খাড়া এবং উল্টানো মাইক্রোস্কোপের মধ্যে নির্বাচন করা
মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ, যা উপাদান মাইক্রোস্কোপ নামেও পরিচিত, প্রধানত ধাতুর মাইক্রোস্ট্রাকচার পর্যবেক্ষণ করতে ব্যবহৃত হয়। এগুলি খাড়া মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ এবং ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপগুলিতে শ্রেণীবদ্ধ করা হয়।
খাড়া মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ পর্যবেক্ষণের সময় একটি খাড়া চিত্র তৈরি করে, যা ব্যবহারকারীদের নমুনাগুলি পর্যবেক্ষণ এবং সনাক্ত করার জন্য দুর্দান্ত সুবিধা নিয়ে আসে। এটি 20-30 মিমি উচ্চতার ধাতব নমুনাগুলি বিশ্লেষণ এবং সনাক্ত করতে পারে। মানুষের দৈনন্দিন দেখার অভ্যাসের সাথে সামঞ্জস্য রেখে, এটি স্বচ্ছ, স্বচ্ছ এবং অস্বচ্ছ পদার্থে ব্যাপকভাবে প্রয়োগ করা হয়। এটি 3 μm থেকে 20 μm-এর কম পর্যন্ত পর্যবেক্ষণ লক্ষ্যগুলির জন্য চমৎকার ইমেজিং ফলাফল প্রদান করে, যেমন পৃষ্ঠের কাঠামো এবং ধাতব সিরামিক, ইলেকট্রনিক চিপস, প্রিন্টেড সার্কিট, LCD সাবস্ট্রেট, পাতলা ফিল্ম, ফাইবার, দানাদার উপকরণ এবং আবরণের চিহ্ন। এছাড়াও, বহিরাগত ক্যামেরা সিস্টেমটি সুবিধাজনকভাবে একটি ডিসপ্লে স্ক্রীন এবং একটি কম্পিউটারের সাথে রিয়েল-টাইম এবং স্ট্যাটিক ইমেজ দেখা, স্টোরেজ, সম্পাদনা এবং মুদ্রণের জন্য সংযুক্ত করা যেতে পারে। বিভিন্ন সফ্টওয়্যারের সাথে মিলিত, এটি পেশাদার ধাতববিদ্যা, পরিমাপ এবং ইন্টারেক্টিভ শিক্ষার চাহিদা পূরণ করতে পারে।
ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ বিভিন্ন ধাতু এবং সংকর ধাতুর মাইক্রোস্ট্রাকচার সনাক্ত ও বিশ্লেষণ করতে অপটিক্যাল প্লেন ইমেজিং গ্রহণ করে। ধাতব পদার্থবিজ্ঞানে ধাতব গবেষণার জন্য এটি একটি গুরুত্বপূর্ণ হাতিয়ার। কারখানা এবং পরীক্ষাগারে ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত, এটি ঢালাই গুণমান পরিদর্শন, কাঁচামাল পরীক্ষা, এবং প্রক্রিয়া চিকিত্সার পরে পদার্থের ধাতব কাঠামোর গবেষণা ও বিশ্লেষণ করে, স্বজ্ঞাত বিশ্লেষণের ফলাফল প্রদান করে। এটি খনির, ধাতুবিদ্যা, উত্পাদন এবং যান্ত্রিক প্রক্রিয়াকরণ শিল্পে ঢালাই, গন্ধ এবং তাপ চিকিত্সার গুণমান সনাক্তকরণ এবং বিশ্লেষণের জন্য গুরুত্বপূর্ণ সরঞ্জাম।
সাম্প্রতিক বছরগুলিতে, মাইক্রোইলেক্ট্রনিক্স শিল্পে চিপ উত্পাদন সমর্থন করার জন্য উচ্চ-বিবর্ধন প্ল্যানার মাইক্রোস্কোপিক প্রযুক্তির প্রয়োজন। অতএব, বিশেষ শিল্প প্রয়োজনীয়তা পূরণের জন্য ক্রমাগত উন্নতি সহ এই ক্ষেত্রে ধাতব অণুবীক্ষণ যন্ত্র চালু এবং জনপ্রিয় করা হয়েছে।
ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক অণুবীক্ষণ যন্ত্রের জন্য, নমুনার পর্যবেক্ষণ পৃষ্ঠ নিচের দিকে থাকে এবং ওয়ার্কটেবল পৃষ্ঠের সাথে ফ্লাশ ফিট করে। অবজেক্টিভ লেন্সটি ওয়ার্কটেবলের নিচে মাউন্ট করা হয় এবং উপরের দিকে পর্যবেক্ষণ করে। এই পর্যবেক্ষণ মোড নমুনা উচ্চতা দ্বারা সীমাবদ্ধ নয়. যন্ত্রটি একটি কম্প্যাক্ট এবং মার্জিত চেহারা সঙ্গে কাজ করা সহজ. এটি একটি বড় বেস ভারবহন এলাকা এবং স্থিতিশীল এবং নির্ভরযোগ্য অপারেশনের জন্য একটি নিম্ন মাধ্যাকর্ষণ কেন্দ্র বৈশিষ্ট্যযুক্ত। আইপিস আরামদায়ক পর্যবেক্ষণ প্রদানের জন্য ভারবহন পৃষ্ঠের সাপেক্ষে 45 ডিগ্রিতে কাত হয়।
