একটি ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ এবং একটি মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপের মধ্যে পার্থক্য
স্ক্যানিং ইলেক্ট্রনমাইক্রোস্কোপ, সংক্ষেপে SEM, একটি জটিল সিস্টেম যা ইলেক্ট্রন অপটিক্যাল প্রযুক্তি, ভ্যাকুয়াম প্রযুক্তি, সূক্ষ্ম যান্ত্রিক কাঠামো এবং আধুনিক কম্পিউটার নিয়ন্ত্রণ প্রযুক্তিকে ঘনীভূত করে। স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ উচ্চ ভোল্টেজকে ত্বরান্বিত করার ক্রিয়াকলাপের অধীনে একটি বহু-পর্যায়ের ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক লেন্সের মাধ্যমে একটি ছোট ইলেকট্রন রশ্মিতে ইলেকট্রন বন্দুক দ্বারা নির্গত ইলেকট্রন সংগ্রহ করে। নমুনা পৃষ্ঠ স্ক্যান করা বিভিন্ন তথ্য উদ্দীপিত করে, এবং তথ্য গ্রহণ, প্রশস্তকরণ এবং প্রদর্শনের মাধ্যমে নমুনা পৃষ্ঠ বিশ্লেষণ করা যেতে পারে। ঘটনা ইলেকট্রন এবং নমুনার মধ্যে মিথস্ক্রিয়া চিত্র 1-এ দেখানো তথ্যের প্রকারগুলি তৈরি করে। এই তথ্যের দ্বি-মাত্রিক তীব্রতা বন্টন নমুনা পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্যগুলির সাথে পরিবর্তিত হয় (এই বৈশিষ্ট্যগুলির মধ্যে রয়েছে পৃষ্ঠের আকারবিদ্যা, গঠন, স্ফটিক অভিযোজন, ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক বৈশিষ্ট্য, ইত্যাদি), যা বিভিন্ন ডিটেক্টর দ্বারা সংগৃহীত তথ্যের একটি অনুক্রমিক এবং আনুপাতিক রূপান্তর। ভিডিও সংকেতটিকে একটি ভিডিও সংকেতে রূপান্তরিত করা হয় এবং তারপরে একটি সিঙ্ক্রোনাসভাবে স্ক্যান করা পিকচার টিউবে পাঠানো হয় এবং এর উজ্জ্বলতা নমুনার পৃষ্ঠের অবস্থা প্রতিফলিত করে একটি স্ক্যান করা চিত্র পেতে মড্যুলেট করা হয়। যদি ডিটেক্টর দ্বারা প্রাপ্ত সংকেতটি ডিজিটালভাবে প্রক্রিয়া করা হয় এবং একটি ডিজিটাল সিগন্যালে রূপান্তরিত হয় তবে এটি কম্পিউটার দ্বারা আরও প্রক্রিয়াকরণ এবং সংরক্ষণ করা যেতে পারে। স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি প্রধানত বড় উচ্চতার পার্থক্য এবং রুক্ষ অসমতা সহ মোটা নমুনাগুলি পর্যবেক্ষণ করতে ব্যবহৃত হয়। তাই ডিজাইনে ফিল্ড ইফেক্টের গভীরতা তুলে ধরা হয়েছে। এটি সাধারণত ফ্র্যাকচার এবং প্রাকৃতিক পৃষ্ঠতল বিশ্লেষণ করতে ব্যবহৃত হয় যা কৃত্রিমভাবে প্রক্রিয়া করা হয়নি।
ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ এবং মেটালার্জিক্যাল মাইক্রোস্কোপ
1. বিভিন্ন আলোর উত্স: মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপগুলি আলোর উত্স হিসাবে দৃশ্যমান আলো ব্যবহার করে এবং স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপগুলি ইমেজিংয়ের জন্য আলোর উত্স হিসাবে ইলেক্ট্রন বিম ব্যবহার করে৷
2. বিভিন্ন নীতি: মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপগুলি ইমেজিংয়ের জন্য জ্যামিতিক অপটিক্স ইমেজিংয়ের নীতি ব্যবহার করে, যখন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপগুলি স্ক্যান করার সময় উচ্চ-শক্তির ইলেকট্রন বিম ব্যবহার করে নমুনা পৃষ্ঠের উপর বিভিন্ন শারীরিক সংকেতকে উদ্দীপিত করতে নমুনা পৃষ্ঠে বোমাবর্ষণ করতে এবং তারপর বিভিন্ন সংকেত সনাক্তকারী ব্যবহার করে শারীরিক সংকেত এবং তাদের ইমেজ রূপান্তর. তথ্য
3. বিভিন্ন রেজোলিউশন: আলোর হস্তক্ষেপ এবং বিচ্ছুরণের কারণে, একটি ধাতব অণুবীক্ষণ যন্ত্রের রেজোলিউশন শুধুমাত্র 0 2-0.5um এর মধ্যে সীমাবদ্ধ হতে পারে। যেহেতু স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ আলোর উৎস হিসেবে ইলেকট্রন বিম ব্যবহার করে, এর রেজোলিউশন 1-3nm এর মধ্যে পৌঁছাতে পারে। অতএব, মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপের অধীনে টিস্যু পর্যবেক্ষণ মাইক্রোন-স্তরের বিশ্লেষণের অন্তর্গত, যখন স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের অধীনে টিস্যু পর্যবেক্ষণ ন্যানো-স্তরের বিশ্লেষণের অন্তর্গত।
4. ক্ষেত্রের বিভিন্ন গভীরতা: সাধারণত, একটি ধাতব অণুবীক্ষণ যন্ত্রের ক্ষেত্রের গভীরতা 2-3um এর মধ্যে থাকে, তাই নমুনার পৃষ্ঠের মসৃণতার জন্য এটির অত্যন্ত উচ্চ প্রয়োজনীয়তা রয়েছে, তাই এর নমুনা তৈরির প্রক্রিয়া তুলনামূলকভাবে জটিল। স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের ক্ষেত্রটির একটি বড় গভীরতা, একটি বিশাল ক্ষেত্র এবং একটি ত্রিমাত্রিক চিত্র রয়েছে এবং এটি বিভিন্ন নমুনার অসম পৃষ্ঠের সূক্ষ্ম গঠনগুলি সরাসরি পর্যবেক্ষণ করতে পারে।
