মাইক্রোস্কোপ অপটিক্যাল ব্যর্থতা বিশ্লেষণ
মাইক্রোস্কোপিক ডবল ইমেজ মিলে না। বাইনোকুলার আইপিসগুলির পর্যবেক্ষণে, কখনও কখনও ডবল ইমেজ মিসলাইনমেন্টের একটি ঘটনা ঘটবে। ডবল ইমেজ মিসলাইনমেন্টের চেহারা দুটি লেন্স ব্যারেলের দৈর্ঘ্যের অসামঞ্জস্যপূর্ণ ক্ষতিপূরণের বিষয়ে চিন্তা করে না। দুটি আইপিসের বিবর্ধন বেশ ভিন্ন, এবং ব্যবহার বা পরিবহনের সময় কম্পনের ফলে বাইনোকুলার ক্ষতি হয়। তিনটি কারণে প্রিজমের অবস্থান স্থানান্তরিত হয়। প্রথম দুটি কারণে, ফ্যাক্টরি থেকে বের হওয়ার সময় সেগুলি ক্যালিব্রেট করা হয়েছে এবং মিলিত হয়েছে, এবং যতক্ষণ আপনি ব্যবহারের সময় পদ্ধতি এবং মিলের দিকে মনোযোগ দেবেন ততক্ষণ সেগুলি সমাধান করা যেতে পারে।
অণুবীক্ষণ যন্ত্রের তৃতীয় কারণটি বেশি সাধারণ। এই সময়ে, বাইনোকুলার শেলটি খোলা উচিত, প্ল্যাটফর্মে একটি ক্রস রুলার স্থাপন করা উচিত এবং 10X রেটিকল আইপিসগুলি পর্যবেক্ষণের জন্য বাম এবং ডান লেন্সের ব্যারেলে ঢোকানো উচিত এবং বাইনোকুলার প্রিজমের অবস্থান এবং কোণটি সংশোধন করা উচিত। . , এবং যখন বাইনোকুলার আইপিসগুলিকে বিভিন্ন কোণে পর্যবেক্ষণ করার জন্য ঘোরানো হয়, তখন ক্রস চিহ্নগুলির অবস্থানগুলি বাম এবং ডান আইপিসগুলির দৃশ্যের ক্ষেত্রের একই অবস্থানে থাকে এবং তারপরে সেগুলিকে শক্ত করে।
মাইক্রোস্কোপ বাইনোকুলার পর্যবেক্ষণ করার সময়, কখনও কখনও বাম এবং ডান ক্ষেত্রগুলির উজ্জ্বলতা এবং রঙে অসঙ্গতি দেখা দেয়, যা পর্যবেক্ষণকে প্রভাবিত করবে। বিম স্প্লিটিং প্রিজমের স্প্লিটিং ফিল্মের ক্ষতির কারণে এটি ঘটে। এই সময়ে, বিম স্প্লিটিং প্রিজম অপসারণ করা উচিত এবং সমাবেশ এবং ব্যবহারের আগে পুনরায় আবরণের জন্য মাইক্রোস্কোপ প্রস্তুতকারকের কাছে পাঠানো উচিত। .
খাড়া মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ এবং ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপের প্রয়োগের মধ্যে পার্থক্য
ইনভার্টেড মেটালারজিকাল মাইক্রোস্কোপ, যেহেতু নমুনার পর্যবেক্ষণ পৃষ্ঠ নীচের দিকে ওয়ার্কবেঞ্চের পৃষ্ঠের সাথে মিলে যায়, তাই পর্যবেক্ষণ উদ্দেশ্য লেন্সটি ওয়ার্কবেঞ্চের নীচে অবস্থিত এবং উপরের দিকে পর্যবেক্ষণ করা হয়, এই পর্যবেক্ষণ ফর্মটি নমুনার উচ্চতা দ্বারা সীমাবদ্ধ নয়, যতক্ষণ না একটি নমুনা প্রস্তুত করার সময় পর্যবেক্ষণ পৃষ্ঠ সমতল হয় তাই, এটি কারখানার পরীক্ষাগার, বৈজ্ঞানিক গবেষণা প্রতিষ্ঠান এবং কলেজগুলিতে ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয়। ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক অণুবীক্ষণ যন্ত্রের গোড়ায় একটি বড় সাপোর্টিং এরিয়া আছে, মাধ্যাকর্ষণ কম কেন্দ্র, স্থিতিশীল এবং নির্ভরযোগ্য অপারেশন, এবং আইপিস এবং সাপোর্টিং সারফেস 45 ডিগ্রীতে ঝুঁকে আছে, যা পর্যবেক্ষণকে আরামদায়ক করে তোলে।
খাড়া মেটালোগ্রাফিক অণুবীক্ষণ যন্ত্রের ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক অণুবীক্ষণ যন্ত্রের মতো একই মৌলিক কাজ রয়েছে, 20-30মিমি উচ্চতার ধাতব নমুনাগুলির বিশ্লেষণ এবং সনাক্তকরণ ব্যতীত, কারণ এটি মানুষের দৈনন্দিন অভ্যাসের সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ, এটি স্বচ্ছতায় আরও ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয় , স্বচ্ছ বা অস্বচ্ছ পদার্থ। খাড়া ধাতব মাইক্রোস্কোপ পর্যবেক্ষণের সময় একটি ইতিবাচক চিত্র তৈরি করে, যা ব্যবহারকারীর পর্যবেক্ষণ এবং সনাক্তকরণে দুর্দান্ত সুবিধা নিয়ে আসে। 20-30মিমি উচ্চতার ধাতব নমুনাগুলির বিশ্লেষণ এবং সনাক্তকরণ ছাড়াও, পর্যবেক্ষণ লক্ষ্যমাত্রা 3 মাইক্রনের চেয়ে বড় এবং 20 মাইক্রনের কম, যেমন সারমেট, ইলেকট্রনিক চিপস, প্রিন্টেড সার্কিট, এলসিডি সাবস্ট্রেট, ফিল্ম, ফাইবার, দানাদার বস্তু, আবরণ এবং পৃষ্ঠের অন্যান্য উপকরণ গঠন এবং ট্রেস একটি ভাল ইমেজিং প্রভাব থাকতে পারে।
