কিভাবে একটি ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ পর্যবেক্ষণযোগ্য পরিপ্রেক্ষিতে একটি হালকা মাইক্রোস্কোপ থেকে পৃথক?
অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপগুলি ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ থেকে খুব আলাদা যে আলোর উত্স ভিন্ন, লেন্স ভিন্ন, ইমেজিং নীতি ভিন্ন, রেজোলিউশন ভিন্ন, ক্ষেত্রের গভীরতা ভিন্ন, এবং নমুনা তৈরির উপায় ভিন্ন। অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ সাধারণত হালকা মাইক্রোস্কোপ নামে পরিচিত, এটি মাইক্রোস্কোপের আলোকসজ্জার উৎস হিসেবে এক ধরনের দৃশ্যমান আলো। অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ হল অপটিক্যাল নীতির ব্যবহার, মানুষের চোখ ক্ষুদ্র বস্তুকে আলাদা করতে পারে না ম্যাগনিফাইড ইমেজিং, মানুষ অপটিক্যাল যন্ত্রের মাইক্রোস্ট্রাকচারের তথ্য বের করতে পারে। কোষ জীববিজ্ঞানে এটি ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয়। অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ সাধারণত একটি স্টেজ, ফোকাসিং ইলুমিনেশন সিস্টেম, অবজেক্টিভ লেন্স, আইপিস এবং ফোকাসিং মেকানিজম নিয়ে গঠিত। পর্যবেক্ষন করা বস্তুকে ধরে রাখতে স্টেজ ব্যবহার করা হয়। ফোকাসিং নবটি ফোকাসিং মেকানিজম চালানোর জন্য ব্যবহার করা যেতে পারে, যাতে পর্যবেক্ষণের অধীনে বস্তুর পরিষ্কার চিত্রের সুবিধার্থে স্টেজটি মোটামুটিভাবে সামঞ্জস্য করা যায় বা সূক্ষ্ম-টিউন করা যায়। উল্টানো চিত্রের জন্য অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের চিত্র (উপর এবং নীচে উল্টো, বাম এবং ডান বিনিময়যোগ্য) ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপের উচ্চ-প্রযুক্তি পণ্যের জন্ম, এবং আমরা সাধারণত অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের একটি অনুরূপ স্থান ব্যবহার করি, তবে অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের সাথে মাইক্রোস্কোপ খুব আলাদা। প্রথমত, অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ হল আলোর উৎসের ব্যবহার। ইলেক্ট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্র হল ইলেক্ট্রন রশ্মির ব্যবহার, এবং দুটি পার্থক্যের ফলাফল দেখতে পারে, একক এবং বলে যে পার্থক্যের বিবর্ধন, যেমন একটি কোষ পর্যবেক্ষণ করা, হালকা অণুবীক্ষণ যন্ত্র শুধুমাত্র কোষ এবং অর্গানেলের অংশ দেখতে পারে। , যেমন মাইটোকন্ড্রিয়া এবং ক্লোরোপ্লাস্ট, কিন্তু শুধুমাত্র তার কোষের উপস্থিতি দেখতে পারে, অর্গানেলের নির্দিষ্ট গঠন দেখতে পারে না। অন্যদিকে, একটি ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ আরও বিস্তারিতভাবে অর্গানেলের সূক্ষ্ম গঠন দেখতে পারে, এমনকি প্রোটিনের মতো বড় অণুও দেখতে পারে। ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের মধ্যে রয়েছে ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ, স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ, রিফ্লেকশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ এবং ইমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ। তাদের মধ্যে, স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ বেশি ব্যবহৃত হয়। উপকরণ এবং গবেষণা অ্যাপ্লিকেশন বিশ্লেষণে স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ খুব বিস্তৃত, প্রধানত উপাদান ফ্র্যাকচার বিশ্লেষণ, মাইক্রো-এরিয়া কম্পোজিশন বিশ্লেষণ, বিভিন্ন