একটি খাড়া এবং একটি উল্টানো মাইক্রোস্কোপের মধ্যে নির্বাচন করা
মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ, যা উপাদান মাইক্রোস্কোপ নামেও পরিচিত, প্রধানত ধাতব কাঠামোর গঠন পর্যবেক্ষণ করতে ব্যবহৃত হয়। এটি খাড়া ধাতব বিজ্ঞান মাইক্রোস্কোপ এবং উল্টানো ধাতব অণুবীক্ষণ যন্ত্রে বিভক্ত করা যেতে পারে
খাড়া মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ পর্যবেক্ষণের সময় একটি ইতিবাচক চিত্র তৈরি করে, যা ব্যবহারকারীর পর্যবেক্ষণ এবং সনাক্তকরণে দুর্দান্ত সুবিধা নিয়ে আসে। 20-30 মিমি উচ্চতার ধাতব নমুনা বিশ্লেষণ এবং সনাক্ত করার পাশাপাশি, এটি মানুষের দৈনন্দিন অভ্যাসের সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ হওয়ার কারণে স্বচ্ছ, আধা স্বচ্ছ বা অস্বচ্ছ পদার্থের জন্য আরও ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয়। 3 মাইক্রনের চেয়ে বড় কিন্তু 20 মাইক্রনের চেয়ে ছোট লক্ষ্যগুলি পর্যবেক্ষণ করা, যেমন ধাতব সিরামিক, ইলেকট্রনিক চিপস, প্রিন্টেড সার্কিট, LCD সাবস্ট্রেট, ফিল্ম, ফাইবার, দানাদার বস্তু, আবরণ এবং অন্যান্য উপকরণ, তাদের পৃষ্ঠের কাঠামো এবং ট্রেসগুলির জন্য ভাল ইমেজিং প্রভাব অর্জন করতে পারে। এছাড়াও, বহিরাগত ক্যামেরা সিস্টেমটি ভিডিও স্ক্রীন এবং কম্পিউটারের সাথে রিয়েল-টাইম এবং গতিশীল চিত্র পর্যবেক্ষণ, সংরক্ষণ এবং সম্পাদনা, মুদ্রণ এবং আরও পেশাদার মেটালোগ্রাফিক, পরিমাপ এবং ইন্টারেক্টিভ শিক্ষার ক্ষেত্রের চাহিদা মেটাতে বিভিন্ন সফ্টওয়্যারের সাথে সংযুক্ত করা যেতে পারে। ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ অপটিক্যাল প্লেন ইমেজিং ব্যবহার করে বিভিন্ন ধাতু এবং সংকর ধাতুর মাইক্রোস্ট্রাকচার সনাক্ত ও বিশ্লেষণ করতে। ধাতব পদার্থবিদ্যায় ধাতববিদ্যা অধ্যয়ন করার জন্য এটি একটি গুরুত্বপূর্ণ হাতিয়ার এবং ঢালাই গুণমান, কাঁচামাল পরিদর্শন, বা প্রক্রিয়া চিকিত্সার পরে উপাদান ধাতব কাঠামোর গবেষণা ও বিশ্লেষণের জন্য কারখানা বা পরীক্ষাগারে ব্যাপকভাবে ব্যবহার করা যেতে পারে। এটি স্বজ্ঞাত বিশ্লেষণ ফলাফল প্রদান করে এবং খনন, ধাতুবিদ্যা, উত্পাদন, এবং যান্ত্রিক প্রক্রিয়াকরণ শিল্পে ঢালাই, গন্ধ এবং তাপ চিকিত্সার গুণমান সনাক্তকরণ এবং বিশ্লেষণের জন্য একটি মূল সরঞ্জাম।
সাম্প্রতিক বছরগুলিতে, মাইক্রোইলেক্ট্রনিক্স শিল্পে চিপ উত্পাদন সমর্থন করার জন্য উচ্চ বিবর্ধন প্ল্যানার মাইক্রোস্কোপি প্রযুক্তির প্রয়োজনীয়তার কারণে, শিল্পের বিশেষ চাহিদা মেটাতে ধাতব অণুবীক্ষণ যন্ত্র চালু করা হয়েছে এবং ক্রমাগত উন্নত করা হয়েছে। ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ, যেহেতু নমুনার পর্যবেক্ষণ পৃষ্ঠটি ওয়ার্কটেবলের পৃষ্ঠের সাথে মিলে যায়, তাই পর্যবেক্ষণের উদ্দেশ্যটি ওয়ার্কটেবিলের নীচে অবস্থিত এবং উপরের দিকে পর্যবেক্ষণ করা হয়। এই পর্যবেক্ষণ ফর্ম নমুনার উচ্চতা দ্বারা সীমাবদ্ধ নয়, এবং ব্যবহার করা সহজ। যন্ত্রের গঠন কমপ্যাক্ট, চেহারা সুন্দর এবং উদার এবং ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ বেসটিতে একটি বড় সাপোর্ট এলাকা এবং মাধ্যাকর্ষণ কম কেন্দ্র রয়েছে, যা স্থিতিশীল এবং নির্ভরযোগ্য। আইপিস এবং সমর্থন পৃষ্ঠটি 45 ডিগ্রীতে কাত হয়, যা পর্যবেক্ষণকে আরামদায়ক করে তোলে।
