একটি অর্থোস্ট্যাটিক মাইক্রোস্কোপ বা একটি উল্টানো মাইক্রোস্কোপ ক্রয়
মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ, যাকে উপাদান মাইক্রোস্কোপও বলা হয়, প্রধানত ধাতব টিস্যুর গঠন পর্যবেক্ষণ করতে ব্যবহৃত হয়, যাকে অর্থোগোনাল মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ এবং ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপে ভাগ করা যায়।
পজিটিভ ইমেজের জন্য ইমেজিং পর্যবেক্ষণে অর্থোগোনাল মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ, যা ব্যবহারকারীর পর্যবেক্ষণ এবং সনাক্তকরণে দারুণ সুবিধা নিয়ে আসে, বিশ্লেষণ এবং সনাক্তকরণের জন্য ধাতব নমুনার উচ্চতা 20-30মিমি ছাড়াও, কারণ মানুষের কারণে দৈনন্দিন অভ্যাস, তাই আরো ব্যাপকভাবে স্বচ্ছ, স্বচ্ছ বা অস্বচ্ছ পদার্থ ব্যবহৃত. লক্ষ্য পর্যবেক্ষণের জন্য 3 মাইক্রনের কম 20 মাইক্রন, যেমন ধাতব সিরামিক, ইলেকট্রনিক চিপ, প্রিন্টেড সার্কিট, এলসিডি সাবস্ট্রেট, ফিল্ম, ফাইবার, দানাদার বস্তু, কলাই এবং অন্যান্য উপাদানের পৃষ্ঠের গঠন, ট্রেস, একটি ভাল ইমেজিং প্রভাব ফেলতে পারে। উপরন্তু, বহিরাগত ক্যামেরা সিস্টেম সুবিধাজনকভাবে ভিডিও স্ক্রীন এবং কম্পিউটারের সাথে রিয়েল-টাইম এবং স্ট্যাটিক এবং গতিশীল ইমেজ পর্যবেক্ষণ, সংরক্ষণ এবং সম্পাদনা, বিভিন্ন সফ্টওয়্যারের সাথে মিলিত মুদ্রণ আরও পেশাদার মেটালোগ্রাফিক, পরিমাপ, ইন্টারেক্টিভ শিক্ষার ক্ষেত্র হতে পারে। চাহিদা. অপটিক্যাল প্লেন ইমেজিং পদ্ধতি ব্যবহার করে ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ, বিভিন্ন ধাতু এবং সংকর ধাতু সনাক্তকরণ এবং বিশ্লেষণ করার জন্য সংগঠন, ধাতব পদার্থবিজ্ঞানের ধাতব গবেষণার জন্য একটি গুরুত্বপূর্ণ হাতিয়ার, ঢালাইয়ের গুণমান, কাঁচামাল পরিদর্শনের জন্য কারখানা বা পরীক্ষাগারে ব্যাপকভাবে ব্যবহার করা যেতে পারে, বা গবেষণা এবং বিশ্লেষণ কাজের উপাদান ধাতব সংস্থার প্রক্রিয়া চিকিত্সা, যাতে খনির ফলাফলের স্বজ্ঞাত বিশ্লেষণ প্রদান করতে, ধাতুবিদ্যা, উত্পাদন, খনির মধ্যে যন্ত্রপাতি প্রক্রিয়াকরণ শিল্প, ধাতুবিদ্যা, উত্পাদন, ঢালাইয়ে যন্ত্রপাতি প্রক্রিয়াকরণ শিল্প, গলানো, তাপ চিকিত্সার গুণমান সনাক্তকরণ এবং মূল সরঞ্জামগুলির বিশ্লেষণ।
সাম্প্রতিক বছরগুলিতে, মাইক্রোইলেক্ট্রনিক্স শিল্পে চিপ উত্পাদন সমর্থন করার জন্য উচ্চ-বিবর্ধন সমতল মাইক্রোস্কোপ প্রযুক্তির প্রয়োজন, তাই, ধাতব মাইক্রোস্কোপ ব্যবহারকে প্রচার করার জন্য ক্ষেত্রের মধ্যে চালু করা হয়েছিল এবং শিল্পের বিশেষ চাহিদা মেটাতে ক্রমাগত উন্নতি করছে। উল্টানো মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ, টেবিলের পৃষ্ঠের ওভারল্যাপের সাথে নমুনা পর্যবেক্ষণের মুখোমুখি হওয়ার কারণে, পর্যবেক্ষণের উদ্দেশ্য লেন্সটি টেবিলের নীচে অবস্থিত, ঊর্ধ্বগামী পর্যবেক্ষণ, এই পর্যবেক্ষণ ফর্মটি নমুনার উচ্চতার সীমাবদ্ধতার বিষয় নয়, ব্যবহার করা সহজ, যন্ত্রটির একটি কম্প্যাক্ট কাঠামো রয়েছে, একটি সুন্দর এবং উদার চেহারা, উল্টানো ধাতব মাইক্রোস্কোপ বেস সমর্থন এলাকা বড়, মাধ্যাকর্ষণ নিম্ন কেন্দ্র, ** মসৃণ এবং নির্ভরযোগ্য, আইপিস এবং 45 ডিগ্রি সেলসিয়াসের প্রবণতার সমর্থন পৃষ্ঠ, পর্যবেক্ষণ এবং আরাম
