মাইক্রোস্কোপের পাঁচটি সাধারণ পর্যবেক্ষণ পদ্ধতি
1. উজ্জ্বল ক্ষেত্রের পদ্ধতি
একটি নমুনা থেকে সরাসরি প্রতিফলিত আলো পর্যবেক্ষণ করার একটি পদ্ধতি। ইলুমিনেটর থেকে আলো একটি উল্লম্বভাবে সারিবদ্ধ উদ্দেশ্য মাধ্যমে নমুনা উপর ঘটনা, এবং নমুনা থেকে সরাসরি প্রতিফলিত আলো উদ্দেশ্য মাধ্যমে পর্যবেক্ষণ করা হয়.
2. অন্ধকার ক্ষেত্রের পদ্ধতি
বিবর্তিত আলো জড়িত নমুনা শুকানোর পদ্ধতি পর্যবেক্ষণ করুন। উদ্ভাসিত আলো বস্তুনিষ্ঠ লেন্সের পরিধির মাধ্যমে নমুনার উপর তির্যকভাবে ঘটে এবং নমুনা থেকে শুষ্ক আলো পরিলক্ষিত হয় যখন বিচ্ছুরিত আলো পরিলক্ষিত হয়।
নমুনাগুলিতে ছোট স্ক্র্যাচ বা ফাটল সনাক্ত করার জন্য এবং ওয়েফারগুলির মতো নমুনার আয়নার মতো পৃষ্ঠগুলি পরিদর্শন করার জন্য আদর্শ।
3. পোলারাইজড আলো পদ্ধতি
এটি একটি মাইক্রোস্কোপিক পর্যবেক্ষণ কৌশল যা দুটি সেট রঙের ফিল্টার (ডিটেকশন পোলারাইজার এবং পোলারাইজার) দ্বারা গঠিত পোলারাইজড আলো ব্যবহার করে। এই মেরুকরণ অক্ষগুলি সর্বদা একে অপরের সাথে লম্ব। কিছু নমুনা দুটি ফিল্টারের মধ্যে একটি তীক্ষ্ণ বৈসাদৃশ্য দেখায়। বা বিয়ারফ্রিংজেন্স বৈশিষ্ট্য এবং অভিযোজনের উপর ভিত্তি করে রঙ প্রকাশ করুন (যেমন দস্তা কাঠামোর পালিশ নমুনা)। যখন বিশ্লেষক আইপিসের সামনে পর্যবেক্ষণ আলোর পথে ঢোকানো হয়, তখন পোলারাইজারটি উল্লম্ব ইলুমিনেটরের সামনে আলোর পথে থাকে।
এটা মেটালোগ্রাফিক স্ট্রাকচার (যেমন নমনীয় লোহার গ্রাফাইট গ্রোথ মোড), খনিজ এবং লিকুইড ক্রিস্টাল (LCD) এবং সেমিকন্ডাক্টর উপকরণ পর্যবেক্ষণের জন্য উপযুক্ত।
4. ডিফারেনশিয়াল ইন্টারফারেন্স কনট্রাস্ট পদ্ধতি
এটি একটি মাইক্রোস্কোপিক পর্যবেক্ষণ কৌশল যা উজ্জ্বল ক্ষেত্র পদ্ধতি ব্যবহার করে বৈপরীত্য উচ্চতাকে স্টেরিওস্কোপিক বা ত্রি-মাত্রিক চিত্রে পরিবর্তন করে যা উজ্জ্বল ক্ষেত্র পদ্ধতি দ্বারা পর্যবেক্ষণ করা যায় না। আলোকিত আলো ডিফারেনশিয়াল ইন্টারফারেন্স কনট্রাস্ট প্রিজম থেকে দুটি বিচ্ছুরিত আলোতে পরিবর্তিত হয়। দুটি বিচ্ছুরিত আলোর কারণে নমুনা উচ্চতার পার্থক্য আলোর পথে একটি ছোট পার্থক্য তৈরি করে এবং আলোর পথের পার্থক্যটি ডিফারেনশিয়াল ইন্টারফেরোমেট্রি ব্যবহার করে কনট্রাস্ট প্রিজম এবং বিশ্লেষকের মধ্যে বৈসাদৃশ্যে পরিণত হয়।
সংবেদনশীল নমুনাগুলি অত্যন্ত পরিবর্তনশীল বর্ণবিশিষ্ট বিকৃতি বাড়াতে পুনরায় ব্যবহার করা হয়।
এটি ধাতব কাঠামো, খনিজ পদার্থ, চৌম্বকীয় মাথা, হার্ড ডিস্ক পৃষ্ঠ এবং ওয়েফার পরিশোধিত পৃষ্ঠগুলি সহ অত্যন্ত উচ্চ-নির্ভুল উচ্চতার পার্থক্য সহ নমুনাগুলি পরীক্ষার জন্য উপযুক্ত।
5. ফ্লুরোসেন্স পদ্ধতি
এই কৌশলটি নমুনাগুলির জন্য ব্যবহৃত হয় যা প্রতিপ্রভ হয়।
এটি ওয়েফার দূষণ, অবশিষ্ট আলোক সংবেদনশীল রজন এবং ফ্লুরোসেন্স পদ্ধতি দ্বারা ফাটল সনাক্ত করার জন্য উপযুক্ত।
