অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (AFM) সিস্টেম স্ট্রাকচার
1. বল সনাক্তকরণ বিভাগ:
পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপি (AFM) সিস্টেমে, পরমাণুর মধ্যে ভ্যান ডার ওয়ালস বল সনাক্ত করা হবে। সুতরাং এই সিস্টেমে, একটি ক্যান্টিলিভার ব্যবহার করা হয় পরমাণুর মধ্যে শক্তির পরিবর্তন সনাক্ত করতে। এই মাইক্রো ক্যান্টিলিভারের কিছু নির্দিষ্ট বৈশিষ্ট্য রয়েছে, যেমন দৈর্ঘ্য, প্রস্থ, স্থিতিস্থাপকতা সহগ এবং সূঁচের ডগা আকৃতি, এবং এই বৈশিষ্ট্যগুলির নির্বাচন নমুনার বৈশিষ্ট্য এবং বিভিন্ন অপারেটিং মোডের উপর ভিত্তি করে এবং বিভিন্ন ধরণের প্রোব নির্বাচন করা হয়।
2 অবস্থান সনাক্তকরণ বিভাগ:
পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপি (AFM) সিস্টেমে, যখন সুচের ডগা এবং নমুনার মধ্যে মিথস্ক্রিয়া হয়, তখন ক্যান্টিলিভার ক্যান্টিলিভার দুলবে। অতএব, যখন ক্যান্টিলিভারের শেষে লেজার বিকিরণ করা হয়, তখন প্রতিফলিত আলোর অবস্থানও ক্যান্টিলিভার সুইংয়ের কারণে পরিবর্তিত হবে, যার ফলে অফসেট তৈরি হবে। পুরো সিস্টেমে, লেজার স্পট পজিশন ডিটেক্টর অফসেট রেকর্ড করতে এবং এসপিএম কন্ট্রোলার দ্বারা সংকেত প্রক্রিয়াকরণের জন্য এটিকে বৈদ্যুতিক সংকেতে রূপান্তর করতে ব্যবহৃত হয়।
3 ফিডব্যাক সিস্টেম:
অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (AFM) সিস্টেমে, একটি লেজার ডিটেক্টর দ্বারা সংকেত নেওয়ার পরে, এটি ফিডব্যাক সিস্টেমে একটি অভ্যন্তরীণ সমন্বয় সংকেত হিসাবে প্রতিক্রিয়া সংকেত হিসাবে ব্যবহৃত হয় এবং সাধারণত পাইজোইলেকট্রিক সিরামিক টিউব দিয়ে তৈরি স্ক্যানারটিকে সরানোর জন্য চালিত করে। নমুনা এবং সুই ডগা মধ্যে উপযুক্ত বল বজায় রাখার জন্য যথাযথভাবে.
পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপি (AFM) নমুনার পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্যগুলি উপস্থাপন করতে উপরের তিনটি অংশকে একত্রিত করে: AFM সিস্টেমে, একটি ক্ষুদ্র ক্যান্টিলিভার ব্যবহার করা হয় সুচের ডগা এবং নমুনার মধ্যে মিথস্ক্রিয়া বোঝার জন্য। এই বলটি ক্যান্টিলিভারকে সুইং করতে দেয় এবং তারপরে লেজারটি ক্যান্টিলিভারের শেষকে বিকিরণ করতে ব্যবহৃত হয়। যখন সুইং গঠিত হয়, প্রতিফলিত আলোর অবস্থান পরিবর্তিত হবে, যার ফলে একটি অফসেট হবে। এই সময়ে, লেজার ডিটেক্টর এই অফসেটটি রেকর্ড করবে এবং সিস্টেমের উপযুক্ত সমন্বয়ের সুবিধার্থে এই সময়ে সংকেত সহ প্রতিক্রিয়া সিস্টেম প্রদান করবে। অবশেষে, নমুনার পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্যগুলি একটি চিত্র আকারে উপস্থাপন করা হবে।
