MINI স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ SEM বনাম অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ
ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ হল আলোকসজ্জার উৎস হিসেবে একটি ইলেক্ট্রন রশ্মি, যা ট্রান্সমিশনের নমুনার উপর ইলেকট্রন প্রবাহের মাধ্যমে বা প্রতিফলন এবং ফ্লুরোসেন্ট স্ক্রিনে মাল্টি-স্টেজ অ্যামপ্লিফিকেশনের ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক লেন্সের মাধ্যমে বড় যন্ত্রের ইমেজ করার পর, ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ ইলেকট্রন প্রবাহের মাধ্যমে। দৃশ্যমান আলোর পরিবর্তে, লেন্সের পরিবর্তে চৌম্বক ক্ষেত্রের দ্বারা, যাতে সাধারণ দৃশ্যমান আলোর তুলনায় এক্স-রে-র তরঙ্গদৈর্ঘ্যের পরিবর্তে ইলেকট্রনের গতিবিধি উচ্চ ডিগ্রী রেজোলিউশনের সাথে ছবিতে ব্যবহার করা হয়। অপরদিকে অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ হল অপটিক্যাল যন্ত্র যা দৃশ্যমান আলোক আলোকে ব্যবহার করে ক্ষুদ্র বস্তুর বিবর্ধিত চিত্র তৈরি করে। সংক্ষেপে বলতে গেলে, ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ এবং অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের মধ্যে প্রধানত পার্থক্যের নিম্নলিখিত দিক রয়েছে:
1. বিভিন্ন আলোকসজ্জা উত্স. আলোকসজ্জার উত্সে ব্যবহৃত ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ হল ইলেকট্রন প্রবাহ দ্বারা জারি করা ইলেক্ট্রন বন্দুক, যখন আলোক মাইক্রোস্কোপের আলোকসজ্জার উত্স দৃশ্যমান আলো (দিবালোক বা আলো) হয়, কারণ ইলেকট্রন প্রবাহের তরঙ্গদৈর্ঘ্যের তুলনায় অনেক কম। আলোর তরঙ্গের, তাই ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের বিবর্ধন এবং আলোর অণুবীক্ষণ যন্ত্রের রেজোলিউশন আলোক মাইক্রোস্কোপের তুলনায় উল্লেখযোগ্যভাবে বেশি।
2. লেন্স ভিন্ন। অবজেক্টিভ লেন্সের ম্যাগনিফাইং রোলে ইলেকট্রোস্কোপ হল ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক লেন্স (টরয়েডাল ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক কয়েলের * অংশে একটি চৌম্বক ক্ষেত্র তৈরি করতে পারে), অন্যদিকে অপটিক্যাল মিররের অবজেক্টিভ লেন্স হল অপটিক্যাল লেন্স থেকে মিলিত একটি গ্লাস। মোট তিনটি গ্রুপে আয়নায় ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক লেন্স যথাক্রমে, ফোকাসিং লেন্সে আলোর আয়না, অবজেক্টিভ লেন্স এবং আইপিস ফাংশন সমতুল্য।
3. বিভিন্ন ইমেজিং নীতি. ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপে, ফ্লুরোসেন্ট স্ক্রিন ইমেজিং বা ফটোগ্রাফিক ফিল্ম ইমেজিংয়ের ভূমিকায় ইলেকট্রন বিমের ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক লেন্স পরিবর্ধন দ্বারা পরীক্ষা করা নমুনার ভূমিকা। ইলেক্ট্রনের তীব্রতার মধ্যে পার্থক্য হল যে প্রক্রিয়াটি হল, নমুনার উপর ইলেক্ট্রন রশ্মি পরীক্ষা করা হচ্ছে, ঘটনা ইলেকট্রন এবং বস্তুগত পরমাণুগুলি বিক্ষিপ্তকরণ তৈরি করতে সংঘর্ষ করে, ইলেকট্রনের উপর নমুনার বিভিন্ন অংশের কারণে একটি ভিন্ন মাত্রা রয়েছে বিক্ষিপ্ত, তাই নমুনা ইলেক্ট্রন ইমেজ উপস্থাপনার তীব্রতা. আলোর অণুবীক্ষণ যন্ত্রে নমুনার বস্তুর চিত্রটি উজ্জ্বলতার পার্থক্য দ্বারা উপস্থাপিত হয়, যা নমুনার বিভিন্ন কাঠামোর কারণে কতটা আলো শোষিত হয় তা পরীক্ষা করা হয়।
4. প্রস্তুতির বিভিন্ন উপায়ে ব্যবহৃত নমুনা, টিস্যু কোষের নমুনাগুলির ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি পর্যবেক্ষণ আরও জটিল পদ্ধতির প্রস্তুতিতে ব্যবহৃত হয়, প্রযুক্তিগত অসুবিধা এবং খরচ বেশি হয়, স্যাম্পলিং, ফিক্সেশন, ডিহাইড্রেশন এবং এমবেডিং এবং অন্যান্য দিকগুলির জন্য প্রয়োজনীয় বিশেষ বিকারক এবং অপারেশন, zui পরে 50 ~ 100nm পুরু নমুনার অতি-পাতলা স্লাইসার কাটা অতি-পাতলা স্লাইসারে রাখা টিস্যু একটি ভাল ব্লক এম্বেড করা প্রয়োজন। হালকা মাইক্রোস্কোপ দ্বারা পর্যবেক্ষণ করা নমুনাগুলি সাধারণত স্লাইডে রাখা হয়, যেমন সাধারণ টিস্যু বিভাগের নমুনা, কোষের স্মিয়ার নমুনা, টিস্যু সংকোচনের নমুনা এবং সেল ড্রপের নমুনা ইত্যাদি।
হালকা মাইক্রোস্কোপের রেজল্যুশন আলোক তরঙ্গের তরঙ্গদৈর্ঘ্যের সাথে সম্পর্কিত। আলোর তরঙ্গের তরঙ্গদৈর্ঘ্যের কাছাকাছি এবং ছোট বস্তুর জন্য, অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ কিছুই করতে পারে না। আলোক তরঙ্গের তরঙ্গদৈর্ঘ্যের চেয়ে অনেক কম তরঙ্গদৈর্ঘ্যে ইলেকট্রন গতি অনেক সূক্ষ্ম বস্তুকে দেখা সম্ভব করে তোলে। যদিও একটি অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ হল একটি ম্যাগনিফাইং ইমেজিং সিস্টেম যা অপটিক্যাল লেন্সগুলির একটি সেট নিয়ে গঠিত, একটি ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপে দৃশ্যমান আলোর পরিবর্তে ইলেকট্রনের একটি প্রবাহ, লেন্সের পরিবর্তে একটি চৌম্বক ক্ষেত্র এবং ফোটনের পরিবর্তে ইলেকট্রনের গতি থাকে, যা তৈরি করে। একটি অপটিক্যাল সিস্টেমের মাধ্যমে দেখা যায় তার চেয়ে ছোট বস্তু দেখা সম্ভব।
