ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ, পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ এবং স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপের মধ্যে পার্থক্য
ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ স্ক্যান করার বৈশিষ্ট্য অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ এবং ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের সাথে তুলনা করে, স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের নিম্নলিখিত বৈশিষ্ট্য রয়েছে:
(1) নমুনার পৃষ্ঠের গঠন সরাসরি পর্যবেক্ষণ করা যেতে পারে, এবং নমুনার আকার 120mm × 80mm × 50mm হিসাবে বড় হতে পারে।
(2) নমুনা তৈরির প্রক্রিয়াটি সহজ এবং কাটার প্রয়োজন নেই।
(3) নমুনাটি নমুনা ঘরে তিনটি মাত্রায় অনুবাদ এবং ঘোরানো যেতে পারে, তাই নমুনাটি বিভিন্ন কোণ থেকে পর্যবেক্ষণ করা যেতে পারে।
(4) ক্ষেত্রের গভীরতা বড়, এবং চিত্রটি ত্রিমাত্রিক অর্থে পূর্ণ। স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের ক্ষেত্রের গভীরতা অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের চেয়ে কয়েকশ গুণ বড় এবং ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের চেয়ে কয়েক ডজন গুণ বড়।
(5) চিত্রটির একটি বিস্তৃত পরিসর এবং উচ্চ রেজোলিউশন রয়েছে। এটি দশ গুণ থেকে কয়েক হাজার বার বিবর্ধিত করা যেতে পারে, যার মধ্যে মূলত বিবর্ধক কাচ, অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ থেকে ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ পর্যন্ত পরিবর্ধন পরিসর অন্তর্ভুক্ত। রেজোলিউশনটি অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ এবং ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের মধ্যে, যা 3nm পর্যন্ত পৌঁছাতে পারে।
(6) ইলেক্ট্রন বিমের নমুনায় কম ক্ষতি এবং দূষণ রয়েছে।
(7) রূপবিদ্যা পর্যবেক্ষণ করার সময়, আমরা মাইক্রো-এরিয়া রচনা বিশ্লেষণের জন্য নমুনা থেকে অন্যান্য সংকেতও ব্যবহার করতে পারি।
পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ
অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (AFM) হল একটি বিশ্লেষণাত্মক যন্ত্র যা ইনসুলেটর সহ কঠিন পদার্থের পৃষ্ঠের গঠন অধ্যয়ন করতে ব্যবহার করা যেতে পারে। এটি পরীক্ষা করার জন্য নমুনার পৃষ্ঠ এবং একটি মাইক্রো ফোর্স সংবেদনশীল উপাদানের মধ্যে অত্যন্ত দুর্বল আন্তঃপরমাণু মিথস্ক্রিয়া সনাক্ত করে পদার্থের পৃষ্ঠের গঠন এবং বৈশিষ্ট্যগুলি অধ্যয়ন করে। একজোড়া মাইক্রো-ক্যান্টিলিভারের এক প্রান্ত, যা দুর্বল বলের জন্য অত্যন্ত সংবেদনশীল, স্থির, এবং অন্য প্রান্তে ক্ষুদ্র সূঁচের ডগা নমুনার কাছাকাছি। এই সময়ে, এটি তাদের সাথে মিথস্ক্রিয়া করবে, এবং বলটি মাইক্রো-ক্যান্টিলিভারগুলিকে বিকৃত করবে বা তাদের গতির অবস্থা পরিবর্তন করবে। নমুনাটি স্ক্যান করার সময়, এই পরিবর্তনগুলি সনাক্ত করার জন্য সেন্সর ব্যবহার করে বল বিতরণের তথ্য প্রাপ্ত করা যেতে পারে, যাতে ন্যানোমিটার রেজোলিউশনের সাথে পৃষ্ঠের আকারবিদ্যা কাঠামোর তথ্য এবং পৃষ্ঠের রুক্ষতা তথ্য পাওয়া যায়।
স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের সাথে তুলনা করে, পারমাণবিক বল মাইক্রোস্কোপের অনেক সুবিধা রয়েছে। ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের বিপরীতে, যা শুধুমাত্র দ্বি-মাত্রিক চিত্র প্রদান করতে পারে, AFM বাস্তব ত্রি-মাত্রিক পৃষ্ঠ মানচিত্র প্রদান করে। একই সময়ে, AFM-এর নমুনার উপর কোনো বিশেষ চিকিত্সার প্রয়োজন নেই, যেমন তামার প্রলেপ বা কার্বন প্রলেপ, যা নমুনার অপরিবর্তনীয় ক্ষতির কারণ হবে। তৃতীয়ত, ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপকে উচ্চ শূন্যে কাজ করতে হবে এবং পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ স্বাভাবিক চাপে এমনকি তরল পরিবেশেও ভালোভাবে কাজ করতে পারে। এটি জৈবিক ম্যাক্রোমোলিকিউলস এবং এমনকি জীবন্ত জৈবিক টিস্যু অধ্যয়ন করতে ব্যবহার করা যেতে পারে। স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপের সাথে তুলনা করে, পারমাণবিক বল মাইক্রোস্কোপের ব্যাপক প্রযোজ্যতা রয়েছে কারণ এটি অ-পরিবাহী নমুনাগুলি পর্যবেক্ষণ করতে পারে। বর্তমানে, বৈজ্ঞানিক গবেষণা এবং শিল্পে ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত স্ক্যানিং ফোর্স মাইক্রোস্কোপ পারমাণবিক বল মাইক্রোস্কোপের উপর ভিত্তি করে তৈরি।
এসটিএম
① উচ্চ-রেজোলিউশন স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপে পারমাণবিক স্তরের স্থানিক রেজোলিউশন রয়েছে, যার অনুভূমিক স্থানিক রেজোলিউশন L এর এবং উল্লম্ব রেজোলিউশন 0.1।
(2) স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপ সরাসরি নমুনার পৃষ্ঠের গঠন সনাক্ত করতে পারে এবং ত্রিমাত্রিক কাঠামোগত চিত্র আঁকতে পারে।
③ স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপ ভ্যাকুয়াম, স্বাভাবিক চাপ, বায়ু এবং এমনকি দ্রবণে পদার্থের গঠন সনাক্ত করতে পারে। যেহেতু উচ্চ-শক্তির ইলেক্ট্রন রশ্মি নেই, এটি পৃষ্ঠের উপর কোন ধ্বংসাত্মক প্রভাব ফেলে না (যেমন বিকিরণ, তাপীয় ক্ষতি ইত্যাদি), তাই এটি শারীরবৃত্তীয় অবস্থার অধীনে জৈবিক ম্যাক্রোমোলিকুলস এবং জীবন্ত কোষের ঝিল্লির পৃষ্ঠের গঠন অধ্যয়ন করতে পারে, এবং নমুনা ক্ষতিগ্রস্ত হবে না এবং অক্ষত থাকবে।
(4) স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপের দ্রুত স্ক্যানিং গতি, সংক্ষিপ্ত ডেটা অধিগ্রহণের সময় এবং দ্রুত ইমেজিংয়ের সুবিধা রয়েছে, তাই জীবন প্রক্রিয়ার উপর গতিশীল গবেষণা চালানো সম্ভব।
⑤ এটির কোন লেন্সের প্রয়োজন নেই এবং এটি আকারে ছোট। কিছু লোক এটিকে "পকেট মাইক্রোস্কোপ" বলে।
