স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপগুলির প্রকার এবং বৈশিষ্ট্যগুলি
বিভিন্ন ধরণের স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ রয়েছে এবং বিভিন্ন ধরণের স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপগুলিতে পারফরম্যান্সের পার্থক্য রয়েছে। ইলেক্ট্রন বন্দুকের ধরণ অনুসারে, এটি তিন ধরণের মধ্যে বিভক্ত করা যেতে পারে: ফিল্ড নির্গমন ইলেক্ট্রন বন্দুক, টুংস্টেন ওয়্যার বন্দুক এবং ল্যান্থানাম হেক্সাবোরাইড। এর মধ্যে, ফিল্ড নির্গমন স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপিটি ঠান্ডা ক্ষেত্রের নির্গমন স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি এবং হট ফিল্ড নির্গমন স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপিতে আলোর উত্সের পারফরম্যান্সের ভিত্তিতে বিভক্ত করা যেতে পারে। কোল্ড ফিল্ড নির্গমন স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি উচ্চ ভ্যাকুয়াম শর্ত, অস্থির মরীচি কারেন্ট, সংক্ষিপ্ত নির্গমনকারী জীবনকাল প্রয়োজন এবং সুই টিপটি নিয়মিত পরিষ্কার করার প্রয়োজন হয়, যা একক চিত্র পর্যবেক্ষণের মধ্যে সীমাবদ্ধ এবং একটি সীমিত প্রয়োগের পরিসীমা রয়েছে; তাপীয় ক্ষেত্রের নির্গমন স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপটিতে কেবল দীর্ঘ অবিচ্ছিন্ন কাজের সময়ই থাকে না, তবে বিস্তৃত বিশ্লেষণ অর্জনের জন্য বিভিন্ন আনুষাঙ্গিকগুলির সাথেও একত্রিত হতে পারে। ভূতত্ত্বের ক্ষেত্রে, আমাদের কেবল নমুনাগুলির প্রাথমিক রূপচর্চা পর্যবেক্ষণ করতে হবে না, তবে বিশ্লেষকদের সাথে সংমিশ্রণে নমুনাগুলির অন্যান্য বৈশিষ্ট্যগুলিও বিশ্লেষণ করা দরকার, সুতরাং তাপীয় ক্ষেত্র নির্গমন স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপির প্রয়োগ আরও বিস্তৃত।
যদিও ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি স্ক্যান করা মাইক্রোস্কোপ পরিবারে একজন আগত, তবে এর বিকাশের গতি তার অনেক সুবিধার কারণে খুব দ্রুত।
উপকরণটির একটি উচ্চ রেজোলিউশন রয়েছে এবং মাধ্যমিক ইলেক্ট্রন ইমেজিংয়ের মাধ্যমে নমুনার পৃষ্ঠে প্রায় 6nm এর বিশদ পর্যবেক্ষণ করতে পারে। একটি LAB6 ইলেক্ট্রন বন্দুক ব্যবহার করে এটি আরও 3nm এ উন্নত করা যেতে পারে।
যন্ত্রটির বিস্তৃত পরিবর্তনগুলি রয়েছে এবং ক্রমাগত সামঞ্জস্য করা যায়। অতএব, প্রয়োজন অনুসারে পর্যবেক্ষণের জন্য বিভিন্ন আকারের দৃশ্যের ক্ষেত্রগুলি নির্বাচন করা যেতে পারে এবং উচ্চ উজ্জ্বলতার সাথে পরিষ্কার চিত্রগুলি যা সাধারণ সংক্রমণ ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি দিয়ে অর্জন করা কঠিন তা উচ্চ ম্যাগনিফিকেশনেও পাওয়া যায়।
