ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ কর্মক্ষমতা বৈশিষ্ট্য স্ক্যান করার একটি ভূমিকা
বিভিন্ন ধরণের স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ রয়েছে এবং বিভিন্ন ধরণের স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের বিভিন্ন পারফরম্যান্স রয়েছে। ইলেক্ট্রন বন্দুকের ধরন অনুসারে, একে তিন প্রকারে ভাগ করা যায়: ফিল্ড এমিশন ইলেক্ট্রন বন্দুক, টাংস্টেন তারের বন্দুক এবং ল্যান্থানাম হেক্সাবোরাইড [৫]। এর মধ্যে, ক্ষেত্র নির্গমন স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপিকে আলোর উত্সের কার্যকারিতা অনুসারে ঠান্ডা ক্ষেত্র নির্গমন স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি এবং তাপীয় ক্ষেত্র নির্গমন স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপিতে ভাগ করা যেতে পারে। ঠান্ডা ক্ষেত্র নির্গমন স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের জন্য উচ্চ ভ্যাকুয়াম অবস্থার প্রয়োজন, মরীচি কারেন্ট অস্থির, ইমিটারের একটি সংক্ষিপ্ত পরিষেবা জীবন রয়েছে এবং সুচের ডগা নিয়মিত পরিষ্কার করা প্রয়োজন, যা একটি একক চিত্র পর্যবেক্ষণের মধ্যে সীমাবদ্ধ, এবং অ্যাপ্লিকেশন পরিসীমা হল সীমিত তাপীয় ক্ষেত্র নির্গমন স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ শুধুমাত্র অবিচ্ছিন্ন নয়, এটি দীর্ঘ সময়ের জন্য কাজ করতে পারে, এবং এটি ব্যাপক বিশ্লেষণ অর্জনের জন্য বিভিন্ন জিনিসপত্রের সাথেও মিলিত হতে পারে। ভূতত্ত্বের ক্ষেত্রে, আমাদের কেবল নমুনার প্রাথমিক রূপবিদ্যা পর্যবেক্ষণ করতে হবে না, বিশ্লেষকের সাথে সংমিশ্রণে নমুনার অন্যান্য বৈশিষ্ট্যগুলিও বিশ্লেষণ করতে হবে, তাই তাপীয় ক্ষেত্র নির্গমন স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ আরও ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয়।
স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ (SEM) উচ্চ-রেজোলিউশন মাইক্রো-ডোমেন আকারবিদ্যা বিশ্লেষণের জন্য একটি বড় নির্ভুল যন্ত্র। এটির ক্ষেত্রের বড় গভীরতা, উচ্চ রেজোলিউশন, স্বজ্ঞাত ইমেজিং, শক্তিশালী স্টেরিওস্কোপিক প্রভাব, বিস্তৃত পরিসরের বৈশিষ্ট্য রয়েছে এবং পরীক্ষা করা নমুনাটি ত্রিমাত্রিক স্থানে ঘোরানো এবং কাত করা যেতে পারে। এছাড়াও, এটির বিভিন্ন ধরণের পরিমাপযোগ্য নমুনার সুবিধা রয়েছে, মূল নমুনার প্রায় কোনও ক্ষতি এবং দূষণ নেই এবং একই সাথে রূপবিদ্যা, গঠন, রচনা এবং ক্রিস্টালোগ্রাফিক তথ্যের অধিগ্রহণ। বর্তমানে, স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি জীবন বিজ্ঞান, পদার্থবিদ্যা, রসায়ন, ন্যায়বিচার, পৃথিবী বিজ্ঞান, পদার্থ বিজ্ঞান এবং শিল্প উৎপাদনের ক্ষেত্রে মাইক্রোস্কোপিক গবেষণায় ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয়েছে। , সেডিমেন্টোলজি, জিওকেমিস্ট্রি, জেমোলজি, মাইক্রোপ্যালিওন্টোলজি, অ্যাস্ট্রোজিওলজি, অয়েল অ্যান্ড গ্যাস জিওলজি, ইঞ্জিনিয়ারিং জিওলজি এবং স্ট্রাকচারাল জিওলজি ইত্যাদি।
যদিও স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ মাইক্রোস্কোপ পরিবারের একটি উদীয়মান তারকা, এর অনেক সুবিধার কারণে, বিকাশের গতি খুব দ্রুত।
