পারমাণবিক বল অণুবীক্ষণ যন্ত্রের গঠন বৈশিষ্ট্য
একটি পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ (AFM) সিস্টেমে, পরমাণুর মধ্যে ভ্যান ডার ওয়ালস বল সনাক্ত করা হবে। অতএব, এই সিস্টেমে, একটি ক্ষুদ্র ক্যান্টিলিভার ব্যবহার করা হয় পরমাণুর মধ্যে শক্তির তারতম্য সনাক্ত করতে। ক্যান্টিলিভারগুলি সাধারণত 100-500 μm লম্বা এবং প্রায় 500 nm-5 μm পুরু সিলিকন বা সিলিকন নাইট্রাইড ওয়েফার থেকে তৈরি করা হয়। ক্যান্টিলিভারের শীর্ষে একটি ধারালো টিপ রয়েছে, যা নমুনা এবং টিপের মধ্যে মিথস্ক্রিয়া বল সনাক্ত করতে ব্যবহৃত হয়। ক্ষুদ্র ক্যান্টিলিভারের কিছু নির্দিষ্ট বৈশিষ্ট্য রয়েছে, যেমন: দৈর্ঘ্য, প্রস্থ, স্থিতিস্থাপকতার মডুলাস এবং টিপ আকৃতি, এবং এই স্পেসিফিকেশনগুলি নমুনার বৈশিষ্ট্য এবং বিভিন্ন অপারেটিং মোড অনুসারে নির্বাচন করা হয় এবং বিভিন্ন ধরণের প্রোব নির্বাচন করা হয়।
অবস্থান সনাক্তকরণ অংশ
পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ (AFM) সিস্টেমে, যখন সুচের ডগা এবং নমুনার মধ্যে মিথস্ক্রিয়া হয়, তখন ক্যান্টিলিভার ক্যান্টিলিভার দুলবে। মাইক্রো-ক্যান্টিলিভারের শেষ প্রান্তে লেজারটি বিকিরণ করা হলে, প্রতিফলিত আলোর অবস্থানও ক্যান্টিলিভারের দোলনের কারণে পরিবর্তিত হবে। পরিবর্তিত, যা একটি অফসেট ফলাফল. পুরো সিস্টেমে, লেজার স্পট পজিশন ডিটেক্টর অফসেট রেকর্ড করতে এবং এসপিএম কন্ট্রোলার দ্বারা সংকেত প্রক্রিয়াকরণের জন্য এটিকে বৈদ্যুতিক সংকেতে রূপান্তর করতে নির্ভর করে।
প্রতিক্রিয়া সিস্টেম
পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ (AFM) সিস্টেমে, লেজার ডিটেক্টরের মাধ্যমে সংকেত নেওয়ার পরে, সংকেতটি ফিডব্যাক সিস্টেমে একটি প্রতিক্রিয়া সংকেত হিসাবে, একটি অভ্যন্তরীণ সমন্বয় সংকেত হিসাবে ব্যবহৃত হবে এবং স্ক্যানটি চালাবে, যা সাধারণত তৈরি করা হয়। একটি পাইজোইলেকট্রিক সিরামিক টিউবের। একটি নির্দিষ্ট বল বজায় রাখার জন্য নমুনা এবং সুই ডগা রাখতে ডিভাইসের যথাযথ নড়াচড়া করুন।
সারসংক্ষেপ
AFM সিস্টেমটি পিজোইলেকট্রিক সিরামিক টিউব দিয়ে তৈরি একটি স্ক্যানার ব্যবহার করে যাতে ক্ষুদ্র স্ক্যানিং গতিবিধি নিয়ন্ত্রণ করা যায়। পাইজোইলেকট্রিক সিরামিকগুলি অদ্ভুত বৈশিষ্ট্যযুক্ত উপকরণ। যখন পাইজোইলেকট্রিক সিরামিকের দুটি প্রতিসম প্রান্তে একটি ভোল্টেজ প্রয়োগ করা হয়, তখন পাইজোইলেকট্রিক সিরামিকগুলি একটি নির্দিষ্ট দিকে প্রসারিত বা ছোট হবে। প্রসারিত বা সংক্ষিপ্তকরণের দৈর্ঘ্য প্রয়োগকৃত ভোল্টেজের মাত্রার সাথে রৈখিক। অর্থাৎ, পাইজোইলেকট্রিক সিরামিকের ক্ষুদ্র প্রসারণ এবং সংকোচন ভোল্টেজ পরিবর্তন করে নিয়ন্ত্রণ করা যায়। সাধারণত, তিনটি পাইজোইলেকট্রিক সিরামিক ব্লক যা X, Y এবং Z দিক নির্দেশ করে একটি ট্রাইপডের আকারে গঠিত হয় এবং নমুনা পৃষ্ঠে স্ক্যান করার জন্য প্রোবটি চালানোর উদ্দেশ্য X এবং Y-এর প্রসারণ এবং সংকোচন নিয়ন্ত্রণ করে অর্জন করা হয়। দিকনির্দেশ; জেড দিকে পিজোইলেকট্রিক সিরামিকের প্রসারণ এবং সংকোচন নিয়ন্ত্রণ করে প্রোব এবং নমুনার মধ্যে দূরত্ব নিয়ন্ত্রণের উদ্দেশ্য অর্জন করতে।
পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ (AFM) উপরের তিনটি অংশকে একত্রিত করে নমুনার পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্যগুলি উপস্থাপন করে: পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ (AFM) সিস্টেমে, টিপ এবং নমুনার মধ্যে মিথস্ক্রিয়া বোঝার জন্য একটি ক্ষুদ্র ক্যান্টিলিভার ব্যবহার করা হয়, এই শক্তি মাইক্রো-ক্যান্টিলিভারকে সুইং করে, এবং তারপর ক্যান্টিলিভারের প্রান্তে আলোকে বিকিরণ করতে লেজার ব্যবহার করুন। যখন সুইং গঠিত হয়, প্রতিফলিত আলোর অবস্থান পরিবর্তিত হবে এবং একটি অফসেট সৃষ্টি করবে। এই সময়ে, লেজার ডিটেক্টর অফসেট রেকর্ড করবে। এই সময়ে সংকেত ফিডব্যাক সিস্টেমে পাঠানো হবে যাতে সিস্টেমটিকে যথাযথ সমন্বয় করতে সুবিধা হয় এবং অবশেষে নমুনার পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্যগুলি চিত্র আকারে উপস্থাপন করা হবে।
