কেন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের তুলনায় অনেক বেশি রেজোলিউশন আছে
যেহেতু ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপগুলি একটি ইলেক্ট্রন রশ্মি ব্যবহার করে এবং অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপগুলি দৃশ্যমান আলো ব্যবহার করে এবং ইলেকট্রন বিমের তরঙ্গদৈর্ঘ্য দৃশ্যমান আলোর তরঙ্গদৈর্ঘ্যের চেয়ে কম, একটি ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের রেজোলিউশন একটি অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের তুলনায় অনেক বেশি।
একটি অণুবীক্ষণ যন্ত্রের রেজোলিউশন নমুনার মধ্য দিয়ে যাওয়া ইলেক্ট্রন রশ্মির তরঙ্গদৈর্ঘ্য এবং ঘটনার শঙ্কু কোণের সাথে সম্পর্কিত।
দৃশ্যমান আলোর তরঙ্গদৈর্ঘ্য প্রায় {{0}} ন্যানোমিটার, যখন ইলেকট্রন বিমের তরঙ্গদৈর্ঘ্য ত্বরণ ভোল্টেজের সাথে সম্পর্কিত। তরঙ্গ-কণা দ্বৈততার নীতি অনুসারে, উচ্চ-গতির ইলেকট্রনগুলির তরঙ্গদৈর্ঘ্য দৃশ্যমান আলোর চেয়ে ছোট এবং একটি মাইক্রোস্কোপের রেজোলিউশন এটি যে তরঙ্গদৈর্ঘ্য ব্যবহার করে তার দ্বারা সীমিত, তাই একটি ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের রেজোলিউশন (0.2 ন্যানোমিটার) একটি অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের (200 ন্যানোমিটার) তুলনায় অনেক বেশি।
ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি প্রযুক্তির প্রয়োগ অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের উপর ভিত্তি করে তৈরি করা হয়েছে, যার রেজোলিউশন {{0}}.2 μm, এবং ট্রান্সমিশন ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ, যার রেজোলিউশন 0.2 nm, অর্থাৎ ট্রান্সমিশন ইলেকট্রন। অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের ভিত্তিতে মাইক্রোস্কোপকে 1,000 এর ফ্যাক্টর দ্বারা বড় করা হয়।
যদিও ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের রেজোলিউশন অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের তুলনায় অনেক বেশি, তবে এর কিছু অসুবিধা রয়েছে:
1, ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপে নমুনাগুলি অবশ্যই একটি ভ্যাকুয়ামে পর্যবেক্ষণ করতে হবে, তাই লাইভ নমুনাগুলি পর্যবেক্ষণ করা সম্ভব নয়। প্রযুক্তির অগ্রগতির সাথে, পরিবেশগত স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ ধীরে ধীরে সরাসরি লাইভ নমুনার পর্যবেক্ষণ উপলব্ধি করবে;
2, নমুনা প্রক্রিয়াকরণে এমন একটি কাঠামো তৈরি হতে পারে যা মূলত নমুনায় উপস্থিত ছিল না, যা পরবর্তীতে চিত্র বিশ্লেষণের অসুবিধাকে বাড়িয়ে তোলে;
3, অত্যন্ত শক্তিশালী ইলেক্ট্রন বিচ্ছুরণ ক্ষমতার কারণে, গৌণ বিচ্ছুরণের প্রবণতা এবং তাই;
4, ত্রিমাত্রিক বস্তুর দ্বি-মাত্রিক সমতল অভিক্ষেপ চিত্রের কারণে, কখনও কখনও চিত্রটি অনন্য হয় না;
5, কারণ ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ শুধুমাত্র খুব পাতলা নমুনা পর্যবেক্ষণ করতে পারে, এবং এটা সম্ভব যে উপাদানের পৃষ্ঠের গঠন উপাদানের অভ্যন্তরীণ গঠন থেকে ভিন্ন;
6, অতি-পাতলা নমুনা (100 ন্যানোমিটারের নিচে), নমুনা তৈরির প্রক্রিয়া জটিল এবং কঠিন, এবং নমুনা প্রস্তুতির ক্ষতি হয়;
7, ইলেক্ট্রন মরীচি সংঘর্ষ এবং উত্তাপের দ্বারা নমুনার ক্ষতি করতে পারে;
8, ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ ক্রয় এবং রক্ষণাবেক্ষণের দাম তুলনামূলকভাবে বেশি।
