খাড়া এবং উল্টানো মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপের মধ্যে প্রয়োগের পার্থক্য
খাড়া এবং উল্টানো মধ্যে পার্থক্য হল খাড়া নমুনা নীচে স্থাপন করা হয় এবং বিপরীত নমুনা উপরে স্থাপন করা হয়। খাড়া উদ্দেশ্য নিচের দিকে এবং উল্টানো উদ্দেশ্য উপরের দিকে মুখ করে থাকে।
ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ, এই কারণে যে নমুনার পর্যবেক্ষণ পৃষ্ঠটি ওয়ার্কবেঞ্চের পৃষ্ঠের সাথে মিলে যায় এবং পর্যবেক্ষণের উদ্দেশ্যটি ঊর্ধ্বগামী পর্যবেক্ষণের জন্য ওয়ার্কবেঞ্চের নীচে অবস্থিত, এই পর্যবেক্ষণ ফর্মটি নমুনার উচ্চতা দ্বারা সীমাবদ্ধ নয়। নমুনা প্রস্তুত করার সময়, শুধুমাত্র একটি পর্যবেক্ষণ পৃষ্ঠ সমতল হয়, তাই এটি সাধারণত কারখানার পরীক্ষাগার, বৈজ্ঞানিক গবেষণা প্রতিষ্ঠান এবং শিক্ষাদানের জন্য বিশ্ববিদ্যালয়গুলিতে ব্যবহৃত হয়। ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক অণুবীক্ষণ যন্ত্রের গোড়ায় একটি বৃহৎ সাপোর্টিং ক্ষেত্র রয়েছে, একটি নিম্ন মাধ্যাকর্ষণ কেন্দ্র রয়েছে এবং এটি স্থিতিশীল এবং নির্ভরযোগ্য। আইপিস এবং সমর্থনকারী পৃষ্ঠটি 45 ডিগ্রিতে কাত হয়, যা পর্যবেক্ষণকে আরামদায়ক করে তোলে।
খাড়া মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপের ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপের মতো একই মৌলিক কাজ রয়েছে। 20-30মিমি উচ্চতার ধাতব নমুনাগুলি বিশ্লেষণ এবং সনাক্ত করার পাশাপাশি, এটি স্বচ্ছ, আধা স্বচ্ছ বা অস্বচ্ছ পদার্থে আরও ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয় কারণ এটি মানুষের দৈনন্দিন অভ্যাসের সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ। একটি খাড়া মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ পর্যবেক্ষণের সময় একটি ইতিবাচক চিত্র তৈরি করে, যা ব্যবহারকারীর পর্যবেক্ষণ এবং বৈষম্যের জন্য দুর্দান্ত সুবিধা নিয়ে আসে। 20-30মিমি উচ্চতা সহ ধাতব নমুনাগুলি বিশ্লেষণ এবং সনাক্ত করার পাশাপাশি, পর্যবেক্ষণ লক্ষ্যমাত্রা 3 মাইক্রনের চেয়ে বড় কিন্তু 20 মাইক্রনের চেয়ে ছোট, যেমন পৃষ্ঠের গঠন এবং সারমেট, ইলেকট্রনিক চিপস, মুদ্রিত সার্কিটগুলির মতো উপাদানগুলির ট্রেস, এলসিডি সাবস্ট্রেট, পাতলা ফিল্ম, ফাইবার, দানাদার বস্তু, আবরণ ইত্যাদি, সবই ভালো ইমেজিং প্রভাব থাকতে পারে।
