ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ, অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ, স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপের মধ্যে পার্থক্য

Nov 03, 2022

একটি বার্তা রেখে যান

ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ, অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ, স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপের মধ্যে পার্থক্য


ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ, পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ, স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপ। পার্থক্য:


এক. অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ এবং ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের সাথে তুলনা করে, স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপগুলির নিম্নলিখিত বৈশিষ্ট্য রয়েছে:


(1) নমুনার পৃষ্ঠের গঠন সরাসরি পর্যবেক্ষণ করা যেতে পারে, এবং নমুনার আকার 120 মিমি × 80 মিমি × 50 মিমি হিসাবে বড় হতে পারে।


(2) নমুনা তৈরির প্রক্রিয়াটি সহজ এবং পাতলা টুকরোতে কাটার প্রয়োজন নেই।


(3) নমুনাটি নমুনা চেম্বারে ত্রিমাত্রিক স্থানে অনুবাদ এবং ঘোরানো যেতে পারে, তাই নমুনাটি বিভিন্ন কোণ থেকে পর্যবেক্ষণ করা যেতে পারে।


(4) ক্ষেত্রের গভীরতা বড়, এবং চিত্রটি ত্রিমাত্রিক প্রভাবে পূর্ণ। একটি স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের ক্ষেত্রের গভীরতা একটি অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের চেয়ে শতগুণ বড় এবং একটি ট্রান্সমিশন ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপের চেয়ে কয়েক ডজন গুণ বড়।


(5) চিত্রের বিবর্ধন পরিসর প্রশস্ত এবং রেজোলিউশন তুলনামূলকভাবে বেশি। এটি দশ গুণ থেকে কয়েক হাজার বার পর্যন্ত বিবর্ধিত করা যেতে পারে এবং এতে মূলত ম্যাগনিফাইং গ্লাস, অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ থেকে ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ পর্যন্ত বিবর্ধন পরিসর অন্তর্ভুক্ত রয়েছে। রেজোলিউশনটি অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপ এবং ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের মধ্যে, 3nm পর্যন্ত।


(6) ইলেক্ট্রন রশ্মি দ্বারা নমুনার ক্ষতি এবং দূষণ ছোট।


(7) রূপবিদ্যা পর্যবেক্ষণ করার সময়, নমুনা থেকে অন্যান্য সংকেতগুলিও মাইক্রো-এরিয়া রচনা বিশ্লেষণের জন্য ব্যবহার করা যেতে পারে।


2. পারমাণবিক বল মাইক্রোস্কোপ


অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (AFM), একটি বিশ্লেষণাত্মক যন্ত্র যা ইনসুলেটর সহ কঠিন পদার্থের পৃষ্ঠের গঠন অধ্যয়ন করতে ব্যবহার করা যেতে পারে। এটি পরীক্ষিত নমুনার পৃষ্ঠ এবং একটি ক্ষুদ্র বল-সংবেদনশীল উপাদানের মধ্যে অত্যন্ত দুর্বল আন্তঃপরমাণু মিথস্ক্রিয়া বল সনাক্ত করে পদার্থের পৃষ্ঠের গঠন এবং বৈশিষ্ট্যগুলি অধ্যয়ন করে। অত্যন্ত সংবেদনশীল মাইক্রো-ক্যান্টিলিভারের একটি জোড়ার এক প্রান্ত স্থির করা হয়েছে এবং অন্য প্রান্তের মাইক্রো-টিপটি নমুনার কাছাকাছি। এই সময়ে, এটি এটির সাথে মিথস্ক্রিয়া করবে এবং বলটি মাইক্রো-ক্যান্টিলিভারকে বিকৃত করতে বা তার গতির অবস্থাকে পরিবর্তন করবে। যখন নমুনাটি স্ক্যান করা হয়, তখন এই পরিবর্তনগুলি সনাক্ত করতে সেন্সর ব্যবহার করা হয় এবং বল বন্টন তথ্য প্রাপ্ত করা যেতে পারে, যাতে ন্যানোমিটার রেজোলিউশনের সাথে পৃষ্ঠের টপোগ্রাফি কাঠামোর তথ্য এবং পৃষ্ঠের রুক্ষতার তথ্য পাওয়া যায়।


