1. বিভিন্ন আলো উৎস
মাইক্রোস্কোপে ব্যবহৃত আলোকসজ্জার উৎস হল ইলেকট্রন বন্দুক দ্বারা নির্গত ইলেকট্রন প্রবাহ এবং অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের আলোকসজ্জার উৎস দৃশ্যমান আলো (সূর্যের আলো বা আলো)। যেহেতু উপ-প্রবাহের তরঙ্গদৈর্ঘ্য আলোর তরঙ্গের তরঙ্গদৈর্ঘ্যের চেয়ে অনেক কম, তাই ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের বিবর্ধন এবং রেজোলিউশন আলোর আয়নার তুলনায় উল্লেখযোগ্যভাবে বেশি। .
2. বিভিন্ন লেন্স
ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপে যে বস্তুনিষ্ঠ লেন্সটি বড় করে তা হল একটি ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক লেন্স (একটি রিং-আকৃতির ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক কয়েল যা কেন্দ্রে একটি চৌম্বক ক্ষেত্র তৈরি করতে পারে), এবং অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের অবজেক্টিভ লেন্স হল কাচের তৈরি একটি অপটিক্যাল লেন্স। ইলেকট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্রে ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক লেন্সের তিনটি গ্রুপ রয়েছে, যা অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপে কনডেনসার অবজেক্টিভ এবং আইপিসের ফাংশনের সমতুল্য।
3. বিভিন্ন ইমেজিং নীতি
ইলেক্ট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্রে, যে ইলেকট্রন রশ্মি পরিদর্শনের জন্য নমুনার উপর কাজ করে তা ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক লেন্স দ্বারা বিবর্ধিত হয় এবং তারপর ইমেজ করার জন্য একটি ফ্লুরোসেন্ট স্ক্রীনে আঘাত করে বা ইমেজিংয়ের জন্য একটি আলোক সংবেদনশীল ফিল্মে কাজ করে। ইলেক্ট্রন ঘনত্বের পার্থক্যের প্রক্রিয়া হল যে ইলেক্ট্রন রশ্মি যখন পরীক্ষা করার জন্য নমুনার উপর কাজ করে, তখন ঘটনা ইলেকট্রনগুলি পদার্থের পরমাণুর সাথে ধাক্কা খেয়ে বিক্ষিপ্তকরণ তৈরি করে এবং নমুনার বিভিন্ন অংশে ইলেকট্রনের জন্য বিভিন্ন বিক্ষিপ্ত ডিগ্রী থাকে, তাই নমুনার ইলেক্ট্রন ইমেজ ছায়ায় উপস্থাপিত হয়। অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপে নমুনার অবজেক্ট ইমেজটি উজ্জ্বলতার পার্থক্যের সাথে উপস্থাপন করা হয়, যা নমুনার বিভিন্ন কাঠামোর দ্বারা শোষিত আলোর পরিমাণের পার্থক্যের কারণে ঘটে।
4. রেজোলিউশন
আলোর হস্তক্ষেপ এবং বিচ্ছুরণের কারণে, অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের রেজোলিউশন শুধুমাত্র 02-05um-এ সীমাবদ্ধ হতে পারে। কারণ ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ আলোর উৎস হিসেবে ইলেকট্রন বিম ব্যবহার করে, ব্যর্থতার হার 1 থেকে 3 এনএম-এর মধ্যে পৌঁছাতে পারে। অতএব, অপটিক্যাল অণুবীক্ষণ যন্ত্রের টিস্যু পর্যবেক্ষণ মাইক্রোন-স্তরের বিশ্লেষণের অন্তর্গত, এবং ইলেক্ট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্রের টিস্যু পর্যবেক্ষণ ন্যানো-স্তরের বিশ্লেষণের অন্তর্গত।
5. ক্ষেত্রের গভীরতা
সাধারণত, একটি অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের ক্ষেত্রের গভীরতা 2-3um-এর মধ্যে থাকে, তাই নমুনার পৃষ্ঠের মসৃণতা অত্যন্ত চাহিদাপূর্ণ, তাই নমুনা তৈরির প্রক্রিয়া তুলনামূলকভাবে জটিল। SEM-এর স্পিরিট কয়েক মিটার পর্যন্ত উচ্চ হতে পারে, তাই নমুনা পৃষ্ঠের জ্যামিতির মসৃণতার জন্য কোন প্রয়োজন নেই, নমুনা প্রস্তুতি তুলনামূলকভাবে সহজ, এবং কিছু নমুনা জ্যামিতির নমুনা প্রস্তুতির প্রয়োজন হয় না। স্টেরিও অণুবীক্ষণ যন্ত্রের ক্ষেত্রের তুলনামূলকভাবে বড় গভীরতা রয়েছে, তবে তাদের রেজোলিউশন খুবই কম।
6. বিভিন্ন নমুনা প্রস্তুতির পদ্ধতি ব্যবহার করা হয়
সাবমাইক্রোস্কোপিক পর্যবেক্ষণের জন্য ব্যবহৃত টিস্যু এবং কোষের নমুনা তৈরির পদ্ধতিটি জটিল, উচ্চ প্রযুক্তিগত অসুবিধা এবং খরচ সহ। স্যাম্পলিং, ফিক্সেশন, ডিহাইড্রেশন এবং এম্বেডিংয়ের ধাপে বিশেষ রিএজেন্ট এবং অপারেশন প্রয়োজন। অবশেষে, এমবেড করা টিস্যু ব্লকগুলিকে 50 ~ 100nm পুরুত্বের সাথে অতি সূক্ষ্ম নমুনাগুলিতে কাটার জন্য এটিকে একটি আল্ট্রামাইক্রোটোমে রাখতে হবে। হালকা মাইক্রোস্কোপি দ্বারা পর্যবেক্ষণ করা নমুনাগুলি সাধারণত কাচের স্লাইডে স্থাপন করা হয়, যেমন সাধারণ টিস্যু স্লাইস নমুনা, কোষের স্মিয়ার নমুনা, টিস্যু চাপা নমুনা এবং সেল ড্রপ নমুনা।
7. ম্যাগনিফিকেশন
অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপের কার্যকরী বিবর্ধন হল 1000X। একটি ভাল বৈদ্যুতিক মাইক্রোস্কোপের কার্যকর বিবর্ধন 1000,000X পৌঁছাতে পারে।
