আবরণ পুরুত্ব পরিমাপক, F, N এবং FN বলতে কী বোঝায়?
আবরণ পুরুত্ব পরিমাপক অ-চৌম্বকীয় আবরণ (যেমন অ্যালুমিনিয়াম, ক্রোমিয়াম, তামা, এনামেল, রাবার, পেইন্ট, ইত্যাদি) চৌম্বকীয় ধাতব স্তরগুলিতে (যেমন ইস্পাত, লোহা, খাদ এবং শক্ত চৌম্বকীয় ইস্পাত ইত্যাদি) পুরুত্ব পরিমাপ করে। সেইসাথে অ-চৌম্বকীয় ধাতব স্তরগুলিতে (যেমন তামা, অ্যালুমিনিয়াম, দস্তা, টিন, ইত্যাদি) নন-পরিবাহী ক্ল্যাডিংসের পুরুত্ব (যেমন এনামেল, রাবার, রঙ, প্লাস্টিক, ইত্যাদি)। তাহলে লেপের পুরুত্ব পরিমাপক এফ, এন এবং এফএন কিসের পক্ষে? একটি বিস্তারিত ভূমিকার জন্য Shenzhen উৎস Hengtong Technology Co., Ltd.
লৌহঘটিত ফেরোম্যাগনেটিক সাবস্ট্রেটের পক্ষে F, ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক ইন্ডাকশন নীতি ব্যবহার করে F-টাইপ আবরণ বেধ পরিমাপক, নন-ফেরোম্যাগনেটিক আবরণ, প্রলেপ, যেমন: পেইন্ট, পাউডার, প্লাস্টিক, রাবার, সিন্থেটিক এর উপর ইস্পাত, লোহা এবং অন্যান্য ফেরোম্যাগনেটিক ধাতব স্তর পরিমাপ করতে। উপকরণ, ফসফেটিং স্তর, ক্রোমিয়াম, দস্তা, সীসা, অ্যালুমিনিয়াম, টিন, ক্যাডমিয়াম, চীনামাটির বাসন, এনামেল, অক্সাইড স্তর।
N-এর অর্থ হল নন-লৌহঘটিত নন-ফেরোম্যাগনেটিক সাবস্ট্রেট, এন-টাইপ আবরণ বেধ পরিমাপক এডি কারেন্ট নীতি ব্যবহার করে; কপার, অ্যালুমিনিয়াম, দস্তা, টিন এবং এনামেল, রাবার, পেইন্ট, প্লাস্টিকের স্তর এবং অন্যান্য স্তরগুলি পরিমাপ করতে এডি কারেন্ট সেন্সর পরিমাপ করতে।
FN ধরনের আবরণ বেধ গেজ উভয় ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক ইন্ডাকশন নীতি, এবং এডি কারেন্ট নীতির ব্যবহার, F টাইপ এবং N টাইপ টু-ইন-ওয়ান আবরণ বেধ গেজ।
বেধ গেজের পরিমাপের নীতির সংক্ষিপ্ত বিবরণ
বেধ পরিমাপক একটি যন্ত্র যা একটি বস্তুর পুরুত্ব পরিমাপ করতে ব্যবহৃত হয়, যা মাইক্রোওয়েভ এবং লেজার প্রযুক্তি ব্যবহার করে তৈরি করা হয়। এটি লেজারের পুরুত্ব পরিমাপক, এক্স-রে পুরুত্ব পরিমাপক, ফিল্ম পুরুত্ব পরিমাপক ইত্যাদিতে শ্রেণীবদ্ধ করা হয়। বেধ গেজ পরীক্ষার পদ্ধতিগুলি হল: চৌম্বকীয় বেধ পরিমাপ, রেডিওমেট্রিক বেধ পরিমাপ, ইলেক্ট্রোলাইটিক বেধ পরিমাপ, এডি বর্তমান বেধ পরিমাপ, অতিস্বনক বেধ পরিমাপ।
এর পরিমাপ নীতি:
ডিভাইসটি মাউন্টিং বন্ধনী থেকে বস্তুর পৃষ্ঠের দূরত্ব পরিমাপ করে এবং তারপর বন্ধনীটির নির্দিষ্ট দূরত্বের উপর ভিত্তি করে বস্তুর পুরুত্ব গণনা করে।
লেজার রশ্মি পরিমাপ করার জন্য বস্তুর পৃষ্ঠের উপর একটি খুব ছোট দাগ তৈরি করে এবং ইমেজিং অবজেক্টিভ লেন্স আলোক সংবেদনশীল রিসিভারের আলোক সংবেদনশীল পৃষ্ঠায় স্থানটিকে চিত্রিত করে, একটি বৈদ্যুতিক সংকেত তৈরি করে যা এর সংবেদনশীল পৃষ্ঠে স্পটটির অবস্থান সনাক্ত করে। . যখন পরীক্ষার অধীন বস্তুটি নড়াচড়া করে, তখন ইমেজিং উদ্দেশ্যের অবস্থানের সাপেক্ষে তার পৃষ্ঠের স্পট পরিবর্তিত হয় এবং সেই অনুযায়ী আলোক সংবেদনশীল ডিভাইসে এর চিত্র বিন্দুর অবস্থানও পরিবর্তিত হওয়া উচিত এবং তারপরে নীচে বস্তুর প্রকৃত দূরত্ব গণনা করা যেতে পারে। পরীক্ষা বেধ পরিমাপক পরীক্ষার পদ্ধতিগুলি হল: চৌম্বকীয় বেধ, রেডিওমেট্রিক বেধ, ইলেক্ট্রোলাইটিক বেধ, এডি কারেন্ট বেধ, অতিস্বনক বেধ।
