ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের কাজের নীতি
ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ (TEM) {{0}}.2um এর চেয়ে ছোট সূক্ষ্ম কাঠামো পর্যবেক্ষণ করতে পারে যা একটি অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের নীচে স্পষ্টভাবে দেখা যায় না। এই কাঠামোগুলোকে বলা হয় সাবমাইক্রোস্কোপিক স্ট্রাকচার বা আল্ট্রাস্ট্রাকচার। এই কাঠামোগুলি পরিষ্কারভাবে দেখতে, মাইক্রোস্কোপের রেজোলিউশন উন্নত করার জন্য একটি ছোট তরঙ্গদৈর্ঘ্যের আলোর উত্স বেছে নেওয়া প্রয়োজন। 1932 সালে, রুস্কা আলোর উত্স হিসাবে একটি ইলেক্ট্রন মরীচি ব্যবহার করে একটি ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ আবিষ্কার করেছিলেন। ইলেক্ট্রন রশ্মির তরঙ্গদৈর্ঘ্য দৃশ্যমান এবং অতিবেগুনি রশ্মির চেয়ে অনেক কম এবং ইলেকট্রন রশ্মির তরঙ্গদৈর্ঘ্য নির্গত ইলেকট্রন বিমের ভোল্টেজের বর্গমূলের বিপরীত সমানুপাতিক, অর্থাৎ ভোল্টেজ যত বেশি হবে, তরঙ্গদৈর্ঘ্য তত কম হবে। বর্তমানে, TEM এর রেজোলিউশন 0.2nm এ পৌঁছাতে পারে।
একটি ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের কাজের নীতি হল যে একটি ইলেক্ট্রন বন্দুক দ্বারা নির্গত একটি ইলেক্ট্রন মরীচি একটি ভ্যাকুয়াম চ্যানেলে আয়নার শরীরের অপটিক্যাল অক্ষ বরাবর একটি কনডেনসারের মধ্য দিয়ে যায় এবং একটি তীক্ষ্ণ, উজ্জ্বল এবং অভিন্ন আলোর রশ্মিতে রূপান্তরিত হয়। কনডেনসার, যা নমুনা চেম্বারের ভিতরে নমুনার উপর বিকিরণ করা হয়; নমুনার মধ্য দিয়ে যাওয়া ইলেক্ট্রন রশ্মি নমুনার অভ্যন্তরীণ কাঠামোগত তথ্য বহন করে। নমুনার ঘন অংশের মধ্য দিয়ে যাওয়া ইলেকট্রনের পরিমাণ কম, অন্যদিকে স্পার্স অংশের মধ্য দিয়ে যাওয়া ইলেকট্রনের পরিমাণ বেশি; অবজেক্টিভ লেন্সের মাধ্যমে ফোকাস এবং প্রাথমিক বিবর্ধনের পর, ইলেক্ট্রন বিম নিম্ন মধ্যবর্তী লেন্সে প্রবেশ করে এবং ব্যাপক ম্যাগনিফিকেশন ইমেজিংয়ের জন্য প্রথম এবং দ্বিতীয় প্রজেকশন মিররে। অবশেষে, বিবর্ধিত ইলেক্ট্রন চিত্রটি পর্যবেক্ষণ কক্ষের ফ্লুরোসেন্ট স্ক্রিনে অভিক্ষিপ্ত হয়; একটি ফ্লুরোসেন্ট স্ক্রিন ব্যবহারকারীদের পর্যবেক্ষণ করার জন্য ইলেকট্রনিক ছবিকে দৃশ্যমান আলোর ছবিতে রূপান্তর করে। এই বিভাগটি প্রতিটি সিস্টেমের মূল কাঠামো এবং নীতিগুলি আলাদাভাবে পরিচয় করিয়ে দেবে।
