আপনার প্রয়োজন অনুসারে একটি মাইক্রোস্কোপ কীভাবে চয়ন করবেন?
বৈজ্ঞানিক গবেষণা এবং বিশ্লেষণাত্মক পরীক্ষার ক্ষেত্রে, অণুবীক্ষণ যন্ত্রগুলি নিঃসন্দেহে অপরিহার্য সরঞ্জাম এবং "বিজ্ঞানের চোখ" হিসাবে পরিচিত। এটি মানুষকে অণুবীক্ষণিক জগত অন্বেষণ করতে সক্ষম করে যা খালি চোখে আলাদা করা যায় না, উপাদান গবেষণা, বায়োমেডিসিন এবং শিল্প পরীক্ষার মতো ক্ষেত্রের জন্য মূল প্রযুক্তিগত সহায়তা প্রদান করে। বিভিন্ন গবেষণার প্রয়োজনের মুখোমুখি হয়ে, কীভাবে উপযুক্ত অণুবীক্ষণ যন্ত্রটি বেছে নেওয়া যায় তা অনেক গবেষকের উদ্বেগের বিষয় হয়ে দাঁড়িয়েছে।
এই অণুবীক্ষণ যন্ত্রটি আলোর উৎস হিসেবে উচ্চ-চাপের ইলেকট্রন রশ্মি ব্যবহার করে এবং ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক লেন্সের মাধ্যমে ইমেজিং ফোকাস করে। এর বিবর্ধন লক্ষ লক্ষ বার পৌঁছতে পারে এবং এর রেজোলিউশন এমনকি অ্যাংস্ট্রোম (Å) (1 Å সমান 0.1 ন্যানোমিটার) স্তরে পৌঁছতে পারে, যা পারমাণবিক স্তরের কাঠামোগত বৈশিষ্ট্যগুলি পর্যবেক্ষণ করার জন্য যথেষ্ট।
ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপির কাজের নীতিটি অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপির মতই, তবে এটি দৃশ্যমান আলোর পরিবর্তে ইলেকট্রন বিম এবং অপটিক্যাল লেন্সের পরিবর্তে ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক লেন্স ব্যবহার করে। ইলেকট্রনিক তরঙ্গগুলি দৃশ্যমান আলোর তরঙ্গদৈর্ঘ্যের তুলনায় অনেক ছোট হওয়ার কারণে, অ্যাবে ডিফ্র্যাকশন লিমিট তত্ত্ব অনুসারে, তাদের রেজোলিউশন ব্যাপকভাবে উন্নত হয়েছে, মাইক্রোস্কোপিক জগতের চূড়ান্ত অনুসন্ধান অর্জন করেছে।
আধুনিক ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি প্রযুক্তি দ্রুত বিকশিত হয়েছে, যা বিভিন্ন উন্নত মডেলের জন্ম দিয়েছে: স্ক্যানিং ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি (STEM) উভয় স্ক্যানিং এবং ট্রান্সমিশন মোডের সুবিধার সমন্বয় করে; আল্ট্রা ফাস্ট ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি (UTEM) অতি দ্রুত গতিশীল প্রক্রিয়া অধ্যয়ন করতে ব্যবহার করা যেতে পারে; হিমায়িত ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি (FTEM) বায়োমোলিকিউলস অধ্যয়নের জন্য বিশেষভাবে উপযুক্ত; ইন সিটু ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি (TEM) বাহ্যিক উদ্দীপনার অধীনে নমুনাগুলিতে বাস্তব-সময়ের পরিবর্তন পর্যবেক্ষণ করতে পারে; গোলাকার অ্যাবারেশন কারেকশন ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি (CTEM) লেন্সের বিকৃতি সংশোধন করে রেজোলিউশনকে আরও উন্নত করে।
এটি লক্ষ করা উচিত যে ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি, একটি উচ্চ-নির্ভুল যন্ত্র হিসাবে, উচ্চ খরচ, জটিল অপারেশন এবং কঠোর নমুনা প্রস্তুতির প্রয়োজনীয়তার বৈশিষ্ট্য রয়েছে। ইলেক্ট্রন রশ্মি প্রবেশের অনুমতি দেওয়ার জন্য নমুনাটি অত্যন্ত পাতলা (সাধারণত 100 ন্যানোমিটারের কম) স্লাইসগুলিতে প্রস্তুত করা আবশ্যক।
স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ
যদি গবেষণার স্কেলটি দশ ন্যানোমিটার থেকে মিলিমিটারের পরিসরে থাকে এবং প্রধানত নমুনার পৃষ্ঠের মরফোলজি বৈশিষ্ট্যের উপর ফোকাস করে, তবে স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি (SEM) একটি আরও উপযুক্ত পছন্দ। এই অণুবীক্ষণ যন্ত্রটির একটি বিস্তৃত পরিসর রয়েছে (সাধারণত 10x থেকে 300000 বার পর্যন্ত), যা আকারবিদ্যা পর্যবেক্ষণ, মৌলিক বিশ্লেষণ, মাইক্রোস্ট্রাকচার বিশ্লেষণ এবং আরও অনেক কিছুর চাহিদা পূরণ করতে পারে।
ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি স্ক্যান করার কাজের নীতি হল একটি ইলেক্ট্রন রশ্মি দিয়ে নমুনা পৃষ্ঠের বিন্দুকে বিন্দুতে স্ক্যান করা এবং তারপরে একটি চিত্র তৈরি করার জন্য নমুনা দ্বারা উত্পন্ন সেকেন্ডারি ইলেকট্রন এবং ব্যাকস্ক্যাটারড ইলেকট্রনের মতো সংকেত সনাক্ত করা।
