লেজার কনফোকাল মাইক্রোস্কোপ এবং স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের মধ্যে পার্থক্যের ব্যাখ্যা

লেজার কনফোকাল মাইক্রোস্কোপ এবং স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের মধ্যে পার্থক্যের ব্যাখ্যা

লেজার কনফোকাল মাইক্রোস্কোপ এবং স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ উভয়ই পয়েন্ট-সোর্স স্ক্যানিং ইমেজিং, এবং স্ক্যানিং ড্রাইভিং পরিসীমা নিয়ন্ত্রণ করে ম্যাগনিফিকেশন সামঞ্জস্য করা হয়। লেজার কনফোকাল মাইক্রোস্কোপ লেজার স্ক্যানিং দ্বারা কাজ করে এবং ত্রিমাত্রিক চিত্র পেতে পারে। স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ (SEM) নমুনা পৃষ্ঠে সূক্ষ্ম-ফোকাসড ইলেক্ট্রন বিম স্ক্যানিং দ্বারা উত্তেজিত বিভিন্ন শারীরিক সংকেত ব্যবহার করে ইমেজিং মডিউলেশন করতে, এবং শুধুমাত্র দ্বি-মাত্রিক ছবি পাওয়া যায়, কিন্তু ত্রিমাত্রিক ছবি নয়।

1. বিভিন্ন সীমা রেজোলিউশন (বিভিন্ন পরিবর্ধন সংকেত উত্স)
লেজার কনফোকাল: সীমা রেজোলিউশন 150nm।
স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ: 20nm~0.8nm

2. বিভিন্ন স্ক্যানিং ড্রাইভিং মোড।
লেজার কনফোকাল: লেজার ঘূর্ণায়মান আয়না লেজার স্ক্যানিং পরিসীমা এবং স্ক্যানিং গতি নিয়ন্ত্রণ করে।
স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ: ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক কয়েল স্ক্যানিং রেঞ্জ এবং ইলেক্ট্রন বিমের স্ক্যানিং গতি নিয়ন্ত্রণ করে।

3. স্টেরিও ইমেজিং ভিন্ন
লেজার কনফোকাল: নমুনাটি একটি ন্যানো-নির্ভুল স্টেপিং মোটর দ্বারা জেড-অক্ষের দিক থেকে স্তরে স্তরে চিত্রিত করা হয় এবং সফ্টওয়্যারটি প্রতিটি স্তরের সেট চিত্রগুলিকে একটি পরিষ্কার ত্রিমাত্রিক চিত্রে সংশ্লেষিত করে।
স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ (SEM): একক-ফ্রেম চিত্রের ক্ষেত্রের গভীরতা রয়েছে এবং এটি দ্বি-মাত্রিক চিত্রের অন্তর্গত।

4, অ্যাপ্লিকেশন সুযোগ ভিন্ন
লেজার কনফোকাল: কয়েকবার থেকে কয়েক হাজার বার
স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ: কয়েকবার থেকে কয়েক লক্ষ বার

5. বিভিন্ন কাজের পরিবেশ
লেজার কনফোকাল: এটি বায়ুমণ্ডলীয় পরিবেশে নমুনা পরীক্ষা করতে পারে।
স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ: উচ্চ ভ্যাকুয়াম পরিবেশে নমুনা পরীক্ষা করুন।