ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি দিয়ে শুরু করা
ট্রান্সমিশন ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ (সংক্ষেপে TEM), অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপে দেখতে পারে 0.2 um এর কম মাইক্রোস্ট্রাকচারে পরিষ্কারভাবে দেখতে পারে না, এই কাঠামোগুলিকে বলা হয় সাব-অণুবীক্ষণিক কাঠামো বা আল্ট্রামাইক্রোস্ট্রাকচার। এই কাঠামোগুলি পরিষ্কারভাবে দেখতে, মাইক্রোস্কোপের রেজোলিউশন উন্নত করার জন্য একটি ছোট তরঙ্গদৈর্ঘ্যের আলোর উত্স নির্বাচন করা প্রয়োজন।
ভূমিকা
ইলেক্ট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্র এবং অপটিক্যাল অণুবীক্ষণ যন্ত্রের ইমেজিং নীতি মূলত একই, পার্থক্য হল পূর্বে একটি ইলেক্ট্রন রশ্মি আলোর উৎস হিসেবে এবং একটি লেন্স হিসেবে একটি ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক ফিল্ড ব্যবহার করে। উপরন্তু, ইলেক্ট্রন রশ্মির দুর্বল অনুপ্রবেশের কারণে, তাই ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপির জন্য ব্যবহৃত নমুনাটিকে প্রায় 50nm পুরুত্বের সাথে একটি অতি-পাতলা বিভাগে তৈরি করতে হবে। এই ধরনের স্লাইস একটি আল্ট্রামাইক্রোটোম দিয়ে তৈরি করা প্রয়োজন। ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ ম্যাগনিফিকেশন প্রায় এক মিলিয়ন বার পর্যন্ত, আলোক ব্যবস্থা, ইমেজিং সিস্টেম, ভ্যাকুয়াম সিস্টেম, রেকর্ডিং সিস্টেম, পাওয়ার সাপ্লাই সিস্টেম পাঁচটি অংশ নিয়ে গঠিত, যদি উপবিভাগ করা হয়: ইলেক্ট্রন লেন্স এবং ইমেজিং রেকর্ডিং সিস্টেমের প্রধান অংশ, একটি ইলেক্ট্রন বন্দুক দ্বারা ভ্যাকুয়াম, ঘনীভূত আয়না, অবজেক্ট চেম্বার, অবজেক্টিভ, ডিফ্র্যাক্টিং মিরর, ইন্টারমিডিয়েট মিরর, প্রজেকশন মিরর, ফ্লুরোসেন্ট স্ক্রিন এবং ক্যামেরা।
একটি ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ একটি মাইক্রোস্কোপ যা একটি বস্তুর অভ্যন্তর বা পৃষ্ঠকে কল্পনা করতে ইলেকট্রন ব্যবহার করে। উচ্চ-গতির ইলেকট্রনের তরঙ্গদৈর্ঘ্য দৃশ্যমান আলোর (তরঙ্গ-কণা দ্বৈত) থেকে ছোট এবং একটি মাইক্রোস্কোপের রেজোলিউশন এটি যে তরঙ্গদৈর্ঘ্য ব্যবহার করে তার দ্বারা সীমিত, তাই একটি ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের তাত্ত্বিক রেজোলিউশন (প্রায় 0 .1 ন্যানোমিটার) একটি অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের তুলনায় অনেক বেশি (প্রায় 200 ন্যানোমিটার)।
একটি ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ (ট্রান্সমিশন ইলেকট্রনমাইক্রোস্কোপ, সংক্ষেপে TEM), বা সংক্ষেপে ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ [1], একটি খুব পাতলা নমুনার উপর ইলেক্ট্রনের একটি ত্বরিত এবং সমষ্টিগত রশ্মি প্রজেক্ট করে, যেখানে ইলেকট্রনগুলি নমুনার পরমাণুর সাথে সংঘর্ষের মাধ্যমে দিক পরিবর্তন করে, ফলে স্টেরিক কোণ বিক্ষিপ্তকরণ. বিক্ষিপ্ত কোণের মাত্রা নমুনার ঘনত্ব এবং বেধের সাথে সম্পর্কিত, যাতে বিভিন্ন আলো এবং অন্ধকার ছবি তৈরি করা যায় এবং ছবিগুলি ইমেজিং ডিভাইসে প্রদর্শিত হবে (যেমন, ফসফর স্ক্রিন, ফিল্ম এবং ফটোকপড অ্যাসেম্বলি) বিবর্ধন এবং ফোকাসিং।
ইলেকট্রনের খুব কম ডি ব্রোগলি তরঙ্গদৈর্ঘ্যের কারণে, ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপির রেজোলিউশন অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপির তুলনায় অনেক বেশি, যা {{0}}.1 থেকে 0.2 এনএম পর্যন্ত পৌঁছায়, যার পরিমাণ কয়েক হাজার লক্ষ লক্ষ বার ফলস্বরূপ, একটি ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ ব্যবহার করে একটি নমুনার সূক্ষ্ম গঠন বা এমনকি পরমাণুর একটি মাত্র সারির গঠন পর্যবেক্ষণ করতে ব্যবহার করা যেতে পারে, যেটি ক্ষুদ্রতম কাঠামোর চেয়ে কয়েক হাজার গুণ ছোট। একটি অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ। নিরপেক্ষ পদার্থবিদ্যা এবং জীববিজ্ঞানের সাথে সম্পর্কিত বিজ্ঞানের অনেক ক্ষেত্রে TEM একটি গুরুত্বপূর্ণ বিশ্লেষণী পদ্ধতি, যেমন ক্যান্সার গবেষণা, ভাইরোলজি, পদার্থ বিজ্ঞান, সেইসাথে ন্যানো প্রযুক্তি, সেমিকন্ডাক্টর গবেষণা ইত্যাদি।
নিম্ন বিবর্ধনে, TEM ইমেজিং এর বৈসাদৃশ্য প্রধানত বিভিন্ন বেধ এবং উপাদানের সংমিশ্রণের কারণে হয় যার ফলে ইলেকট্রন বিভিন্ন শোষণ হয়। যখন ম্যাগনিফিকেশন বেশি হয়, জটিল ওঠানামা প্রভাবগুলি ইমেজের উজ্জ্বলতায় পার্থক্য সৃষ্টি করে এবং সেইজন্য ফলাফলের চিত্র বিশ্লেষণ করার জন্য দক্ষতার প্রয়োজন হয়। TEM-এর বিভিন্ন মোড ব্যবহার করে, নমুনার রাসায়নিক বৈশিষ্ট্য, স্ফটিক অভিযোজন, ইলেকট্রনিক কাঠামো, নমুনার কারণে ইলেকট্রনিক ফেজ শিফট এবং নমুনার স্বাভাবিক ইলেকট্রনিক শোষণ দ্বারা নমুনা বিশ্লেষণ করা সম্ভব।
সেইসাথে নমুনা মধ্যে ইলেকট্রন স্বাভাবিক শোষণ.
প্রথম TEM 1931 সালে Max Knorr এবং Ernst Ruska দ্বারা বিকশিত হয়েছিল, এই গবেষণা দলটি 1933 সালে দৃশ্যমান আলোর চেয়ে বেশি রেজোলিউশন সহ প্রথম TEM তৈরি করেছিল, যখন প্রথম বাণিজ্যিক TEM 1939 সালে তৈরি হয়েছিল।
