খাড়া এবং উল্টানো মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপের মধ্যে কীভাবে চয়ন করবেন
মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ, যা উপাদান মাইক্রোস্কোপ নামেও পরিচিত, প্রধানত ধাতব মাইক্রোস্ট্রাকচারের গঠন পর্যবেক্ষণ করতে ব্যবহৃত হয়। এগুলি খাড়া মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ এবং ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপে বিভক্ত।
খাড়া মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ একটি খাড়া চিত্র তৈরি করে, যা পর্যবেক্ষণ এবং সনাক্তকরণের জন্য দুর্দান্ত সুবিধা নিয়ে আসে। এটি 20-30 মিমি উচ্চতার ধাতব নমুনাগুলি বিশ্লেষণ এবং সনাক্ত করতে পারে। মানুষের দৈনন্দিন দেখার অভ্যাসের সাথে সামঞ্জস্য রেখে, এটি স্বচ্ছ, স্বচ্ছ এবং অস্বচ্ছ পদার্থে ব্যাপকভাবে প্রয়োগ করা হয়। 3 μm-এর বেশি থেকে 20 μm-এর কম পর্যন্ত পর্যবেক্ষণ লক্ষ্যগুলির জন্য, যেমন পৃষ্ঠের কাঠামো এবং ধাতব সিরামিক, ইলেকট্রনিক চিপস, প্রিন্টেড সার্কিট, LCD সাবস্ট্রেট, পাতলা ফিল্ম, ফাইবার, দানাদার পদার্থ এবং আবরণ সহ উপকরণগুলিতে ট্রেস, এটি চমৎকার ইমেজিং কার্যক্ষমতা প্রদান করে।
ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ বিভিন্ন ধাতু এবং সংকর ধাতুর মাইক্রোস্ট্রাকচার সনাক্ত ও বিশ্লেষণ করতে অপটিক্যাল প্লেন ইমেজিং গ্রহণ করে। ধাতব পদার্থবিজ্ঞানে ধাতব গবেষণার জন্য এটি একটি গুরুত্বপূর্ণ হাতিয়ার। এটি ব্যাপকভাবে কারখানা এবং পরীক্ষাগারগুলিতে ঢালাই গুণমান পরিদর্শন, কাঁচামাল পরীক্ষা, সেইসাথে প্রক্রিয়া চিকিত্সার পরে উপাদান ধাতব কাঠামোর গবেষণা এবং বিশ্লেষণের জন্য ব্যবহৃত হয়, স্বজ্ঞাত বিশ্লেষণের ফলাফল প্রদান করে। এটি খনির, ধাতুবিদ্যা, উত্পাদন এবং যান্ত্রিক প্রক্রিয়াকরণ শিল্পে ঢালাই, গন্ধ এবং তাপ চিকিত্সার গুণমান সনাক্তকরণ এবং বিশ্লেষণের জন্য মূল সরঞ্জাম হিসাবে কাজ করে।
ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপের জন্য, নমুনার পর্যবেক্ষণ পৃষ্ঠ নিচের দিকে থাকে এবং ওয়ার্কটেবল পৃষ্ঠের সাথে ফিট করে। অবজেক্টিভ লেন্সটি ওয়ার্কটেবলের নিচে অবস্থিত এবং উপরের দিকে পর্যবেক্ষণ করে। এটা নমুনা উচ্চতা দ্বারা সীমাবদ্ধ নয়, এবং সহজ অপারেশন, কমপ্যাক্ট গঠন এবং একটি মার্জিত চেহারা বৈশিষ্ট্য. স্থিতিশীল এবং নির্ভরযোগ্য অপারেশনের জন্য এটির একটি বড় বেস বিয়ারিং এরিয়া এবং মাধ্যাকর্ষণ কম কেন্দ্র রয়েছে। আরামদায়ক পর্যবেক্ষণের জন্য ভারবহন পৃষ্ঠের তুলনায় আইপিসটি 45 ডিগ্রিতে কাত হয়।
