ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ বনাম অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপগুলির সুবিধা
ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ হ'ল ইলেক্ট্রন অপটিক্সের নীতির উপর ভিত্তি করে একটি উপকরণ, যা খুব উচ্চ মাত্রায় পদার্থের সূক্ষ্ম কাঠামো চিত্রিত করতে বিম এবং অপটিক্যাল লেন্সগুলির পরিবর্তে ইলেক্ট্রন বিম এবং ইলেক্ট্রন লেন্স ব্যবহার করে।
একটি ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের রেজোলিউশনটি সংলগ্ন পয়েন্টগুলির মধ্যে স্বল্প দূরত্ব দ্বারা প্রতিনিধিত্ব করা হয় যা এটি পার্থক্য করতে পারে। 197 0 s এ, ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপগুলির রেজোলিউশনটি ছিল প্রায় 0। 3 ন্যানোমিটার (মানুষের চোখের রেজোলিউশনটি প্রায় 0.1 মিলিমিটার)। আজকাল, ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপগুলিতে 3 মিলিয়নেরও বেশি বার ম্যাগনিফিকেশন রয়েছে, অন্যদিকে অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপগুলিতে প্রায় 2000 বার ম্যাগনিফিকেশন রয়েছে, তাই নির্দিষ্ট ভারী ধাতবগুলির পরমাণু এবং বৈদ্যুতিন মাইক্রোস্কোপের মাধ্যমে স্ফটিকগুলিতে ঝরঝরে সাজানো পারমাণবিক জালির সরাসরি পর্যবেক্ষণ করা সম্ভব।
1931 সালে, জার্মানি থেকে নোর এবং রুস্কা একটি শীতল ক্যাথোড স্রাব ইলেক্ট্রন উত্স এবং তিনটি ইলেক্ট্রন লেন্স সহ একটি উচ্চ-ভোল্টেজ অসিলোস্কোপ পরিবর্তন করেছে এবং প্রাপ্ত চিত্রগুলি দশবারেরও বেশি সময় বাড়িয়েছে, যা ম্যাগনিফিকেশন ইমেজিংয়ের জন্য বৈদ্যুতিন মাইক্রোস্কোপির সম্ভাবনা নিশ্চিত করে। 1932 সালে, রুস্কার উন্নতির সাথে সাথে ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপগুলির রেজোলিউশন 50 ন্যানোমিটারে পৌঁছেছিল, যা সেই সময়ে অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপগুলির রেজোলিউশনের প্রায় দশগুণ ছিল। অতএব, ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপগুলি মানুষের কাছ থেকে মনোযোগ পেতে শুরু করে।
194 0 s এর মধ্যে, মার্কিন যুক্তরাষ্ট্রের পাহাড়টি বৈদ্যুতিন লেন্সগুলির ঘূর্ণন অসমত্বের ক্ষতিপূরণ দেওয়ার জন্য একটি ডিফোগার ব্যবহার করেছিল, যা বৈদ্যুতিন মাইক্রোস্কোপগুলির সমাধানে একটি নতুন অগ্রগতি ঘটায় এবং ধীরে ধীরে আধুনিক স্তরে পৌঁছেছিল। চীনে, 3 ন্যানোমিটারের রেজোলিউশন সহ একটি সংক্রমণ ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ সফলভাবে 1958 সালে বিকাশ করা হয়েছিল এবং 0.3 ন্যানোমিটারের রেজোলিউশন সহ একটি বৃহত ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ 1979 সালে তৈরি করা হয়েছিল।
যদিও ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপগুলির রেজোলিউশনটি অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপগুলির তুলনায় অনেক বেশি হয়ে গেছে, ভ্যাকুয়াম অবস্থার অধীনে কাজ করার প্রয়োজনের কারণে তাদের জীবিত জীবগুলি পর্যবেক্ষণ করা কঠিন, এবং ইলেক্ট্রন বিমের বিকিরণের ফলে জৈবিক নমুনাগুলির বিকিরণের ক্ষতি হতে পারে। অন্যান্য বিষয়গুলি, যেমন ইলেক্ট্রন বন্দুকের উজ্জ্বলতা এবং ইলেক্ট্রন লেন্সের গুণমান উন্নত করার জন্য আরও গবেষণাও প্রয়োজন।
রেজোলিউশন হ'ল ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপির একটি গুরুত্বপূর্ণ সূচক, যা নমুনার মধ্য দিয়ে যাওয়া ইলেক্ট্রন মরীচিটির ঘটনার শঙ্কু কোণ এবং তরঙ্গদৈর্ঘ্যের সাথে সম্পর্কিত। দৃশ্যমান আলোর তরঙ্গদৈর্ঘ্য প্রায় {{0}} ন্যানোমিটার, যখন বৈদ্যুতিন মরীচিটির তরঙ্গদৈর্ঘ্য ত্বরণ ভোল্টেজের সাথে সম্পর্কিত। যখন ত্বরণ ভোল্টেজ 50-100 কেভির মধ্যে থাকে, তখন বৈদ্যুতিন মরীচিটির তরঙ্গদৈর্ঘ্য প্রায় 0। 0053-0। 0037 এনএম হয়। ইলেক্ট্রন মরীচিটির তরঙ্গদৈর্ঘ্য দৃশ্যমান আলোর চেয়ে অনেক ছোট, এমনকি ইলেক্ট্রন মরীচিটির শঙ্কু কোণটি অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের মাত্র 1% হলেও ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের রেজোলিউশনটি একটি অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের তুলনায় এখনও অনেক উন্নত।
একটি বৈদ্যুতিন মাইক্রোস্কোপে তিনটি অংশ রয়েছে: একটি নল, একটি ভ্যাকুয়াম সিস্টেম এবং একটি পাওয়ার ক্যাবিনেট। লেন্স ব্যারেলের প্রধান উপাদানগুলির মধ্যে একটি ইলেক্ট্রন বন্দুক, একটি ইলেক্ট্রন লেন্স, একটি নমুনা ধারক, একটি ফ্লুরোসেন্ট স্ক্রিন এবং একটি ক্যামেরা প্রক্রিয়া অন্তর্ভুক্ত রয়েছে, যা সাধারণত উপরে থেকে নীচে একটি নলাকার দেহে একত্রিত হয়; ভ্যাকুয়াম সিস্টেমে একটি যান্ত্রিক ভ্যাকুয়াম পাম্প, একটি প্রসারণ পাম্প এবং একটি ভ্যাকুয়াম ভালভ থাকে এবং এটি একটি এক্সস্টাস্ট পাইপলাইনের মাধ্যমে সিলিন্ডারের সাথে সংযুক্ত থাকে; পাওয়ার ক্যাবিনেটে একটি উচ্চ-ভোল্টেজ জেনারেটর, একটি উত্তেজনা বর্তমান স্ট্যাবিলাইজার এবং বিভিন্ন নিয়ন্ত্রণকারী এবং নিয়ন্ত্রণ ইউনিট নিয়ে গঠিত।
