অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ এবং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপগুলির মধ্যে প্রধান পার্থক্যগুলি কী কী?
অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ এবং ইলেক্ট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্র হল দুটি ভিন্ন ধরনের অণুবীক্ষণ যন্ত্র, যার সংজ্ঞা, শ্রেণিবিন্যাস এবং গঠন কাঠামোর পার্থক্য রয়েছে।
1. বিভিন্ন সংজ্ঞা
অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ (ওএম) হল একটি অপটিক্যাল যন্ত্র যা মাইক্রোস্ট্রাকচার সম্পর্কে তথ্য বের করার জন্য মানুষের চোখ দ্বারা আলাদা করা যায় না এমন ক্ষুদ্র বস্তুগুলিকে ম্যাগনিফাই এবং চিত্রিত করতে অপটিক্যাল নীতিগুলি ব্যবহার করে।
ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি প্রযুক্তির প্রয়োগ অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপির উপর ভিত্তি করে, অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপির জন্য রেজোলিউশন 0.2 μm এবং ট্রান্সমিশন ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপির জন্য 0.2 nm, যার মানে হল যে ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপির ভিত্তিতে 1000 বার বড় করে।
2. বিভিন্ন শ্রেণীবিভাগ
অপটিক্যাল অণুবীক্ষণ যন্ত্রের জন্য বিভিন্ন শ্রেণিবিন্যাস পদ্ধতি রয়েছে, যেগুলিকে ব্যবহৃত আইপিসের সংখ্যার উপর ভিত্তি করে তিন প্রকারে বিভক্ত করা যেতে পারে: বাইনোকুলার এবং মনোকুলার মাইক্রোস্কোপ; চিত্রটির ত্রিমাত্রিকতার ধারনা আছে কিনা তা অনুসারে, এটিকে স্টেরিও ভিশন এবং নন স্টেরিও ভিশন মাইক্রোস্কোপে ভাগ করা যায়; পর্যবেক্ষণ বস্তু অনুসারে, এটি জৈবিক এবং ধাতব অণুবীক্ষণ যন্ত্র ইত্যাদিতে ভাগ করা যায়; অপটিক্যাল নীতি অনুসারে, একে মেরুকরণ, ফেজ কন্ট্রাস্ট এবং ডিফারেনশিয়াল ইন্টারফারেন্স কনট্রাস্ট মাইক্রোস্কোপে ভাগ করা যায়।
ইলেক্ট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্রকে তাদের গঠন ও উদ্দেশ্য অনুযায়ী ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্র, স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্র, প্রতিফলন ইলেক্ট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্র এবং নির্গমন ইলেক্ট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্রে ভাগ করা যায়।
অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের পর্যবেক্ষণ পরিসীমা
আল্ট্রাস্ট্রাকচার নামেও পরিচিত। কোষের মধ্যে বিভিন্ন মাইক্রোস্ট্রাকচারকে বোঝায় যা নিয়মিত অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের অধীনে স্পষ্টভাবে আলাদা করা যায় না। একটি নিয়মিত অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের রেজোলিউশন সীমা প্রায় 0.2 মাইক্রোমিটার। কোষের ঝিল্লি, এন্ডোপ্লাজমিক রেটিকুলাম মেমব্রেন এবং নিউক্লিয়ার মেমব্রেনের পুরুত্ব, সেইসাথে রাইবোসোম, মাইক্রোবডি, মাইক্রোটিউবুলস এবং মাইক্রোফিলামেন্টের ব্যাস সবই 0.2 মাইক্রোমিটারের কম। অতএব, এই সেলুলার কাঠামো নিয়মিত অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ দিয়ে পর্যবেক্ষণ করা যায় না। কোষে বিভিন্ন সাবমাইক্রোস্কোপিক কাঠামো পর্যবেক্ষণ করতে, একটি উচ্চতর রেজোলিউশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ প্রয়োজন
0.2 মাইক্রনের কম ব্যাস বিশিষ্ট সূক্ষ্ম কাঠামো যা ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের নিচে দেখা যায় তাকে সাবমাইক্রোস্কোপিক স্ট্রাকচার বলে।
