ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ এবং মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপের মধ্যে পার্থক্য
ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ স্ক্যান করার নীতি
ElectronMicroscope (SEM) স্ক্যানিং একটি জটিল সিস্টেম। ইলেকট্রনিক অপটিক্স প্রযুক্তি, ভ্যাকুয়াম প্রযুক্তি, সূক্ষ্ম যান্ত্রিক কাঠামো এবং আধুনিক কম্পিউটার নিয়ন্ত্রণ প্রযুক্তি কেন্দ্রীভূত। স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ (SEM) ত্বরিত উচ্চ ভোল্টেজের ক্রিয়াকলাপের অধীনে মাল্টিস্টেজ ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক লেন্সের মাধ্যমে সূক্ষ্ম ইলেকট্রন বিমে ইলেকট্রন বন্দুক দ্বারা নির্গত ইলেকট্রন সংগ্রহ করে। নমুনা পৃষ্ঠ স্ক্যান করা বিভিন্ন তথ্য উদ্দীপিত করতে পারে, যা নমুনা পৃষ্ঠ বিশ্লেষণ করার জন্য প্রাপ্ত, পরিবর্ধিত, প্রদর্শিত এবং চিত্রিত করা যেতে পারে। ঘটনা ইলেক্ট্রনগুলি চিত্র 1-এ দেখানো তথ্যের প্রকারগুলি তৈরি করতে নমুনার সাথে যোগাযোগ করে। এই তথ্যগুলির দ্বি-মাত্রিক তীব্রতা বন্টন নমুনা পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্যগুলির সাথে পরিবর্তিত হয় (এই বৈশিষ্ট্যগুলির মধ্যে রয়েছে পৃষ্ঠের রূপবিদ্যা, গঠন, স্ফটিক অভিযোজন, ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক বৈশিষ্ট্য ইত্যাদি .) বিভিন্ন ডিটেক্টর দ্বারা সংগৃহীত তথ্য ক্রমানুসারে এবং অনুপাতে ভিডিও সংকেতগুলিতে রূপান্তরিত হয় এবং তারপরে এর উজ্জ্বলতা পরিবর্তন করতে সিঙ্ক্রোনাস স্ক্যানিং কাইনস্কোপে প্রেরণ করা হয়, যাতে নমুনার পৃষ্ঠের অবস্থা প্রতিফলিত করে একটি স্ক্যানিং ছবি পাওয়া যায়। যদি ডিটেক্টর দ্বারা প্রাপ্ত সংকেতটি ডিজিটাইজ করা হয় এবং একটি ডিজিটাল সিগন্যালে রূপান্তরিত হয় তবে এটি কম্পিউটার দ্বারা আরও প্রক্রিয়াকরণ এবং সংরক্ষণ করা যেতে পারে। স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ (SEM) প্রধানত বড় উচ্চতার পার্থক্য এবং রুক্ষতা সহ পুরু নমুনাগুলি পর্যবেক্ষণ করতে ব্যবহৃত হয়, তাই এটি নকশায় ক্ষেত্রের প্রভাবের গভীরতা হাইলাইট করে এবং সাধারণত ম্যানুয়াল চিকিত্সা ছাড়াই ফ্র্যাকচার এবং প্রাকৃতিক পৃষ্ঠতল বিশ্লেষণ করতে ব্যবহৃত হয়।
ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ এবং মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ
প্রথমত, আলোর উৎস ভিন্ন: মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ আলোর উৎস হিসেবে দৃশ্যমান আলো ব্যবহার করে এবং স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ ইমেজিংয়ের জন্য আলোর উৎস হিসেবে ইলেক্ট্রন রশ্মি ব্যবহার করে।
দ্বিতীয়ত, নীতিটি ভিন্ন: মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ চিত্রের জন্য জ্যামিতিক অপটিক্স ইমেজিং নীতি ব্যবহার করে, স্ক্যানিং ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ নমুনা পৃষ্ঠে বোমাবর্ষণ করার জন্য উচ্চ-শক্তি ইলেকট্রন রশ্মি ব্যবহার করে, যা নমুনা পৃষ্ঠের বিভিন্ন শারীরিক সংকেতকে উত্তেজিত করে, এবং তারপর বিভিন্ন সংকেত সনাক্তকারী ব্যবহার করে। শারীরিক সংকেত এবং তাদের চিত্র তথ্য রূপান্তর.
তৃতীয়ত, রেজোলিউশন ভিন্ন: আলোর হস্তক্ষেপ এবং বিচ্ছুরণের কারণে, ধাতব অণুবীক্ষণ যন্ত্রের রেজোলিউশন শুধুমাত্র 0।{1}}.5um-এর মধ্যে সীমাবদ্ধ হতে পারে। যেহেতু স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ আলোর উৎস হিসাবে ইলেক্ট্রন রশ্মি ব্যবহার করে, এর রেজোলিউশন 1-3nm এ পৌঁছাতে পারে, তাই মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপের মাইক্রোস্ট্রাকচার পর্যবেক্ষণ মাইক্রোন-স্কেল বিশ্লেষণের অন্তর্গত, এবং স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের মাইক্রোস্ট্রাকচার পর্যবেক্ষণ ন্যানো-স্কেল বিশ্লেষণের অন্তর্গত। .
চতুর্থত, ক্ষেত্রের গভীরতা ভিন্ন: সাধারণত, ধাতব মাইক্রোস্কোপের ক্ষেত্রের গভীরতা 2-3um এর মধ্যে থাকে, তাই নমুনার পৃষ্ঠের মসৃণতা অত্যন্ত বেশি, তাই নমুনা তৈরির প্রক্রিয়া তুলনামূলকভাবে জটিল। অন্যদিকে, স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপটিতে রয়েছে বিশাল গভীরতা, দৃষ্টিশক্তির একটি বিশাল ক্ষেত্র এবং একটি ত্রিমাত্রিক চিত্র, যা সরাসরি বিভিন্ন নমুনার অসম পৃষ্ঠের সূক্ষ্ম গঠন পর্যবেক্ষণ করতে পারে।