স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের সাথে তুলনা করে, পারমাণবিক বল মাইক্রোস্কোপের অনেক সুবিধা রয়েছে। ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের বিপরীতে, যা শুধুমাত্র দ্বি-মাত্রিক চিত্র প্রদান করতে পারে, এএফএম সত্য ত্রি-মাত্রিক পৃষ্ঠ মানচিত্র প্রদান করে। একই সময়ে, AFM-এর নমুনার কোনো বিশেষ চিকিত্সার প্রয়োজন হয় না, যেমন তামার প্রলেপ বা কার্বন, যা নমুনার অপরিবর্তনীয় ক্ষতি করতে পারে। তৃতীয়ত, ইলেক্ট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্রগুলিকে উচ্চ ভ্যাকুয়াম অবস্থায় কাজ করতে হবে এবং পারমাণবিক বল অণুবীক্ষণ যন্ত্রগুলি স্বাভাবিক চাপে এমনকি তরল পরিবেশেও ভাল কাজ করতে পারে। এটি জৈবিক ম্যাক্রোমোলিকিউলস এবং এমনকি জীবন্ত জৈবিক টিস্যু অধ্যয়ন করতে ব্যবহার করা যেতে পারে। স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপের সাথে তুলনা করে, পারমাণবিক বল মাইক্রোস্কোপের ব্যাপক প্রযোজ্যতা রয়েছে কারণ এটি অ-পরিবাহী নমুনাগুলি পর্যবেক্ষণ করতে পারে। স্ক্যানিং ফোর্স মাইক্রোস্কোপ, যা বৈজ্ঞানিক গবেষণা এবং শিল্পে ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয়, এটি পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপের উপর ভিত্তি করে তৈরি।


3. স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপ


① উচ্চ রেজোলিউশন স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপির পারমাণবিক-স্তরের স্থানিক রেজোলিউশন রয়েছে, যার পার্শ্বীয় স্থানিক রেজোলিউশন 1 এবং একটি অনুদৈর্ঘ্য রেজোলিউশন 0.1।


② স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপ সরাসরি নমুনার পৃষ্ঠের গঠন সনাক্ত করতে পারে এবং একটি ত্রিমাত্রিক গঠন চিত্র আঁকতে পারে।


③ স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপি ভ্যাকুয়াম, বায়ুমণ্ডলীয় চাপ, বায়ু এবং এমনকি সমাধানে পদার্থের গঠন সনাক্ত করতে পারে। যেহেতু উচ্চ-শক্তির ইলেক্ট্রন রশ্মি নেই, পৃষ্ঠের কোন ক্ষতি নেই (যেমন বিকিরণ, তাপীয় ক্ষতি ইত্যাদি), তাই শারীরবৃত্তীয় অবস্থার অধীনে জৈবিক ম্যাক্রোমোলিকুলস এবং জীবন্ত কোষের ঝিল্লি পৃষ্ঠের গঠন অধ্যয়ন করা যেতে পারে, এবং নমুনাগুলি ক্ষতিগ্রস্থ হবে না এবং অক্ষত থাকবে।


④ স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপের স্ক্যানিং গতি দ্রুত, ডেটা অধিগ্রহণের জন্য সময় কম, এবং ইমেজিংও দ্রুত, এবং জীবন প্রক্রিয়াগুলির গতিগত অধ্যয়ন চালানো সম্ভব।


⑤ এটির কোনো লেন্সের প্রয়োজন নেই এবং আকারে ছোট। কিছু লোক এটিকে "পকেট মাইক্রোস্কোপ" বলে।


5. Digital Soldering microscope

অনুসন্ধান পাঠান