ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের কাজের নীতি এবং প্রয়োগ
ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ (সংক্ষেপে TEM) {{0}}.2um এর চেয়ে ছোট মাইক্রোস্ট্রাকচার দেখতে পারে যা অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের অধীনে স্পষ্টভাবে দেখা যায় না। এই কাঠামোগুলিকে বলা হয় সাবমাইক্রোস্ট্রাকচার বা আল্ট্রাস্ট্রাকচার। এই কাঠামোগুলি পরিষ্কারভাবে দেখতে, মাইক্রোস্কোপের রেজোলিউশন উন্নত করার জন্য একটি ছোট তরঙ্গদৈর্ঘ্য সহ একটি আলোর উত্স বেছে নেওয়া প্রয়োজন। 1932 সালে, রুস্কা আলোর উত্স হিসাবে ইলেক্ট্রন বিম সহ ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ আবিষ্কার করেছিলেন। ইলেক্ট্রন রশ্মির তরঙ্গদৈর্ঘ্য দৃশ্যমান আলো এবং অতিবেগুনি রশ্মির তুলনায় অনেক কম এবং ইলেকট্রন রশ্মির তরঙ্গদৈর্ঘ্য নির্গত ইলেকট্রন রশ্মির ভোল্টেজের বর্গমূলের বিপরীতভাবে সমানুপাতিক, অর্থাৎ ভোল্টেজ যত বেশি হবে। তরঙ্গদৈর্ঘ্য যত কম হবে। বর্তমানে, TEM এর রেজোলিউশন 0.2nm এ পৌঁছাতে পারে।
ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের কাজের নীতি হল যে ইলেক্ট্রন বন্দুক দ্বারা নির্গত ইলেক্ট্রন রশ্মি ভ্যাকুয়াম চ্যানেলে মিরর বডির অপটিক্যাল অক্ষ বরাবর কনডেনসার লেন্সের মধ্য দিয়ে যায় এবং এটিকে তীক্ষ্ণ, উজ্জ্বল এবং অভিন্ন আলোর দাগের গুচ্ছে রূপান্তরিত করে। কনডেন্সার লেন্সের মাধ্যমে, নমুনা চেম্বারে নমুনাকে বিকিরণ করে। উপরে; নমুনার মধ্য দিয়ে যাওয়ার পরে, ইলেক্ট্রন রশ্মি নমুনার ভিতরে কাঠামোগত তথ্য বহন করে, নমুনার ঘন অংশের মধ্য দিয়ে যাওয়া ইলেকট্রনের পরিমাণ কম এবং স্পার্স অংশের মধ্য দিয়ে যাওয়া ইলেকট্রনের পরিমাণ বেশি; অভিসারী সমন্বয় এবং উদ্দেশ্য লেন্সের প্রাথমিক পরিবর্ধনের পরে, ইলেক্ট্রন রশ্মি মধ্যবর্তী লেন্স নিম্ন পর্যায়ে প্রবেশ করে এবং প্রথম এবং দ্বিতীয় প্রজেকশন আয়না ব্যাপক বিবর্ধন ইমেজিং সঞ্চালন করে এবং অবশেষে বিবর্ধিত ইলেকট্রনিক চিত্রটি পর্যবেক্ষণ কক্ষের ফ্লুরোসেন্ট স্ক্রিনে প্রজেক্ট করা হয়। ; ফ্লুরোসেন্ট স্ক্রিন ব্যবহারকারীদের পর্যবেক্ষণ করার জন্য ইলেকট্রনিক ইমেজকে একটি দৃশ্যমান আলোর ছবিতে রূপান্তর করে। এই বিভাগটি যথাক্রমে প্রতিটি সিস্টেমের মূল কাঠামো এবং নীতিগুলি উপস্থাপন করবে।
ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি ইমেজিং নীতি
1. শোষণ চিত্র: যখন ইলেকট্রন উচ্চ ভর এবং ঘনত্বের সাথে একটি নমুনাকে আঘাত করে, তখন প্রধান পর্যায় গঠনটি বিক্ষিপ্ত হয়। যেখানে নমুনার ভর পুরুত্ব বড়, সেখানে ইলেকট্রনের বিক্ষিপ্ত কোণ বড়, এবং কম ইলেকট্রন অতিক্রম করে, তাই ছবির উজ্জ্বলতা গাঢ় হয়। প্রারম্ভিক সংক্রমণ ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ এই নীতির উপর ভিত্তি করে ছিল।
2. ডিফ্র্যাকশন ইমেজ: ইলেক্ট্রন রশ্মি নমুনা দ্বারা বিচ্ছুরিত হওয়ার পরে, নমুনার বিভিন্ন অবস্থানে বিচ্ছুরিত তরঙ্গের প্রশস্ততা বন্টন নমুনায় স্ফটিকের প্রতিটি অংশের বিভিন্ন বিচ্ছুরণ ক্ষমতার সাথে মিলে যায়। যখন একটি স্ফটিক ত্রুটি ঘটে, তখন ত্রুটিপূর্ণ অংশের বিচ্ছুরণ ক্ষমতা সম্পূর্ণ এলাকার থেকে ভিন্ন হয়, যাতে বিচ্ছুরিত তরঙ্গের প্রশস্ততা বন্টন সমান হয় না, যা স্ফটিক ত্রুটির বন্টনকে প্রতিফলিত করে।
3. ফেজ ইমেজ: যখন নমুনাটি 100Å এর চেয়ে পাতলা হয়, তখন ইলেকট্রন নমুনার মধ্য দিয়ে যেতে পারে, তরঙ্গের প্রশস্ততা পরিবর্তন উপেক্ষা করা যেতে পারে এবং ইমেজিংটি ফেজের পরিবর্তন থেকে আসে।
