতি-পাতলা নমুনা (100 এনএম-এর নিচে), নমুনা তৈরির প্রক্রিয়া জটিল এবং কঠিন, এবং নমুনা তৈরিতে ক্ষতি হয়;
7, ইলেক্ট্রন মরীচি সংঘর্ষ এবং উত্তাপের দ্বারা নমুনার ক্ষতি করতে পারে;
8, ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ ছাড়াও ক্রয় এবং রক্ষণাবেক্ষণের দাম তুলনামূলকভাবে বেশি।