1. যন্ত্রটির রেজোলিউশন তুলনামূলকভাবে বেশি, এবং নমুনার পৃষ্ঠে প্রায় 6nm এর বিশদ বিবরণ সেকেন্ডারি ইলেক্ট্রন চিত্রের মাধ্যমে পর্যবেক্ষণ করা যেতে পারে, যা একটি LaB6 ইলেক্ট্রন বন্দুক ব্যবহার করে 3nm-এ আরও উন্নত করা যেতে পারে।
2 যন্ত্রের বিবর্ধনের একটি বিস্তৃত পরিসর রয়েছে এবং ক্রমাগত সমন্বয় করা যেতে পারে। তাই, চাহিদা অনুযায়ী পর্যবেক্ষণের জন্য বিভিন্ন দর্শনের ক্ষেত্র নির্বাচন করা যেতে পারে, এবং একই সময়ে, উচ্চ উজ্জ্বলতা সহ পরিষ্কার চিত্র, যা সাধারণ ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের মাধ্যমে অর্জন করা কঠিন, উচ্চ বিবর্ধনের অধীনেও প্রাপ্ত করা যেতে পারে।
3 নমুনাটি পর্যবেক্ষণ করলে ক্ষেত্রটির একটি বড় গভীরতা রয়েছে, একটি বিশাল ক্ষেত্র রয়েছে এবং চিত্রটি ত্রিমাত্রিকতায় পূর্ণ। এটি সরাসরি বৃহৎ অন্ডুলেশন এবং নমুনার অমসৃণ ধাতব ফাটল চিত্র সহ রুক্ষ পৃষ্ঠকে পর্যবেক্ষণ করতে পারে, যা মানুষকে অনুবীক্ষণ জগতের মতো অনুভব করে।
4. নমুনা প্রস্তুতি সহজ. যতক্ষণ পর্যন্ত ব্লক বা পাউডার নমুনা সামান্য প্রক্রিয়া করা হয় বা প্রক্রিয়া করা হয় না, এটি সরাসরি পর্যবেক্ষণের জন্য স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপে স্থাপন করা যেতে পারে, তাই এটি উপাদানের প্রাকৃতিক অবস্থার কাছাকাছি।
5 এটি কার্যকরভাবে ইলেকট্রনিক পদ্ধতির মাধ্যমে চিত্রের গুণমান নিয়ন্ত্রণ এবং উন্নত করতে পারে, যেমন উজ্জ্বলতা এবং বৈসাদৃশ্যের স্বয়ংক্রিয় রক্ষণাবেক্ষণ, নমুনা কাত কোণ সংশোধন, চিত্র ঘূর্ণন, বা Y মডুলেশনের মাধ্যমে চিত্রের বৈসাদৃশ্যের সহনশীলতা উন্নত করা এবং বিভিন্ন অংশের উজ্জ্বলতা এবং অন্ধকার। ইমেজ মাঝারি. একটি ডবল ম্যাগনিফিকেশন ডিভাইস বা একটি ইমেজ সিলেক্টর ব্যবহার করে, একই সময়ে ফ্লুরোসেন্ট স্ক্রিনে বিভিন্ন ম্যাগনিফিকেশন সহ ছবিগুলি লক্ষ্য করা যায়।
ব্যাপক বিশ্লেষণের জন্য 6. একটি তরঙ্গদৈর্ঘ্য বিচ্ছুরণকারী এক্স-রে স্পেকট্রোমিটার (WDX) বা একটি শক্তি বিচ্ছুরণকারী এক্স-রে স্পেকট্রোমিটার (EDX) ইনস্টল করুন যাতে এটি একটি ইলেকট্রন প্রোবের কাজ করে এবং এটি প্রতিফলিত ইলেকট্রন, এক্স-রে, ক্যাথোডোফ্লুরেসেন্স, ট্রান্সমিটেড ইলেকট্রন, Auger ইলেকট্রন সনাক্ত করতে পারে। ইত্যাদি। বিভিন্ন মাইক্রোস্কোপিক এবং মাইক্রো-এরিয়া বিশ্লেষণ পদ্ধতিতে স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপির প্রয়োগকে প্রসারিত করা ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি স্ক্যান করার বহুমুখিতা দেখায়। উপরন্তু, টপোগ্রাফি ইমেজ পর্যবেক্ষণ করার সময় এটি নমুনার ঐচ্ছিক মাইক্রো-অঞ্চলও বিশ্লেষণ করতে পারে; সেমিকন্ডাক্টর নমুনা ধারক আনুষঙ্গিক ইনস্টল করুন, এবং ইলেক্ট্রোমোটিভ ফোর্স ইমেজ অ্যামপ্লিফায়ারের মাধ্যমে ট্রানজিস্টর বা ইন্টিগ্রেটেড সার্কিটে PN জংশন এবং মাইক্রোস্কোপিক ত্রুটিগুলি সরাসরি পর্যবেক্ষণ করুন। যেহেতু অনেক স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ ইলেকট্রনিক প্রোব ইলেকট্রনিক কম্পিউটার স্বয়ংক্রিয় এবং আধা-স্বয়ংক্রিয় নিয়ন্ত্রণ উপলব্ধি করেছে, তাই পরিমাণগত বিশ্লেষণের গতি ব্যাপকভাবে উন্নত হয়েছে।