আবরণ পৃষ্ঠের অঙ্গসংস্থান বিশ্লেষণ, স্তর পুরুত্ব পরিমাপ এবং মাইক্রোস্ট্রাকচার আকারবিদ্যা এবং ন্যানো-পদার্থ বিশ্লেষণেও ব্যবহৃত হতে পারে। এক্স-রে ডিফ্র্যাক্টোমিটার বা ইলেক্ট্রন স্পেকট্রোমিটারের সাথে মিলিত, বৈদ্যুতিন মাইক্রোপ্রোব গঠন করে, উপাদান বিশ্লেষণের জন্য ব্যবহৃত হয় এবং আরও অনেক কিছু। স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ, সংক্ষেপে এসইসি, একটি নতুন ধরনের ইলেক্ট্রন অপটিক্যাল যন্ত্র। এটি একটি ভ্যাকুয়াম সিস্টেম, একটি ইলেক্ট্রন বিম সিস্টেম এবং একটি ইমেজিং সিস্টেম নিয়ে গঠিত। এটি নমুনার পৃষ্ঠ স্ক্যান করে উত্তেজিত শারীরিক সংকেতগুলিকে সংশোধন করতে ইলেকট্রনের একটি সূক্ষ্মভাবে ফোকাসড রশ্মি ব্যবহার করে। ঘটনা ইলেকট্রন নমুনা পৃষ্ঠ গৌণ ইলেকট্রন সঙ্গে উত্তেজিত হতে কারণ. প্রতিটি বিন্দুতে এই বিক্ষিপ্ত ইলেকট্রনগুলি মাইক্রোস্কোপ দ্বারা পর্যবেক্ষণ করা হয়। নমুনার পাশে স্থাপিত সিন্টিলেশন ক্রিস্টাল এই গৌণ ইলেকট্রনগুলি গ্রহণ করে, যেগুলি CRT-এর ইলেক্ট্রন রশ্মির তীব্রতা পরিবর্তন করার জন্য প্রশস্ত করা হয়, CRT স্ক্রিনের উজ্জ্বলতা পরিবর্তন করে। CRT-এর ডিফ্লেকশন কয়েল নমুনার পৃষ্ঠের ইলেক্ট্রন রশ্মির সাথে সিঙ্ক্রোনাইজ করা হয়, যাতে CRT-এর ফ্লুরোসেন্ট স্ক্রীন নমুনা পৃষ্ঠের একটি টপোগ্রাফিক চিত্র প্রদর্শন করে। এটিতে সাধারণ নমুনা প্রস্তুতি, সামঞ্জস্যযোগ্য বিবর্ধন, বিস্তৃত পরিসর, চিত্রের উচ্চ রেজোলিউশন এবং ক্ষেত্রের বড় গভীরতার বৈশিষ্ট্য রয়েছে। ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ অ্যাপ্লিকেশন কর্মক্ষমতা:
1, স্ফটিক ত্রুটি বিশ্লেষণ. সাধারণ অ্যারে চক্রকে ধ্বংস করে এমন সমস্ত কাঠামোকে সমষ্টিগতভাবে ক্রিস্টাল ডিফেক্ট বলা হয়, যেমন শূন্যস্থান, স্থানচ্যুতি, শস্যের সীমানা, অবক্ষেপ ইত্যাদি। এই কাঠামোগুলি যা ডট ম্যাট্রিক্সের পর্যায়ক্রমিকতাকে ধ্বংস করে যে অঞ্চলে তারা অবস্থিত সেই অঞ্চলের বিচ্ছুরণ অবস্থার পরিবর্তনের দিকে পরিচালিত করবে, যে অঞ্চলে ত্রুটিগুলি অবস্থিত সেই অঞ্চলের বিচ্ছুরণ অবস্থাকে স্বাভাবিক অঞ্চলের বিবর্তন অবস্থার থেকে আলাদা করে তুলবে, যা ফ্লুরোসেন্ট স্ক্রিনে আলো এবং অন্ধকারের মধ্যে সংশ্লিষ্ট পার্থক্য দেখাবে।
2, টিস্যু বিশ্লেষণ। বিভিন্ন ত্রুটিগুলি ছাড়াও বিভিন্ন বিচ্ছুরণ নিদর্শন তৈরি করতে পারে, যার মাধ্যমে টিস্যু রূপবিদ্যা পর্যবেক্ষণ করার সময় স্ফটিকের গঠন এবং অভিযোজন বিশ্লেষণ করা যেতে পারে।
3, পরিস্থিতি পর্যবেক্ষণে। সংশ্লিষ্ট নমুনা পর্যায় ব্যবহার করে, ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপে ইন-সিটু পরীক্ষা করা যেতে পারে। উদাহরণস্বরূপ, তাদের বিকৃতি এবং ফ্র্যাকচার প্রক্রিয়া পর্যবেক্ষণ করতে স্ট্রেন স্ট্রেচিং নমুনার ব্যবহার।
4, উচ্চ-রেজোলিউশন মাইক্রোস্কোপি। উপাদানের মাইক্রোস্ট্রাকচারকে আরও ভালভাবে পর্যবেক্ষণ করার জন্য রেজোলিউশনের উন্নতি করা মানুষের লক্ষ্য হয়েছে ক্রমাগত অনুসরণ করে। উচ্চ-রেজোলিউশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি ব্যবহার করে ইলেক্ট্রন রশ্মির পর্যায়টি সুসংগত ইমেজিংয়ের দুইটিরও বেশি রশ্মির দ্বারা পরিবর্তিত হয়, ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপে রেজোলিউশন যথেষ্ট উচ্চ অবস্থায় থাকে, যত বেশি ইলেক্ট্রন বিম ব্যবহার করা হয়, চিত্রের রেজোলিউশন তত বেশি হয় এবং এমনকি হতে পারে। পারমাণবিক কাঠামোর ইমেজিংয়ের পাতলা নমুনার জন্য ব্যবহৃত হয়।
