খাড়া এবং উল্টানো ধাতবগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপগুলির মধ্যে ব্যবহারের পার্থক্য
খাড়া এবং উল্টানো মধ্যে পার্থক্যটি কেবল খাড়া নমুনা নীচে স্থাপন করা হয় এবং উল্টানো নমুনা উপরে স্থাপন করা হয়। খাড়া উদ্দেশ্য লেন্সগুলি নীচের দিকে মুখোমুখি হচ্ছে, এবং উল্টানো উদ্দেশ্য লেন্সগুলি উপরের দিকে মুখোমুখি হচ্ছে।
ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপটি সাধারণত কারখানা পরীক্ষাগার, বৈজ্ঞানিক গবেষণা প্রতিষ্ঠান এবং বিশ্ববিদ্যালয়গুলিতে ব্যবহৃত হয় কারণ নমুনার পর্যবেক্ষণের পৃষ্ঠটি ওয়ার্কটেবলের পৃষ্ঠের সাথে মিলে যায় এবং পর্যবেক্ষণের উদ্দেশ্যটি উপরের দিকে পর্যবেক্ষণ করার সময় ওয়ার্কটেবলের নীচে অবস্থিত। এই পর্যবেক্ষণ ফর্মটি নমুনার উচ্চতা দ্বারা সীমাবদ্ধ নয় এবং নমুনাটি প্রস্তুত করার সময় কেবলমাত্র একটি পর্যবেক্ষণ পৃষ্ঠ সমতল। ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ বেসের একটি বৃহত সমর্থন অঞ্চল রয়েছে, মাধ্যাকর্ষণ একটি নিম্ন কেন্দ্র এবং এটি স্থিতিশীল এবং নির্ভরযোগ্য। আইপিস এবং সমর্থন পৃষ্ঠটি আরামদায়ক পর্যবেক্ষণের জন্য 45 ডিগ্রীতে কাত করা হয়।
খাড়া ধাতবগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপে উল্টানো ধাতবগ্রন্থের মাইক্রোস্কোপের মতো একই বেসিক ফাংশন রয়েছে। 20-30 মিমি উচ্চতার সাথে ধাতব নমুনাগুলি বিশ্লেষণ এবং সনাক্তকরণের পাশাপাশি এটি স্বচ্ছ, আধা স্বচ্ছ বা অস্বচ্ছ পদার্থের জন্য আরও ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয় কারণ এটি মানুষের দৈনিক অভ্যাসের সাথে সামঞ্জস্য করে। খাড়া ধাতবগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ পর্যবেক্ষণের সময় একটি ইতিবাচক চিত্র তৈরি করে, যা ব্যবহারকারীর পর্যবেক্ষণ এবং সনাক্তকরণকে ব্যাপকভাবে সহায়তা করে। 20-30 মিমি উচ্চতার সাথে ধাতব নমুনাগুলি বিশ্লেষণ এবং সনাক্তকরণের পাশাপাশি 3 মাইক্রন এবং 20 মাইক্রনের চেয়ে ছোট লক্ষ্যগুলি যেমন ধাতব সিরামিকস, বৈদ্যুতিন চিপস, মুদ্রিত সার্কিট, এলসিডি সাবস্ট্রেটস, ফিল্মস, ফাইবার, গ্রানুলার অবজেক্টস, আবরণ এবং অন্যান্য উপকরণগুলি, ট্রাইফেসের প্রভাবগুলি অর্জন করতে পারে তা পর্যবেক্ষণ করে।
