খাড়া মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ এবং ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপের মধ্যে প্রয়োগের পার্থক্য
খাড়া এবং উল্টানো মধ্যে পার্থক্য হল খাড়া নমুনা নীচে স্থাপন করা হয় এবং বিপরীত নমুনা উপরে স্থাপন করা হয়। খাড়া অবজেক্টিভ লেন্স নিচের দিকে এবং উল্টানো অবজেক্টিভ লেন্স উপরের দিকে মুখ করে থাকে।
ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ সাধারণত ফ্যাক্টরি ল্যাবরেটরি, বৈজ্ঞানিক গবেষণা প্রতিষ্ঠান এবং বিশ্ববিদ্যালয়গুলিতে ব্যবহৃত হয় কারণ নমুনার পর্যবেক্ষণ পৃষ্ঠটি ওয়ার্কটেবলের পৃষ্ঠের সাথে মিলে যায় এবং পর্যবেক্ষণের উদ্দেশ্য উপরের দিকে পর্যবেক্ষণ করার সময় ওয়ার্কটেবলের নীচে অবস্থিত। এই পর্যবেক্ষণ ফর্ম নমুনার উচ্চতা দ্বারা সীমাবদ্ধ নয়, এবং নমুনা প্রস্তুত করার সময় শুধুমাত্র একটি পর্যবেক্ষণ পৃষ্ঠ সমতল হয়। ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক অণুবীক্ষণ যন্ত্রের বেস একটি বৃহৎ সমর্থন এলাকা, একটি নিম্ন মাধ্যাকর্ষণ কেন্দ্র, এবং স্থিতিশীল এবং নির্ভরযোগ্য। আরামদায়ক পর্যবেক্ষণের জন্য আইপিস এবং সমর্থন পৃষ্ঠটি 45 ডিগ্রিতে কাত হয়।
খাড়া মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপের ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপের মতো একই মৌলিক কাজ রয়েছে। 20-30 মিমি উচ্চতার ধাতব নমুনাগুলি বিশ্লেষণ এবং সনাক্ত করার পাশাপাশি, এটি স্বচ্ছ, আধা স্বচ্ছ বা অস্বচ্ছ পদার্থের জন্য আরও ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয় কারণ এটি মানুষের দৈনন্দিন অভ্যাসের সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ। খাড়া মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ পর্যবেক্ষণের সময় একটি ইতিবাচক চিত্র তৈরি করে, যা ব্যবহারকারীর পর্যবেক্ষণ এবং সনাক্তকরণকে ব্যাপকভাবে সহায়তা করে। 20-30 মিমি উচ্চতার ধাতব নমুনাগুলি বিশ্লেষণ এবং সনাক্ত করার পাশাপাশি, 3 মাইক্রনের চেয়ে বড় এবং 20 মাইক্রনের চেয়ে ছোট লক্ষ্যগুলি পর্যবেক্ষণ করা, যেমন ধাতব সিরামিক, ইলেকট্রনিক চিপস, প্রিন্টেড সার্কিট, এলসিডি সাবস্ট্রেট, ফিল্ম, ফাইবার, দানাদার বস্তু, আবরণ, এবং অন্যান্য পৃষ্ঠের উপর ভাল প্রভাব অর্জন করতে পারে।
