স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ বৈশিষ্ট্যের ভূমিকা
স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ (SEM) হল একটি বড় নির্ভুল যন্ত্র যা উচ্চ-রেজোলিউশন মাইক্রো এরিয়া মরফোলজি বিশ্লেষণের জন্য ব্যবহৃত হয়। এটির ক্ষেত্রের বড় গভীরতা, উচ্চ রেজোলিউশন, স্বজ্ঞাত ইমেজিং, ত্রিমাত্রিকতার শক্তিশালী অনুভূতি, বিস্তৃত বিবর্ধন পরিসর এবং ত্রিমাত্রিক স্থানে পরীক্ষার নমুনাটিকে ঘোরানোর এবং কাত করার ক্ষমতার বৈশিষ্ট্য রয়েছে। এছাড়াও, এটির বিভিন্ন ধরণের পরিমাপযোগ্য নমুনার সুবিধা রয়েছে, মূল নমুনায় প্রায় কোনও ক্ষতি বা দূষণ নেই এবং একই সাথে রূপবিদ্যা, গঠন, রচনা এবং ক্রিস্টালোগ্রাফিক তথ্য প্রাপ্ত করার ক্ষমতা রয়েছে। বর্তমানে, স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি জীবন বিজ্ঞান, পদার্থবিদ্যা, রসায়ন, ন্যায়বিচার, পৃথিবী বিজ্ঞান, পদার্থ বিজ্ঞান এবং শিল্প উত্পাদনের মতো ক্ষেত্রে মাইক্রোস্কোপিক গবেষণায় ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয়েছে। শুধুমাত্র পৃথিবী বিজ্ঞানের ক্ষেত্রে, এটি ক্রিস্টালোগ্রাফি, খনিজবিদ্যা, খনিজ আমানত, পললবিদ্যা, ভূ-রসায়ন, রত্নবিদ্যা, মাইক্রোফসিল, জ্যোতির্বিদ্যা, তেল ও গ্যাস ভূতত্ত্ব, প্রকৌশল ভূতত্ত্ব এবং কাঠামোগত ভূতত্ত্ব অন্তর্ভুক্ত করে।
যদিও স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি মাইক্রোস্কোপ পরিবারে একটি নবাগত, তার অনেক সুবিধার কারণে এর বিকাশের গতি খুব দ্রুত।
যন্ত্রটির উচ্চ রেজোলিউশন রয়েছে এবং সেকেন্ডারি ইলেক্ট্রন ইমেজিংয়ের মাধ্যমে নমুনার পৃষ্ঠে প্রায় 6nm এর বিশদ পর্যবেক্ষণ করতে পারে। একটি LaB6 ইলেক্ট্রন বন্দুক ব্যবহার করে, এটি আরও 3nm এ উন্নত করা যেতে পারে।
যন্ত্রটিতে বিস্তৃত পরিসরে পরিবর্ধন পরিবর্তন রয়েছে এবং ক্রমাগত সমন্বয় করা যেতে পারে। তাই, প্রয়োজন অনুযায়ী পর্যবেক্ষণের জন্য বিভিন্ন আকারের দৃশ্য ক্ষেত্র নির্বাচন করা যেতে পারে এবং সাধারণ ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপির মাধ্যমে অর্জন করা কঠিন উচ্চ উজ্জ্বলতা সহ পরিষ্কার চিত্রগুলিও উচ্চ বিবর্ধনে প্রাপ্ত করা যেতে পারে।
নমুনার ক্ষেত্রের গভীরতা এবং দৃশ্যের ক্ষেত্র বড়, এবং চিত্রটি ত্রিমাত্রিক অর্থে সমৃদ্ধ। এটি নমুনার বৃহৎ অন্ডুলেশন এবং অসম ধাতব ফাটল চিত্র সহ রুক্ষ পৃষ্ঠগুলি সরাসরি পর্যবেক্ষণ করতে পারে, যা মানুষকে মাইক্রোস্কোপিক জগতে উপস্থিত থাকার অনুভূতি দেয়।
4টি নমুনার প্রস্তুতি সহজ। যতক্ষণ না ব্লক বা পাউডারের নমুনাগুলিকে সামান্য চিকিত্সা করা হয় বা চিকিত্সা না করা হয়, ততক্ষণ সেগুলি সরাসরি একটি স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের অধীনে পর্যবেক্ষণ করা যেতে পারে, যা পদার্থের প্রাকৃতিক অবস্থার কাছাকাছি।
5. ইলেক্ট্রনিক পদ্ধতির মাধ্যমে ইমেজ কোয়ালিটি কার্যকরভাবে নিয়ন্ত্রিত এবং উন্নত করা যেতে পারে, যেমন উজ্জ্বলতা এবং বৈসাদৃশ্যের স্বয়ংক্রিয় রক্ষণাবেক্ষণ, নমুনা কাত কোণ সংশোধন, চিত্র ঘূর্ণন, বা Y মডুলেশনের মাধ্যমে চিত্রের বৈপরীত্য সহনশীলতার উন্নতি, সেইসাথে মাঝারি উজ্জ্বলতা এবং অন্ধকার ছবির বিভিন্ন অংশ। একটি ডুয়াল ম্যাগনিফিকেশন ডিভাইস বা ইমেজ সিলেক্টর ব্যবহার করে, ফ্লুরোসেন্ট স্ক্রিনে বিভিন্ন ম্যাগনিফিকেশন সহ ইমেজ একই সাথে লক্ষ্য করা যায়।
6 ব্যাপক বিশ্লেষণের বিষয় হতে পারে. একটি তরঙ্গদৈর্ঘ্য বিচ্ছুরণকারী এক্স-রে স্পেকট্রোমিটার (WDX) বা শক্তি বিচ্ছুরণকারী এক্স-রে স্পেকট্রোমিটার (EDX) ইনস্টল করুন যাতে এটি একটি ইলেকট্রন প্রোব হিসাবে কাজ করতে পারে এবং প্রতিফলিত ইলেকট্রন, এক্স-রে, ক্যাথোডোলুমিনিসেন্স, প্রেরিত ইলেকট্রন, অগার ইলেকট্রন ইত্যাদি সনাক্ত করতে পারে। নমুনা দ্বারা। বিভিন্ন মাইক্রোস্কোপিক এবং মাইক্রো এরিয়া বিশ্লেষণ পদ্ধতিতে স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপির প্রয়োগকে প্রসারিত করা ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি স্ক্যান করার বহুবিধ কার্যকারিতা প্রদর্শন করেছে। উপরন্তু, আকারবিদ্যা চিত্র পর্যবেক্ষণ করার সময় নমুনার নির্বাচিত মাইক্রো এলাকা বিশ্লেষণ করাও সম্ভব; অর্ধপরিবাহী নমুনা ধারক সংযুক্তি ইনস্টল করার মাধ্যমে, ট্রানজিস্টর বা ইন্টিগ্রেটেড সার্কিটে PN জংশন এবং মাইক্রো ত্রুটিগুলি সরাসরি একটি ইলেক্ট্রোমোটিভ ফোর্স ইমেজ অ্যামপ্লিফায়ারের মাধ্যমে পর্যবেক্ষণ করা যেতে পারে। অনেক স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ ইলেক্ট্রন প্রোবের জন্য ইলেকট্রনিক কম্পিউটার স্বয়ংক্রিয় এবং আধা-স্বয়ংক্রিয় নিয়ন্ত্রণ বাস্তবায়নের কারণে, পরিমাণগত বিশ্লেষণের গতি ব্যাপকভাবে উন্নত হয়েছে।
