ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি এবং মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপির মধ্যে পার্থক্য
ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি স্ক্যান করার নীতি
স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ, সংক্ষেপে SEM, একটি জটিল সিস্টেম; কেন্দ্রীভূত ইলেকট্রনিক অপটিক্যাল প্রযুক্তি, ভ্যাকুয়াম প্রযুক্তি, সূক্ষ্ম যান্ত্রিক কাঠামো এবং আধুনিক কম্পিউটার নিয়ন্ত্রণ প্রযুক্তি। স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি হল একটি মাল্টি-স্টেজ ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক লেন্সের মাধ্যমে একটি ছোট ইলেক্ট্রন রশ্মিতে ত্বরিত উচ্চ চাপের অধীনে একটি ইলেকট্রন বন্দুক দ্বারা নির্গত ইলেকট্রনগুলিকে একত্রিত করার প্রক্রিয়া। বিভিন্ন তথ্য উত্তেজিত করতে নমুনার পৃষ্ঠ স্ক্যান করুন, এবং এই তথ্যের ইমেজিং গ্রহণ, পরিবর্ধন এবং প্রদর্শন করে নমুনার পৃষ্ঠ বিশ্লেষণ করুন। ঘটনা ইলেক্ট্রন এবং নমুনার মধ্যে মিথস্ক্রিয়া চিত্র 1-এ দেখানো তথ্যের ধরন তৈরি করে। এই তথ্যের দ্বি-মাত্রিক তীব্রতা বন্টন নমুনা পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্যগুলির সাথে পরিবর্তিত হয় (যেমন পৃষ্ঠের আকারবিদ্যা, রচনা, স্ফটিক অভিযোজন, ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক বৈশিষ্ট্য, ইত্যাদি)। এটি বিভিন্ন ডিটেক্টর দ্বারা সংগৃহীত তথ্যকে ভিডিও সংকেতে ক্রমানুসারে এবং আনুপাতিকভাবে রূপান্তর করার প্রক্রিয়া, এবং তারপরে সেগুলিকে সিঙ্ক্রোনাসভাবে স্ক্যান করা পিকচার টিউবে প্রেরণ করা এবং একটি স্ক্যানিং ইমেজ পাওয়ার জন্য তাদের উজ্জ্বলতা পরিবর্তন করা যা নমুনার পৃষ্ঠের অবস্থাকে প্রতিফলিত করে। যদি ডিটেক্টর দ্বারা প্রাপ্ত সংকেতটি ডিজিটাইজ করা হয় এবং একটি ডিজিটাল সিগন্যালে রূপান্তরিত হয় তবে এটি কম্পিউটার দ্বারা আরও প্রক্রিয়াকরণ এবং সংরক্ষণ করা যেতে পারে। স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি প্রধানত বৃহৎ উচ্চতার পার্থক্য এবং রুক্ষতা সহ পুরু ব্লকের নমুনাগুলি পর্যবেক্ষণ করতে ব্যবহৃত হয়, এইভাবে নকশায় ক্ষেত্রের প্রভাবের গভীরতা হাইলাইট করে। এটি সাধারণত ফ্র্যাকচার এবং প্রাকৃতিক পৃষ্ঠতল বিশ্লেষণ করতে ব্যবহৃত হয় যা কৃত্রিমভাবে চিকিত্সা করা হয়নি।
ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ এবং মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ
1, বিভিন্ন আলোর উত্স: একটি মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ আলোর উত্স হিসাবে দৃশ্যমান আলো ব্যবহার করে, যখন একটি স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ ইমেজিংয়ের জন্য আলোর উত্স হিসাবে একটি ইলেক্ট্রন মরীচি ব্যবহার করে।
2, নীতিটি ভিন্ন: একটি ধাতব মাইক্রোস্কোপ ইমেজিংয়ের জন্য জ্যামিতিক অপটিক্যাল ইমেজিং নীতিগুলি ব্যবহার করে, যখন একটি স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ নমুনার পৃষ্ঠে বোমাবর্ষণ করতে উচ্চ-শক্তি ইলেকট্রন বিম ব্যবহার করে, পৃষ্ঠের উপর বিভিন্ন শারীরিক সংকেতকে উদ্দীপিত করে। তারপর, বিভিন্ন সংকেত ডিটেক্টর ব্যবহার করা হয় শারীরিক সংকেত গ্রহণ করতে এবং সেগুলিকে চিত্র তথ্যে রূপান্তর করতে।
3, বিভিন্ন রেজোলিউশন: আলোর হস্তক্ষেপ এবং বিচ্ছুরণের কারণে, একটি ধাতব অণুবীক্ষণ যন্ত্রের রেজোলিউশন শুধুমাত্র 0৷{2}}.5um এর মধ্যে সীমাবদ্ধ হতে পারে৷ আলোর উৎস হিসেবে একটি ইলেক্ট্রন রশ্মি ব্যবহারের কারণে, ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপি স্ক্যান করে 1-3nm-এর মধ্যে একটি রেজোলিউশন অর্জন করতে পারে। অতএব, মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপির মাইক্রোস্ট্রাকচার পর্যবেক্ষণ মাইক্রোস্কেল বিশ্লেষণের অন্তর্গত, যখন স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপির মাইক্রোস্ট্রাকচার পর্যবেক্ষণ ন্যানোস্কেল বিশ্লেষণের অন্তর্গত।
4, ক্ষেত্রের বিভিন্ন গভীরতা: সাধারণত, একটি ধাতব অণুবীক্ষণ যন্ত্রের ক্ষেত্রের গভীরতা 2-3um এর মধ্যে থাকে, তাই নমুনার পৃষ্ঠের মসৃণতার জন্য এটির অত্যন্ত উচ্চ প্রয়োজনীয়তা রয়েছে, তাই এর নমুনা তৈরির প্রক্রিয়া তুলনামূলকভাবে জটিল। অন্যদিকে, স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপিতে রয়েছে বিশাল গভীরতা, একটি বিস্তৃত ক্ষেত্র এবং একটি ত্রিমাত্রিক ইমেজিং প্রভাব। এটি সরাসরি নমুনার বিভিন্ন অসম পৃষ্ঠের সূক্ষ্ম কাঠামো পর্যবেক্ষণ করতে পারে।
