অণুবীক্ষণ যন্ত্রের মেরুকরণের জন্য পাতলা অংশের তৈরি পদ্ধতি
অণুবীক্ষণ যন্ত্রের মেরুকরণের জন্য পাতলা অংশের প্রস্তুতির প্রক্রিয়া
একটি পোলারাইজিং মাইক্রোস্কোপের অধীনে পর্যবেক্ষণ করার সময়, নমুনাগুলিকে যোগ্য পাতলা বিভাগ বা পালিশ করা বিভাগে তৈরি করতে হবে, যাকে সম্মিলিতভাবে পাতলা বিভাগ হিসাবে উল্লেখ করা হয়। প্রস্তুতি পদ্ধতি নিম্নরূপ:
(1) স্যাম্পলিং: পর্যবেক্ষণ এবং বিশ্লেষণের প্রয়োজনীয়তা অনুযায়ী নমুনার প্রতিনিধি এলাকা নির্বাচন করুন, সেগুলিকে 10×10×10 মিমি কিউব করে কেটে নিন এবং ভালোভাবে পরিষ্কার করুন।
(2) মাউন্ট বা পাত্র: ছোট আকারের নমুনা মাউন্ট প্রয়োজন. ছিদ্রযুক্ত বা আলগা কাঠামোর নমুনাগুলি প্রথমে গর্ভধারণ করা উচিত।
(3) রুক্ষ নাকাল: একটি গ্রাইন্ডিং মেশিনে নমুনার চ্যাপ্টা দিকটি রাখুন, প্রোফাইলটি ছাঁটাই করতে এবং তীক্ষ্ণ প্রান্ত এবং কোণগুলি সরাতে মোটা ঘষিয়া তুলিয়া ফেলিতে সক্ষম পাউডার দিয়ে পৃষ্ঠটি পিষুন।
(4) সূক্ষ্ম নাকাল: সূক্ষ্ম ঘষিয়া তুলিয়া ফেলিতে সক্ষম পাউডার দিয়ে পিষে নিন যতক্ষণ না রুক্ষ গ্রাইন্ডিং দ্বারা অবশিষ্ট সমস্ত চিহ্ন মুছে ফেলা হয়।
(5) প্রাক-পলিশিং: পৃষ্ঠ সমতল না হওয়া পর্যন্ত নাকাল করার জন্য সূক্ষ্ম ঘষিয়া তুলিয়া ফেলিতে সক্ষম পাউডার ব্যবহার করুন। উজ্জ্বল আলোর নিচে পৃষ্ঠে ক্ষীণ আলোর প্রতিফলন লক্ষ্য করা যায়।
(6) পলিশিং: একটি পলিশিং মেশিনে নমুনা রাখুন, নমুনা পৃষ্ঠ পর্যন্ত পলিশ করার জন্য পলিশিং যৌগ (পলিশিং পাউডার) যোগ করুন
উজ্জ্বল এবং কোন সুস্পষ্ট স্ক্র্যাচ একটি প্রতিফলিত-আলো মাইক্রোস্কোপের নীচে দৃশ্যমান নয়।
(7) লেবেলিং: স্থল নমুনাগুলি সংখ্যা করুন এবং তাদের উত্স এবং নাম নির্দিষ্ট করতে লেবেল সংযুক্ত করুন।
(8) এচিং: পর্যবেক্ষণ এবং বিশ্লেষণের প্রয়োজনীয়তা অনুযায়ী নমুনা খোদাই করার জন্য উপযুক্ত এচিং পদ্ধতি এবং শর্ত নির্বাচন করুন।
যদি মাইক্রোস্ট্রাকচারাল বিশ্লেষণ উভয়ই সঞ্চালিত এবং প্রতিফলিত আলোর অধীনে সঞ্চালনের প্রয়োজন হয়, তাহলে নমুনাটিকে একটি পাতলা অংশ বা এমনকি একটি অতি-পাতলা বিভাগে তৈরি করা হবে (<0.02 mm). For thin section preparation, first grind the specimen into a 0.03 mm-thick slice without covering it with a coverslip. Then polish the pre-ground slice surface on a polishing machine to complete the thin section.
