ইলেকট্রনিক্স শিল্পে ক্ষুদ্র যন্ত্রগুলিতে ইনফ্রারেড মাইক্রোস্কোপির প্রয়োগ
ন্যানো প্রযুক্তির বিকাশের সাথে সাথে, এর টপ-ডাউন সংকোচন পদ্ধতিটি সেমিকন্ডাক্টর প্রযুক্তির ক্ষেত্রে ক্রমবর্ধমানভাবে ব্যবহৃত হচ্ছে। অতীতে, আমরা সবাই IC প্রযুক্তিকে "মাইক্রোইলেক্ট্রনিক্স" প্রযুক্তি বলতাম, কারণ ট্রানজিস্টরের আকার ছিল মাইক্রোন (10-6 মিটার) স্তরে। যাইহোক, সেমিকন্ডাক্টর প্রযুক্তি খুব দ্রুত বিকাশ করছে। প্রতি দুই বছরে, এটি একটি প্রজন্মকে এগিয়ে নিয়ে যাবে এবং এর আকার তার আসল আকারের অর্ধেকে সঙ্কুচিত হবে। এটি বিখ্যাত মুরের আইন। প্রায় 15 বছর আগে, সেমিকন্ডাক্টরগুলি সাব-মাইক্রন যুগে প্রবেশ করতে শুরু করে, যা একটি মাইক্রনের চেয়ে ছোট, এবং তারপরে গভীর সাব-মাইক্রন যুগে চলে যায়, যা একটি মাইক্রনের চেয়ে অনেক ছোট। 2001 সাল নাগাদ, ট্রানজিস্টরের আকার 0.1 মাইক্রনের থেকেও ছোট, বা 100 ন্যানোমিটারেরও কম ছিল। এটি ন্যানোইলেক্ট্রনিক্সের যুগ, এবং ভবিষ্যতের বেশিরভাগ আইসি ন্যানো প্রযুক্তি দিয়ে তৈরি হবে।
দক্ষতা প্রয়োজন:
বর্তমানে, ইলেকট্রনিক ডিভাইসের প্রধান ব্যর্থতার ফর্ম হল তাপীয় ব্যর্থতা। পরিসংখ্যান অনুসারে, 55% ইলেকট্রনিক ডিভাইসের ব্যর্থতা নির্দিষ্ট মান অতিক্রম করে তাপমাত্রার কারণে ঘটে। তাপমাত্রা বাড়ার সাথে সাথে ইলেকট্রনিক ডিভাইসের ব্যর্থতার হার দ্রুত বৃদ্ধি পায়। সাধারণভাবে বলতে গেলে, বৈদ্যুতিন উপাদানগুলির কাজের নির্ভরযোগ্যতা তাপমাত্রার জন্য অত্যন্ত সংবেদনশীল। ডিভাইসের তাপমাত্রা 70-80 ডিগ্রির উপরে প্রতি 1 ডিগ্রি বৃদ্ধির জন্য, নির্ভরযোগ্যতা 5% কমে যাবে। অতএব, ডিভাইসের তাপমাত্রা দ্রুত এবং নির্ভরযোগ্যভাবে সনাক্ত করা প্রয়োজন। সেমিকন্ডাক্টর ডিভাইসের আকার ছোট এবং ছোট হয়ে যাওয়ার সাথে সাথে সনাক্তকরণ সরঞ্জামগুলির তাপমাত্রা রেজোলিউশন এবং স্থানিক রেজোলিউশনের উপর উচ্চতর প্রয়োজনীয়তা স্থাপন করা হয়।
কিভাবে একটি টুল মাইক্রোস্কোপ দিয়ে জিংক অনুপ্রবেশ স্তরের গভীরতা পরিমাপ করা যায়
কিভাবে একটি টুল মাইক্রোস্কোপ ব্যবহার করে দস্তা স্তরের গভীরতা পরিমাপ করা যায়:
1. নমুনাটি কাটা (জিঙ্ক-অনুপ্রবেশকারী নমুনাটি তাজা ধাতব পৃষ্ঠটি উন্মুক্ত করার জন্য একটি ধাতব কাটিং মেশিন দিয়ে অক্ষের উল্লম্ব দিক বরাবর কাটা হয়, এবং তারপরে একটি প্লাস্টিক তৈরি করতে বেকেলাইট পাউডারে ধাতব নমুনাটি জড়ানোর জন্য একটি ইনলে মেশিন ব্যবহার করুন। ধাতব যৌগিক নমুনা (নমুনা) এটিকে টুল মাইক্রোস্কোপের ওয়ার্কবেঞ্চে রাখুন, আলোর উত্সটি চালু করুন, পৃষ্ঠের আলোর উত্স সামঞ্জস্য করুন, ফোকাস এবং ম্যাগনিফিকেশন সামঞ্জস্য করুন, যাতে পিসি ডিসপ্লেতে একটি পরিষ্কার চিত্র দেখা যায়।
2. ওয়ার্কবেঞ্চের X এবং Y দিকনির্দেশক নবগুলি ঘোরান যাতে কার্সার ক্রস লাইনটি ধাতব অনুপ্রবেশ স্তরের সমালোচনামূলক বিন্দুর সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ হয়, পয়েন্টগুলির স্থানাঙ্কগুলি পেতে প্যাডেলের উপর যান এবং প্রাপ্ত প্রতিটি দুটি স্থানাঙ্ক বিন্দুকে একটি হিসাবে সংজ্ঞায়িত করুন সরলরেখা, ফলে মোট 4 পয়েন্ট। দুটি সরলরেখা তৈরি করুন,
3. সফ্টওয়্যারে সরল রেখার মধ্যবর্তী দূরত্বটি ব্যবহার করে সরাসরি দুটি সরল রেখার মধ্যে দূরত্ব খুঁজে বের করুন, অর্থাৎ জিঙ্ক-অনুপ্রবেশকারী স্তরের গভীরতা। জিঙ্ক-অনুপ্রবেশকারী স্তরের গভীরতা পরিমাপ করার জন্য একটি টুল মাইক্রোস্কোপ ব্যবহার করা স্বজ্ঞাত। একই সময়ে, টুল মাইক্রোস্কোপের সম্পর্কিত সফ্টওয়্যারটি অন্যান্য অ-মানক নমুনার দস্তা-অনুপ্রবেশকারী স্তরের গভীরতাও পরিমাপ করতে পারে।
