একটি ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ একটি পরমাণুর ভিতরে গঠন দেখতে পারে?
ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ পরমাণুর অভ্যন্তরীণ গঠন দেখতে পারে না। পরমাণু রাসায়নিক উপাদানগুলির মৌলিক একক গঠন করে এবং রাসায়নিক পরিবর্তনের ক্ষুদ্রতম কণা, অর্থাৎ, সাধারণ রাসায়নিক পরিবর্তন দ্বারা উপবিভক্ত করা যায় না। ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ পরমাণু পর্যবেক্ষণ করতে পারে, কিন্তু পরমাণুর অভ্যন্তরীণ গঠন (নিউক্লিয়াস এবং ইলেকট্রন মেঘ) সরাসরি পর্যবেক্ষণ করা অত্যন্ত কঠিন।
ইলেক্ট্রন লেন্সগুলি ইলেকট্রন ফোকাস করতে ব্যবহৃত হয় এবং এটি একটি ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ টিউবের সবচেয়ে গুরুত্বপূর্ণ অংশ। সাধারণত, একটি চৌম্বক লেন্স ব্যবহার করা হয়, এবং কখনও কখনও একটি ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক লেন্স ব্যবহার করা হয়। এটি একটি ফোকাস তৈরি করতে অক্ষের দিকে ইলেক্ট্রন ট্র্যাজেক্টরি বাঁকানোর জন্য লেন্স ব্যারেলের অক্ষের সাথে প্রতিসম বৈদ্যুতিক বা চৌম্বক ক্ষেত্র ব্যবহার করে। এটি একটি অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপে একটি অপটিক্যাল লেন্স (উত্তল লেন্স) এর মতো কাজ করে এবং একটি হালকা রশ্মি ফোকাস করতে ব্যবহৃত হয়।
ইলেক্ট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্রের ধরন ও ব্যবহার:
ইলেক্ট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্রকে তাদের গঠন ও ব্যবহার অনুযায়ী ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্র, স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্র, প্রতিফলন ইলেক্ট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্র এবং নির্গমন ইলেক্ট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্রে ভাগ করা যায়।
ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি প্রায়ই সূক্ষ্ম উপাদান কাঠামো পর্যবেক্ষণ করতে ব্যবহৃত হয় যা সাধারণ মাইক্রোস্কোপ দ্বারা সমাধান করা যায় না; স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি প্রধানত কঠিন পদার্থের পৃষ্ঠের রূপবিদ্যা পর্যবেক্ষণ করতে ব্যবহৃত হয় এবং এটি এক্স-রে ডিফ্র্যাক্টোমিটার বা ইলেক্ট্রন শক্তি স্পেকট্রোমিটারের সাথেও ব্যবহার করা যেতে পারে। উপাদান গঠন বিশ্লেষণের জন্য ইলেক্ট্রন প্রোব গঠন করে; নির্গমন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি স্ব-নির্গত ইলেক্ট্রন পৃষ্ঠতল অধ্যয়ন করতে ব্যবহৃত হয়।