নমুনার ক্ষেত্রের গভীরতা এবং ক্ষেত্রের ক্ষেত্রটি বড় এবং চিত্রটি ত্রি-মাত্রিক অর্থে সমৃদ্ধ। এটি নমুনার বৃহত আনডুলেশন এবং অসম ধাতব ফ্র্যাকচার চিত্র সহ রুক্ষ পৃষ্ঠগুলি সরাসরি পর্যবেক্ষণ করতে পারে, যা মানুষকে মাইক্রোস্কোপিক বিশ্বে উপস্থিত থাকার অনুভূতি দেয়।
4 টি নমুনার প্রস্তুতি সহজ। যতক্ষণ না ব্লক বা পাউডার নমুনাগুলি সামান্য চিকিত্সা করা হয় বা চিকিত্সা করা হয় না ততক্ষণ এগুলি সরাসরি স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের অধীনে পর্যবেক্ষণ করা যেতে পারে, যা পদার্থের প্রাকৃতিক অবস্থার কাছাকাছি।
5। চিত্রের গুণমানটি কার্যকরভাবে নিয়ন্ত্রণ করা যায় এবং বৈদ্যুতিন পদ্ধতির মাধ্যমে উন্নত করা যায় যেমন উজ্জ্বলতা এবং বৈপরীত্যের স্বয়ংক্রিয় রক্ষণাবেক্ষণ, নমুনা টিল্ট কোণ সংশোধন, চিত্রের ঘূর্ণন, বা ওয়াই মড্যুলেশনের মাধ্যমে চিত্রের বিপরীতে সহনশীলতার উন্নতি, পাশাপাশি চিত্রের বিভিন্ন অংশে মাঝারি উজ্জ্বলতা এবং অন্ধকার। একটি দ্বৈত ম্যাগনিফিকেশন ডিভাইস বা চিত্র নির্বাচনকারী ব্যবহার করে, বিভিন্ন ম্যাগনিফিকেশন সহ চিত্রগুলি ফ্লুরোসেন্ট স্ক্রিনে একই সাথে পর্যবেক্ষণ করা যেতে পারে।
6 বিস্তৃত বিশ্লেষণের শিকার হতে পারে। একটি তরঙ্গদৈর্ঘ্য এক্স-রে স্পেকট্রোমিটার (ডাব্লুডিএক্স) বা এনার্জি ডিসপ্রেসিভ এক্স-রে স্পেকট্রোমিটার (ইডিএক্স) ইনস্টল করুন এটি একটি বৈদ্যুতিন তদন্ত হিসাবে কাজ করতে সক্ষম করতে এবং প্রতিফলিত ইলেক্ট্রন, এক্স-রে, ক্যাথোডোলুমিনেসেন্স, ট্রান্সমিটেড ইলেক্ট্রন, অ্যাগার ইলেক্ট্রন ইত্যাদি সনাক্ত করতে নমুনা দ্বারা নির্গত। বিভিন্ন মাইক্রোস্কোপিক এবং মাইক্রো অঞ্চল বিশ্লেষণ পদ্ধতিতে স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি প্রয়োগের প্রসারিতকরণ স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপিটির বহুমুখিতা প্রদর্শন করেছে। এছাড়াও, রূপচর্চা চিত্রটি পর্যবেক্ষণ করার সময় নমুনার নির্বাচিত মাইক্রো অঞ্চলগুলি বিশ্লেষণ করাও সম্ভব; সেমিকন্ডাক্টর নমুনা ধারক সংযুক্তি ইনস্টল করে, ট্রানজিস্টর বা ইন্টিগ্রেটেড সার্কিটগুলিতে পিএন জংশন এবং মাইক্রো ত্রুটিগুলি সরাসরি বৈদ্যুতিন ফোর্স ইমেজ এমপ্লিফায়ারের মাধ্যমে পর্যবেক্ষণ করা যেতে পারে। অনেকগুলি স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ ইলেক্ট্রন প্রোবগুলির জন্য বৈদ্যুতিন কম্পিউটার স্বয়ংক্রিয় এবং আধা-স্বয়ংক্রিয় নিয়ন্ত্রণের প্রয়োগের কারণে, পরিমাণগত বিশ্লেষণের গতি ব্যাপকভাবে উন্নত করা হয়েছে।
